[發明專利]具有正交加速的多次反射飛行時間質譜儀

有效

• 申請號: 201711141044.6
• 申請日: 2006-10-11
• 公開（公告）號: CN107833823B
• 公開（公告）日: 2021-09-17
• 發明（設計）人: A·N·沃恩特奇科夫;M·I·雅格;Y·卡·辛
• 申請（專利權）人: 萊克公司
• 主分類號: H01J49/40
• 分類號: H01J49/40
• 代理公司: 中國貿促會專利商標事務所有限公司 11038
• 代理人: 張榮海

本發明公開了一種具有正交加速的多次反射飛行時間質譜儀(MR?TOF MS)(11)，包括一對無網格離子鏡(12)、漂移空間(13)、正交離子加速器(14)、可任選的偏轉器(15)、離子檢測器(16)、周期透鏡組(17)、以及邊緣偏轉器(18)。為提高MR?TOF MS中的由長飛行限定的低重復率的離子注入的占空比，可進行多路測量。輸入的離子束和加速器可以基本取向為穿過MR?TOF中的離子路徑，同時通過傾斜加速器以及使離子束轉向相同角度對離子束的初始速度進行補償。可通過離子導向器對軸向離子速度進行調制來對離子束進行時間壓縮。可通過將離子束捕獲在靜電阱中來提高離子在加速器中的駐留時間。在加速器中具有延長駐留時間的設備對靈敏度和分辨率均進行了提高。

本申請是中國專利申請號為201510519226.7、申請日為2006年10月11日、名稱為“具有正交加速的多次反射飛行時間質譜儀”的發明專利申請的分案申請，該分案申請又是中國專利申請號為200680045703.X、申請日為2006年10月11日的PCT申請PCT/US2006/039464的、名稱為“具有正交加速的多次反射飛行時間質譜儀”的發明專利申請的分案申請。

技術領域

本發明總的來講涉及質譜分析的領域，更具體地講，本發明涉及包括多次反射飛行時間質譜儀(MR-TOF MS)的方法和設備、以及提高低重復率的正交注入的占空比的方法和設備。

背景技術

飛行時間質譜儀(TOF MS)變得越來越流行，既作為獨立儀器又作為諸如Q-TOF或TOF-TOF之類的質譜串聯配置的一部分。它們提供高速度、靈敏度、分辨能力(分辨率)以及質量準確度的唯一組合。最近引入的多次反射飛行時間(MR-TOF)質譜儀顯示了10⁵之上的分辨率的實質上升(見由Michisato Toyoda、Daisuke Okumura、Morio Ishihara和ItsuKatakuse所著的題目為“Multi-Turn Time-of-Flight Mass Spectrometers withElectrostatic Sectors(具有靜電區的多次反射飛行時間質譜儀)”的在J.MassSpectrom.38(2003)pp.1125-1142中發表的出版物和由Verentchikov等人所著的在Russian Journal of Technical Physics(JTP),2005vol.50，No.1，pp.76-88中發表的出版物)。

在由發明人提交的共同未決國際PCT專利申請(WO2005/001878A2)中，建議了一種具有平面幾何構型和周期聚焦透鏡組的MR-TOF。該多次反射方案對飛行路徑基本上進行了延伸，并且由此提高了分辨率，同時該平面(基本2D)幾何構型允許保留全部質量范圍。位于MR-TOF的無場空間內的周期透鏡沿著主要豎鋸狀(jig-saw)軌跡對離子運動提供了穩定限制。為了將MR-TOF耦合到連續離子束，建議采用充氣無線電頻率(RF)離子阱在MR-TOF的稀疏脈沖之間累積離子。