[發明專利]一種無源UHF RFID芯片調制深度的測試方法

在審

• 申請號: 201711126486.3
• 申請日: 2017-11-15
• 公開（公告）號: CN108062491A
• 公開（公告）日: 2018-05-22
• 發明（設計）人: 冀京秋;賀明;陳伯俊
• 申請（專利權）人: 中京復電(上海)電子科技有限公司
• 主分類號: G06K7/00
• 分類號: G06K7/00;H04B5/00;H04B17/15;H04B17/24
• 代理公司: 上海諾衣知識產權代理事務所(普通合伙) 31298
• 代理人: 韓國輝

本發明公開了一種無源UHF RFID芯片調制深度的測試方法，包括，使所述RFID標簽讀寫器以一初始調制深度向一待測試芯片發送啟動查詢命令；如可接收到所述待測試芯片對所述啟動查詢命令的完整響應，則以預定步長調整所述RFID標簽讀寫器的調制深度至可接收到所述待測試芯片對所述啟動查詢命令的完整響應的臨界值；記錄所述臨界值。本發明獲得了以下有益效果：可對無源UHF RFID芯片的調制深度的容忍度進行有效的測試。

技術領域

本發明涉及射頻標簽技術領域，尤其涉及一種無源UHF RFID芯片調制深度的測試方法。

背景技術

射頻識別技術是二十世紀九十年代興起的一種無線的、非接觸方式的自動識別技術，是近幾年發展起來的前沿科技項目。該技術主要是利用射頻信號通過空間耦合實現無接觸信息傳遞并通過所傳遞的信息達到識別目的。射頻識別技術的顯著優點在于非接觸性，因此完成識別工作時無需人工干預，能夠實現識別自動化且不易損壞；可識別高速運動的射頻標簽，也可同時識別多個射頻標簽，操作快捷方便；射頻標簽不怕油漬、灰塵污染等惡劣環境，且可以穿透非金屬物體進行識別，抗干擾能力強。

現有的射頻標簽技術中，無源UHF RFID(特高頻射頻標簽)被廣泛的應用于物聯網中，然而，由于目前缺少對無源UHF RFID的測試設備和測試方法，使得各種工作指標不統一的無源UHF RFID被混合使用，造成物聯網或者相應的使用環境工作不穩定。

由于UHF RFID標簽的芯片是其主要工作部件，因此如何對UHF RFID芯片提供一系列有效的測試方法，成為業界的課題。

發明內容

針對現有技術中存在的上述問題，現提供一種無源UHF RFID芯片調制深度的測試方法。

為實現上述目的，本發明采用了如下的技術方案：

一種無源UHF RFID芯片調制深度的測試方法，其中，提供一RFID標簽讀寫器以及一射頻信號分析裝置，根據測試項目定義復數個測試用例，還包括以下步驟：

步驟1，選取一所述測試用例；

步驟2，根據選取的所述測試用例設置所述RFID標簽讀寫器參數；

步驟3，根據選取的所述測試用例設置所述射頻信號分析裝置參數，使所述射頻信號分析裝置工作于相應的信號分析模式；

步驟4，使所述RFID標簽讀寫器以一初始調制深度向一待測試芯片發送啟動查詢命令；

步驟5，使所述射頻信號分析裝置采集所述RFID標簽讀寫器與所述待測試芯片通信過程中的射頻信號；

步驟6，如可接收到所述待測試芯片對所述啟動查詢命令的完整響應，則以預定步長調整所述RFID標簽讀寫器的調制深度至可接收到所述待測試芯片對所述啟動查詢命令的完整響應的臨界值；

步驟7，記錄所述臨界值；

步驟8，選取下一測試用例，并重復所述步驟2至所述步驟8，直至所有所述測試用例測試完畢。

本發明的另一方面，所述射頻信號分析裝置為頻譜分析儀。

本發明的另一方面，所述RFID標簽讀寫器的工作頻率為920MHz～925MHz。

本發明的另一方面，所述待測試芯片為COB封裝芯片，所述COB封裝芯片包括匹配網絡和巴倫，0歐姆電阻及功能芯片。

本發明的另一方面，還包括一環形器，所述射頻信號分析裝置通過饋線連接所述第環形器的第一端口，所述RFID標簽讀寫器通過饋線連接所述環形器的第二端口，所述待測試芯片通過饋線連接所述環形器的第三端口。

本發明的另一方面，所述初始調制深度為100％。

本發明的另一方面，所述預定步長為5％。