[發明專利]不良像素補償方法與裝置有效
| 申請號: | 201711116026.2 | 申請日: | 2017-11-13 |
| 公開(公告)號: | CN109788217B | 公開(公告)日: | 2021-05-25 |
| 發明(設計)人: | 黃文聰 | 申請(專利權)人: | 瑞昱半導體股份有限公司 |
| 主分類號: | H04N5/367 | 分類號: | H04N5/367 |
| 代理公司: | 隆天知識產權代理有限公司 72003 | 代理人: | 李昕巍;章侃銥 |
| 地址: | 中國臺*** | 國省代碼: | 臺灣;71 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 不良 像素 補償 方法 裝置 | ||
1.一種不良像素補償方法,用來補償一感測器的不良像素,該感測器包含四個種類的像素,該不良像素補償方法包含下列步驟:
依據至少一感測器形態信號,判斷該感測器的形態;
依據該感測器的形態與一目標像素的位置,決定多個取樣位置;
依據該多個取樣位置,獲得一取樣范圍內的多個參考像素的值,其中該多個參考像素的種類與該目標像素的種類相同;
依據該多個參考像素的值決定一區間與至少一補償值;以及
判斷該目標像素的一目標像素輸入值是否位于該區間內,當該目標像素輸入值位于該區間內,輸出該目標像素輸入值做為該目標像素的值,當該目標像素輸入值位于該區間外,輸出該至少一補償值的其中之一作為該目標像素的值;
其中決定該區間的步驟包含:依據該多個參考像素的值決定一亮度上限;依據該多個參考像素的值決定一亮度下限;以及依據該亮度上限與該亮度下限決定該區間;
其中該亮度上限的組成包含一亮度參考電平以及下列電平的至少其中之一:一邊緣特征參考電平以及一亮區平移電平;以及該亮度下限的組成包含一暗度參考電平以及下列電平的至少其中之一:該邊緣特征參考電平以及一暗區平移電平。
2.如權利要求1所述的不良像素補償方法,其中該四個種類的像素是紅色像素、綠色像素、藍色像素與紅外線像素。
3.如權利要求1所述的不良像素補償方法,其中該亮度上限的組成包含一亮度參考電平(brightness reference level);該亮度下限的組成包含一暗度參考電平(darknessreference level);該至少一補償值包含該亮度參考電平與該暗度參考電平;當該目標像素輸入值大于該亮度上限,該亮度參考電平被輸出以做為該目標像素的值;以及當該目標像素輸入值小于該亮度下限,該暗度參考電平被輸出以做為該目標像素的值。
4.如權利要求1所述的不良像素補償方法,其中該多個參考像素的值包含一最大值、一中位值與一最小值,該至少一補償值包含一亮度參考電平與一暗度參考電平,該亮度參考電平介于該最大值與該中位值之間,該暗度參考電平介于該中位值與該最小值之間。
5.一種不良像素補償裝置,能夠補償一感測器的不良像素,該感測器包含四個種類的像素,該不良像素補償裝置包含:
一參考像素取樣電路,用來依據一目標像素的位置,決定多個取樣位置,從而依據該多個取樣位置獲得一取樣范圍內的多個參考像素的值,其中該多個參考像素的種類與該目標像素的種類相同;
一計算電路,用來依據該多個參考像素的值決定一區間與至少一補償值;以及
一判斷及補償電路,用來判斷該目標像素的一輸入值是否位于該區間外,當該目標像素的該輸入值位于該區間外,依據該至少一補償值補償該目標像素的該輸入值;
其中,該計算電路設置為:依據該多個參考像素的值決定一亮度上限;依據該多個參考像素的值決定一亮度下限;以及依據該亮度上限與該亮度下限決定該區間;其中該亮度上限的組成包含一亮度參考電平以及下列電平的至少其中之一:一邊緣特征參考電平以及一亮區平移電平;以及該亮度下限的組成包含一暗度參考電平以及下列電平的至少其中之一:該邊緣特征參考電平以及一暗區平移電平。
6.如權利要求5所述的不良像素補償裝置,其中該四個種類的像素是紅色像素、綠色像素、藍色像素與紅外線像素。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于瑞昱半導體股份有限公司,未經瑞昱半導體股份有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201711116026.2/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





