[發明專利]一種頻點測量方法、測量配置方法、終端及基站

有效

• 申請號: 201711138930.3
• 申請日: 2017-11-16
• 公開（公告）號: CN109803303B
• 公開（公告）日: 2022-10-04
• 發明（設計）人: 陳晶晶;童輝
• 申請（專利權）人: 中國移動通信有限公司研究院;中國移動通信集團公司
• 主分類號: H04W24/08
• 分類號: H04W24/08;H04W24/10
• 代理公司: 北京銀龍知識產權代理有限公司 11243
• 代理人: 許靜;安利霞

本發明提供一種頻點測量方法、測量配置方法、終端及基站，該方法包括：接收基站發送的至少兩個測量間隔配置信息；其中，所述測量間隔配置信息包括：測量間隔周期、測量間隔持續時間以及測量間隔的起始偏移值中的一個或多個；利用所述至少兩個測量間隔配置信息，對待測頻點進行測量；本發明實施例能夠避免終端僅基于一個測量配置信息對所有頻點進行測量，解決了NR測量配置與LTE測量配置無法匹配給終端的測量行為和系統性能帶來的問題，提升測量結果的準確性，從而保證系統的移動性能。

技術領域

本發明涉及通信技術領域，特別是指一種頻點測量方法、測量配置方法、終端及基站。

背景技術

在LTE(長期演進)中，測量參考符號是always-on(永遠在線)的發送方式，即每個子幀每個物理資源塊PRB中都含有測量參考符號。從終端功耗角度和對本小區的服務連續性角度考慮，LTE定義了兩種測量間隔方案：

方案1：測量間隔周期為40ms，測量間隔長度為6ms；

方案2：測量間隔周期為80ms，測量間隔長度為6ms。

終端采用網絡配置的測量間隔方案進行測量。

在5G中，測量參考符號不再采用always-on的發送方式。以NR-SSS為例，發送周期有如下多種可能{5ms,10ms,20ms,40ms,80ms,160ms}。如果NR頻點的測量周期包括160ms，會對終端的測量行為產生影響。例如，LTE頻點的測量周期為40ms，而NR頻點的參考符號發送周期為160ms，終端采用何種測量周期進行測量；如果終端采用160ms的測量周期，首先LTE沒有相關指標，對協議改動過大；其次增加測量時延對移動性產生影響。如果終端采用40ms的測量周期，會造成抽樣不準確，影響測量結果，從而影響系統移動性。

具體而言，某些NR的測量間隔配置不能適用于LTE。另外，也存在LTE的測量間隔配置不能適用于NR。例如，LTE的測量間隔配置為周期40ms，但是NR頻點的測量參考符號的發送周期是80ms，如果采用40ms測量NR頻點無法正確評估NR小區的小區質量。除了測量周期不同會對終端測量行為和系統性能帶來影響之外，如果LTE頻點的測量間隔起始位置與NR頻點的測量間隔起始位置不一致，也會產生影響。

發明內容

本發明的目的在于提供一種頻點測量方法、測量配置方法、終端及基站，以解決現有技術中的測量間隔方案無法滿足不同無線接入技術RAT的測量需求的問題。

為了達到上述目的，本發明提供一種頻點測量方法，應用于終端，包括：

接收基站發送的至少兩個測量間隔配置信息；其中，所述測量間隔配置信息包括：測量間隔周期、測量間隔持續時間以及測量間隔的起始偏移值中的一個或多個；

利用所述至少兩個測量間隔配置信息，對待測頻點進行測量。

其中，所述待測頻點包括第一類型待測頻點和第二類型待測頻點；

所述接收基站發送的至少兩個測量間隔配置信息的步驟，包括：

接收基站發送的第一測量間隔配置信息和第二測量間隔配置信息。

其中，所述接收基站發送的第一測量間隔配置信息和第二測量間隔配置信息的步驟之后，所述方法還包括：

接收基站發送的第一指示信息，根據所述第一指示信息確定第一類型待測頻點和第二類型待測頻點的測量順序；或者，根據預先約定的協議，確定第一類型待測頻點和第二類型待測頻點的測量順序；

所述利用所述至少兩個測量間隔配置信息，對待測頻點進行測量的步驟，包括：

根據所述測量順序，分別利用所述第一測量間隔配置信息和第二測量間隔配置信息依次對第一類型待測頻點和第二類型待測頻點進行測量。