[發明專利]高精度寬視野成像光譜儀裝置在審
| 申請號: | 201711106720.6 | 申請日: | 2017-11-10 |
| 公開(公告)號: | CN108078542A | 公開(公告)日: | 2018-05-29 |
| 發明(設計)人: | 黃海清;胡潔;戚進;何濤;沈健;王建星 | 申請(專利權)人: | 上海康奧實業發展有限公司 |
| 主分類號: | A61B5/00 | 分類號: | A61B5/00 |
| 代理公司: | 上海漢聲知識產權代理有限公司 31236 | 代理人: | 郭國中 |
| 地址: | 200001 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 透鏡 濾光模塊 雙光路 線陣探測器 均勻光源 掃描模塊 高穩定 遮光罩 內置 中央處理器模塊 光譜儀裝置 寬視野成像 電機 被測物體 光源照射 成像 測量過程 成像視野 模塊接收 目標信息 噪聲干擾 驅動 | ||
本發明提供了一種高精度寬視野成像光譜儀裝置,包括高穩定均勻光源模塊、雙光路透鏡濾光模塊、電機掃描模塊、內置遮光罩模塊、線陣探測器模塊及中央處理器模塊,高穩定均勻光源模塊用于提供光源照射被測物體,光源照射被測物體后形成第一光束進入雙光路透鏡濾光模塊;第一光束進入雙光路透鏡濾光模塊形成第二光束進入內置遮光罩模塊并被線陣探測器模塊接收;電機掃描模塊用于驅動雙光路透鏡濾光模塊;中央處理器模塊用于控制高穩定均勻光源模塊、雙光路透鏡濾光模塊、電機掃描模塊、內置遮光罩模塊以及線陣探測器模塊。本發明結構分明、操作簡單且成像精度高;本發明有效的抑制了目標信息測量過程中的噪聲干擾,提高了成像精度,拓寬了成像視野。
技術領域
本發明涉及醫療器械領域,具體地,涉及一種高精度寬視野成像光譜儀裝置。
背景技術
成像光譜儀是在多光譜掃描型成像遙感器的基礎上發展起來的先進的新一代光譜儀器,它利用“狹縫”將原來一直獨立使用的光學成像系統和光譜獲取系統有機結合成一體,能夠利用光譜分光技術,獲取精細光譜采樣的光譜圖像,可以測定出被測對象的全部吸收或反射光譜特征,直接確認和判明目標,并能做到目標的物質成份分析和理化生物性能診斷。由于成像光譜儀常用于探測距離較遠,接收到目標輻射能量較弱,而在成像過程中又由于各種噪聲的影響,使得目標信息淹沒在噪聲中而從降低了儀器的探測能力,因此如何抑制測量過程中的噪聲干擾,是實現高精度寬視野成像光譜儀研制的關鍵技術。
發明內容
針對現有技術中的缺陷,本發明的目的是提供一種高精度寬視野成像光譜儀裝置。
根據本發明提供的一種高精度寬視野成像光譜儀裝置,包括高穩定均勻光源模塊、雙光路透鏡濾光模塊、電機掃描模塊、內置遮光罩模塊、線陣探測器模塊以及中央處理器模塊,其中:
所述高穩定均勻光源模塊用于提供光源照射被測物體,光源照射被測物體后形成第一光束進入所述雙光路透鏡濾光模塊;
第一光束進入所述雙光路透鏡濾光模塊形成第二光束進入內置遮光罩模塊并被線陣探測器模塊接收;
所述電機掃描模塊用于驅動所述雙光路透鏡濾光模塊;
所述中央處理器模塊用于控制高穩定均勻光源模塊、雙光路透鏡濾光模塊、電機掃描模塊、內置遮光罩模塊以及線陣探測器模塊。
優選地,所述第二光束包括兩路光束;所述線陣探測器模塊包括兩個相同的CCD探測器;所述兩路光束分別被兩個相同的CCD探測器接收。
優選地,兩個相同的CCD探測器的接收信號能夠通過差分比較。
優選地,所述CCD探測器電連接所述中央處理器模塊,所述CCD探測器能夠將接收信號轉化為模擬信號并傳輸至中央處理器模塊。
優選地,所述高穩定均勻光源模塊包括高精度穩壓電源、發光二極管以及濾光片,所述高精度穩壓電源給所述發光二極管供電;用濾光片濾波得到窄帶光源,并根據發光二極管在不同波段的光強設定相應的脈沖驅動電流。
優選地,所述窄帶光源在一定波長范圍內輸出平坦的光強,并與雙光路透鏡濾光模塊相連,實現雙光路探測。
優選地,所述電機掃描模塊包括直流電源、細分電路以及步進電機,其中:所述直流電源用于步進電機供電;所述細分電路能夠實現對步進電機的精密定位控制。
與現有技術相比,本發明具有如下的有益效果:
1、本發明結構分明、操作簡單且成像精度高;
2、本發明有效的抑制了目標信息測量過程中的噪聲干擾,提高了成像精度,拓寬了成像視野。
附圖說明
通過閱讀參照以下附圖對非限制性實施例所作的詳細描述,本發明的其它特征、目的和優點將會變得更明顯:
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