[發(fā)明專利]一種多光路檢測(cè)裝置及多光路光譜檢測(cè)方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201711117642.X
• 申請(qǐng)日: 2017-11-13
• 公開（公告）號(hào): CN107727582A
• 公開（公告）日: 2018-02-23
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 薛永富;劉玉宏
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 薛永富
• 主分類號(hào): G01N21/25
• 分類號(hào): G01N21/25;G01N21/31
• 代理公司: 北京創(chuàng)遇知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司11577
• 代理人: 武媛,呂學(xué)文

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及光譜檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種多光路檢測(cè)裝置及多光路光譜檢測(cè)方法。

背景技術(shù)

目前使用較多的吸收光譜儀檢測(cè)，如分光光度計(jì)，使用的技術(shù)是吸光物質(zhì)吸收特定波長(zhǎng)的光，吸光度與等厚度吸光物質(zhì)的吸光物質(zhì)濃度成線性關(guān)系。根據(jù)朗伯-比爾定律(Beer-Lambert Law)闡述為：光被透明介質(zhì)吸收的比例與入射光的強(qiáng)度無關(guān)；在光程上每等厚層介質(zhì)吸收相同比例值的光，即光化學(xué)第三定律，朗伯-比爾定律的數(shù)學(xué)表達(dá)式為：

A＝lg(1/T)＝Kbc

其中，A為吸光度；T為透射比，是透射光強(qiáng)度比上入射光強(qiáng)度；K為摩爾吸收系數(shù)，它與吸收物質(zhì)的性質(zhì)及入射光的波長(zhǎng)λ有關(guān)；c為吸光物質(zhì)的濃度；b為吸收層厚度。

常見光度計(jì)有真空紫外分光光度計(jì)、可見分光光度計(jì)、紫外可見分光光度計(jì)、雙波長(zhǎng)分光光度計(jì)、紅外分光光度計(jì)、原子吸收分光光度計(jì)等。

在光度分析中，需要先測(cè)量一系列不同濃度的標(biāo)樣溶液的吸光度，作出吸光度與濃度的關(guān)系曲線，即標(biāo)準(zhǔn)曲線，標(biāo)準(zhǔn)曲線一般要求五個(gè)點(diǎn)以上，然后測(cè)定樣品溶液的吸光度，在標(biāo)準(zhǔn)曲線上查出樣品溶液中待測(cè)物質(zhì)的濃度，從而求得樣品中待測(cè)物質(zhì)的含量。標(biāo)準(zhǔn)曲線通常是一條直線，但由于實(shí)驗(yàn)誤差等因素的存在，各數(shù)據(jù)點(diǎn)對(duì)直線往往有所偏離，用手工作圖法所作標(biāo)準(zhǔn)曲線誤差較大。

另外，目前的光譜檢測(cè)一般只能使用單一光源，不能同時(shí)實(shí)現(xiàn)多光路檢測(cè)，也不考慮檢測(cè)氛圍的影響，尤其在使用及檢測(cè)中，檢測(cè)氛圍的變化，可能會(huì)引起檢測(cè)結(jié)果較大的誤差，這些誤差會(huì)引起的結(jié)果偏差，因此需要每次檢測(cè)時(shí)，重復(fù)標(biāo)定標(biāo)準(zhǔn)工作曲線，存在著人力、物力和時(shí)間的大量浪費(fèi)。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于提供一種多光路檢測(cè)裝置及多光路光譜檢測(cè)方法，用以解決現(xiàn)有光譜檢測(cè)因考慮檢測(cè)氛圍的影響造成結(jié)果誤差的問題。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明公開了一種多光路檢測(cè)裝置，所述多光路檢測(cè)裝置包括：光源、檢測(cè)池和檢測(cè)器，所述檢測(cè)池包括標(biāo)準(zhǔn)樣品檢測(cè)池和待檢樣品檢測(cè)池，所述標(biāo)準(zhǔn)樣品檢測(cè)池和所述待檢樣品檢測(cè)池的檢測(cè)光出口端光路分別連接至所述檢測(cè)器入射光路，所述標(biāo)準(zhǔn)樣品檢測(cè)池和所述待檢樣品檢測(cè)池的檢測(cè)光進(jìn)口端光路分別連接光源的光路。

