[發明專利]氣體分析裝置和氣體分析方法

在審

• 申請號: 201711127904.0
• 申請日: 2017-11-15
• 公開（公告）號: CN108120693A
• 公開（公告）日: 2018-06-05
• 發明（設計）人: 橫田佳洋
• 申請（專利權）人: 株式會社堀場制作所
• 主分類號: G01N21/3504
• 分類號: G01N21/3504
• 代理公司: 北京信慧永光知識產權代理有限責任公司 11290
• 代理人: 周善來;李雪春

1.一種氣體分析裝置，其特征在于，

所述氣體分析裝置包括：

第一氣體分析部，測量試樣氣體所含的第一氣體成分的濃度；

第二氣體分析部，測量所述試樣氣體所含的第二氣體成分的濃度；

修正系數存儲部，存儲用于修正所述第二氣體對所述第一氣體的影響的修正系數；以及

濃度修正部，根據所述修正系數、用于所述第一氣體分析部的校準的校準氣體的第二氣體成分的濃度以及通過所述第二氣體分析部得到的第二氣體成分的濃度，對通過所述第一氣體分析部得到的第一氣體成分的濃度進行修正。

2.根據權利要求1所述的氣體分析裝置，其特征在于，所述濃度修正部根據所述修正系數、以及所述校準氣體的第二氣體成分的濃度與通過所述第二氣體分析部得到的第二氣體成分的濃度的差，對所述第一氣體成分的濃度進行修正。

3.根據權利要求1所述的氣體分析裝置，其特征在于，

所述修正系數表示第二氣體成分的濃度與該第二氣體成分的濃度下的第一氣體成分的濃度的相對誤差的關系，

所述氣體分析裝置還包括修正系數變更部，所述修正系數變更部以使所述第一氣體成分的濃度的相對誤差成為零的第二氣體成分的濃度變成所述校準氣體的第二氣體成分的濃度的方式，移動并變更所述修正系數，

所述濃度修正部使用通過所述修正系數變更部變更了的變更后的修正系數和通過所述第二氣體分析部得到的第二氣體成分的濃度，對通過所述第一氣體分析部得到的第一氣體成分的濃度進行修正。

4.根據權利要求1所述的氣體分析裝置，其特征在于，使用至少包含所述第一氣體成分和所述第二氣體成分的混合氣體對所述第一氣體分析部進行校準。

5.根據權利要求1所述的氣體分析裝置，其特征在于，所述第一氣體分析部和所述第二氣體分析部具有使用了NDIR法的檢測器。

6.根據權利要求1所述的氣體分析裝置，其特征在于，

所述第一氣體成分或所述第二氣體成分的一方是一氧化碳(CO)，

所述第一氣體成分或所述第二氣體成分的另一方是二氧化碳(CO₂)。

7.根據權利要求1所述的氣體分析裝置，其特征在于，所述試樣氣體是從內燃機排出的排氣。

8.一種氣體分析方法，其使用第一氣體分析部和第二氣體分析部，所述第一氣體分析部測量試樣氣體所含的第一氣體成分的濃度，所述第二氣體分析部測量所述試樣氣體所含的第二氣體成分的濃度，

所述氣體分析方法的特征在于，

根據用于修正所述第二氣體對所述第一氣體的影響的修正系數、用于所述第一氣體分析部的校準的校準氣體的第二氣體成分的濃度以及通過所述第二氣體分析部得到的第二氣體成分的濃度，對通過所述第一氣體分析部得到的第一氣體成分的濃度進行修正。