[發(fā)明專利]隧道附屬物幾何特征測量方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201711142981.3 | 申請日: | 2017-11-17 |
| 公開(公告)號(hào): | CN109798830B | 公開(公告)日: | 2020-09-08 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 高志強(qiáng);郭春生;程勝一;劉蝶;王令文;許正文 | 申請(專利權(quán))人: | 上海勘察設(shè)計(jì)研究院(集團(tuán))有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01B11/00 | 分類號(hào): | G01B11/00 |
| 代理公司: | 上海伯瑞杰知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 31227 | 代理人: | 李慶 |
| 地址: | 200093*** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 隧道 附屬物 幾何 特征 測量方法 | ||
1.一種隧道附屬物幾何特征測量方法,包括步驟:
S1:利用移動(dòng)激光掃描裝置獲取一目標(biāo)隧道的激光點(diǎn)云數(shù)據(jù),所述激光點(diǎn)云數(shù)據(jù)包括多個(gè)掃描點(diǎn)的特征數(shù)據(jù)集;所述特征數(shù)據(jù)集包括與當(dāng)前所述掃描點(diǎn)對應(yīng)的行列號(hào)信息、三維坐標(biāo)和激光強(qiáng)度值;
S2:根據(jù)所述激光點(diǎn)云數(shù)據(jù)生成一隧道平面影像,并建立所述隧道平面影像上的各點(diǎn)所對應(yīng)的一坐標(biāo)公式;
S3:測量所述隧道平面影像上一目標(biāo)點(diǎn)的平面坐標(biāo);
S4:根據(jù)所述坐標(biāo)公式獲得所述目標(biāo)點(diǎn)的所述行列號(hào)信息;
S5:根據(jù)所述目標(biāo)點(diǎn)的所述行列號(hào)信息獲得所述目標(biāo)點(diǎn)的所述三維坐標(biāo);
S6:重復(fù)步驟S3~S5獲得多個(gè)所需的所述目標(biāo)點(diǎn)的所述三維坐標(biāo),并根據(jù)所述三維坐標(biāo)計(jì)算任意兩所述目標(biāo)點(diǎn)間的距離;
所述坐標(biāo)公式為:
其中,xn是第n個(gè)所述目標(biāo)點(diǎn)的平面坐標(biāo)的x軸坐標(biāo)值;yn是第n個(gè)所述目標(biāo)點(diǎn)的平面坐標(biāo)的y軸坐標(biāo)值;xn-1是第n-1個(gè)所述目標(biāo)點(diǎn)的平面坐標(biāo)的x軸坐標(biāo)值;yn-1是第n-1個(gè)所述目標(biāo)點(diǎn)的平面坐標(biāo)的y軸坐標(biāo)值;Cn是第n個(gè)斷面行號(hào),Rn是第n個(gè)所述斷面的列號(hào),Cn-1是第n-1個(gè)所述斷面行號(hào),Rn-1是第n-1個(gè)所述斷面的列號(hào);第n個(gè)所述目標(biāo)點(diǎn)所對應(yīng)的所述行列號(hào)信息表示為(Cn、Rn);V為相鄰所述斷面的里程差;δ為同一所述斷面內(nèi)各所述掃描點(diǎn)之間的間距。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的隧道附屬物幾何特征測量方法,其特征在于,所述相鄰所述斷面的里程差V和同一所述斷面內(nèi)各所述掃描點(diǎn)之間的間距δ滿足一公式(2):
其中,v為所述移動(dòng)激光掃描裝置沿所述目標(biāo)隧道前進(jìn)方向的速度;n為所述移動(dòng)激光掃描裝置每秒掃描的斷面數(shù);l為當(dāng)前所述斷面的周長;num為當(dāng)前所述斷面內(nèi)的所述掃描點(diǎn)的個(gè)數(shù)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的隧道附屬物幾何特征測量方法,其特征在于,所述S2步驟中:根據(jù)所述行列號(hào)信息和所述激光強(qiáng)度值投影生成所述隧道平面影像。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的隧道附屬物幾何特征測量方法,其特征在于,所述S5步驟中:根據(jù)所述目標(biāo)點(diǎn)的所述行列號(hào)信息自所述激光點(diǎn)云數(shù)據(jù)中索引獲得所述目標(biāo)點(diǎn)的所述三維坐標(biāo)。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的隧道附屬物幾何特征測量方法,其特征在于,所述S6步驟中:根據(jù)一公式(3)計(jì)算所述任意兩目標(biāo)點(diǎn)間的距離,所述任意兩目標(biāo)點(diǎn)包括一第一目標(biāo)點(diǎn)和一第二目標(biāo)點(diǎn):
其中,S為所述第一目標(biāo)點(diǎn)和所述第二目標(biāo)點(diǎn)之間的實(shí)際距離;X1為所述第一目標(biāo)點(diǎn)的三維坐標(biāo)中x軸的坐標(biāo)值;Y1為所述第一目標(biāo)點(diǎn)的三維坐標(biāo)中y軸的坐標(biāo)值;Z1為所述第一目標(biāo)點(diǎn)的三維坐標(biāo)中z軸的坐標(biāo)值;X2為所述第二目標(biāo)點(diǎn)的三維坐標(biāo)中x軸的坐標(biāo)值;Y2為所述第二目標(biāo)點(diǎn)的三維坐標(biāo)中y軸的坐標(biāo)值;Z2為所述第二目標(biāo)點(diǎn)的三維坐標(biāo)中z軸的坐標(biāo)值。
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