以及，所述光路經(jīng)過的材料包括空氣、光纖、導(dǎo)光材料。

本發(fā)明公開的上述一種多光路檢測(cè)裝置，所述光源為一個(gè)，在所述光源所在光路設(shè)置有光路控制器，所述標(biāo)準(zhǔn)樣品檢測(cè)池和所述待檢樣品檢測(cè)池的檢測(cè)光進(jìn)口端連接光路的接收光源端口分別設(shè)置在所述光路控制器的兩條光路上；所述檢測(cè)器為一個(gè)，所述檢測(cè)器入射光路與標(biāo)準(zhǔn)樣品檢測(cè)池和待檢樣品檢測(cè)池的檢測(cè)光出口端光路連接；所述多光路檢測(cè)裝置，標(biāo)準(zhǔn)樣品檢測(cè)池和所述待檢樣品檢測(cè)池可以有多個(gè)。

本發(fā)明公開的上述一種多光路檢測(cè)裝置，所述光源為一個(gè)，所述光源所在光路設(shè)置有光路控制器，所述標(biāo)準(zhǔn)樣品檢測(cè)池和所述待檢樣品檢測(cè)池的檢測(cè)光進(jìn)口端連接的光路的接收光源端口分別設(shè)置在所述光路控制器的兩條光路上；所述檢測(cè)器為兩個(gè)，分別為標(biāo)準(zhǔn)樣品檢測(cè)器和待測(cè)樣品檢測(cè)器，所述標(biāo)準(zhǔn)樣品檢測(cè)器和所述待測(cè)樣品檢測(cè)器入射光路分別與標(biāo)準(zhǔn)樣品檢測(cè)池和待檢樣品檢測(cè)池的檢測(cè)光出口端光路連接；所述多光路檢測(cè)裝置，標(biāo)準(zhǔn)樣品檢測(cè)池、所述待檢樣品檢測(cè)池、檢測(cè)器可以有多個(gè)。

本發(fā)明公開的上述一種多光路檢測(cè)裝置，所述光源為兩個(gè)，分別為標(biāo)準(zhǔn)樣品檢測(cè)光源和待測(cè)樣品檢測(cè)光源，所述標(biāo)準(zhǔn)樣品檢測(cè)光源光路和所述待測(cè)樣品檢測(cè)光源光路分別與標(biāo)準(zhǔn)樣品檢測(cè)池和待檢樣品檢測(cè)池的檢測(cè)光進(jìn)口端光路連接；所述檢測(cè)器為一個(gè)，所述檢測(cè)器入射光路與標(biāo)準(zhǔn)樣品檢測(cè)池和待檢樣品檢測(cè)池的檢測(cè)光出口端光路連接；所述多光路檢測(cè)裝置，標(biāo)準(zhǔn)樣品檢測(cè)池、所述待檢樣品檢測(cè)池、光源可以有多個(gè)。

本發(fā)明公開的上述一種多光路檢測(cè)裝置，所述光源為兩個(gè)，分別為標(biāo)準(zhǔn)樣品檢測(cè)光源和待測(cè)樣品檢測(cè)光源，所述標(biāo)準(zhǔn)樣品檢測(cè)光源和所述待測(cè)樣品檢測(cè)光源分別與標(biāo)準(zhǔn)樣品檢測(cè)池和待檢樣品檢測(cè)池的檢測(cè)光進(jìn)口端光路連接；所述檢測(cè)器為兩個(gè)，分別為標(biāo)準(zhǔn)樣品檢測(cè)器和待測(cè)樣品檢測(cè)器，所述標(biāo)準(zhǔn)樣品檢測(cè)器和所述待測(cè)樣品檢測(cè)器分別與標(biāo)準(zhǔn)樣品檢測(cè)池和待檢樣品檢測(cè)池的檢測(cè)光出口端光路連接；所述多光路檢測(cè)裝置，標(biāo)準(zhǔn)樣品檢測(cè)池、所述待檢樣品檢測(cè)池、檢測(cè)器、光源可以有多個(gè)。

本發(fā)明公開的上述一種多光路檢測(cè)裝置，所述多光路檢測(cè)裝置的標(biāo)準(zhǔn)樣品檢測(cè)池和待檢樣品檢測(cè)池分別具有密閉的標(biāo)準(zhǔn)樣品檢測(cè)區(qū)和待檢樣品檢測(cè)區(qū)，所述標(biāo)準(zhǔn)樣品檢測(cè)區(qū)和所述待檢樣品檢測(cè)區(qū)分別設(shè)置有可打開的標(biāo)準(zhǔn)樣品加樣口和待檢樣品加樣口。