[發(fā)明專利]一種用于太陽能電池的多晶硅片及其制備方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201711107387.0 | 申請日: | 2017-11-10 |
| 公開(公告)號: | CN107895744A | 公開(公告)日: | 2018-04-10 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 吳俊桃;劉堯平;陳偉;陳全勝;趙燕;王燕;杜小龍 | 申請(專利權(quán))人: | 中國科學(xué)院物理研究所 |
| 主分類號: | H01L31/0236 | 分類號: | H01L31/0236 |
| 代理公司: | 北京智匯東方知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙)11391 | 代理人: | 康正德,薛峰 |
| 地址: | 100190 北*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 用于 太陽能電池 多晶 硅片 及其 制備 方法 | ||
1.一種用于太陽能電池的多晶硅片,具有制絨表面,其特征在于,所述制絨表面是由一系列獨立、緊密排布、具有微米尺寸的類倒金字塔結(jié)構(gòu)構(gòu)成的絨面結(jié)構(gòu),其中,對于多晶硅片的不同晶粒,所述類倒金字塔結(jié)構(gòu)的開口方向不同。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的多晶硅片,其特征在于,所述多晶硅片的制絨表面是由酸性制絨液刻蝕制得,所述酸性制絨液中含有氧化劑,所述氧化劑用于使得硅表面上形成的過量銅納米顆粒被氧化形成Cu2+進而避免在硅片表面形成致密銅膜阻礙刻蝕的進行。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的多晶硅片,其特征在于,所述類倒金字塔結(jié)構(gòu)的開口方向與其對應(yīng)的晶粒的取向一致。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的多晶硅片,其特征在于,所述類倒金字塔結(jié)構(gòu)的開口形狀包括三角形、四邊形或六邊形;所述多晶硅片具有第一晶向、第二晶向、第三晶向及第四晶向;
對于所述多晶硅片的第二晶向的晶粒,所述類倒金字塔結(jié)構(gòu)的開口為三角形;對于所述多晶硅片的第三晶向、第四晶向的晶粒,所述類倒金字塔結(jié)構(gòu)的開口為四邊形;對于所述多晶硅片的第一晶向的晶粒,所述類倒金字塔結(jié)構(gòu)的開口為六邊形。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的多晶硅片,其特征在于,所述制絨表面的平均反射率小于20%;
可選地,所述制絨表面的平均反射率為5%-20%。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的多晶硅片,其特征在于,所述類倒金字塔結(jié)構(gòu)的開口邊長為1μm~10μm,結(jié)構(gòu)深度為1μm~10μm。
7.一種用于太陽能電池的多晶硅片的制備方法,其特征在于,通過將清洗后的硅片浸泡至酸性制絨液中刻蝕獲得;其中,所述酸性制絨液包括銅離子源、氟離子源以及能夠?qū)~氧化為銅離子的氧化劑。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的多晶硅片的制備方法,其特征在于,所述銅離子源用于提供濃度為0.1~30.0mmol/L的銅離子,氟離子源用于提供濃度為0.4~11.0mol/L的氟離子,氧化劑的濃度為0.1~5.0mol/L。
9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的多晶硅片的制備方法,其特征在于,所述銅離子源為氯化銅、硫酸銅和硝酸銅中的一種或多種;所述氧化劑為高錳酸鉀、溴化鉀、過硫酸鹽和雙氧水中的一種或多種。
10.根據(jù)權(quán)利要求7所述的多晶硅片的制備方法,其特征在于,所述酸性制絨液刻蝕時的溫度為30℃~80℃,刻蝕時間為3分鐘~20分鐘。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進行電能控制的半導(dǎo)體器件;專門適用于制造或處理這些半導(dǎo)體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導(dǎo)體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉(zhuǎn)換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內(nèi)或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發(fā)光光源在結(jié)構(gòu)上相連的,并與其電光源在電氣上或光學(xué)上相耦合的





