[發明專利]一種動態形變可控微鏡鏡面梳齒結構及其加工方法有效
| 申請號: | 201711105438.6 | 申請日: | 2017-11-10 |
| 公開(公告)號: | CN107976871B | 公開(公告)日: | 2020-09-11 |
| 發明(設計)人: | 虞傳慶;王鵬;陳文禮;王宏臣;孫豐沛;董珊 | 申請(專利權)人: | 無錫英菲感知技術有限公司 |
| 主分類號: | G03F7/20 | 分類號: | G03F7/20;B81C1/00;B81B7/02 |
| 代理公司: | 廣州三環專利商標代理有限公司 44202 | 代理人: | 郝傳鑫;賈允 |
| 地址: | 214000 江蘇省無錫市新吳區*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 動態 形變 可控 微鏡鏡面 梳齒 結構 及其 加工 方法 | ||
本發明提供一種動態形變可控微鏡鏡面梳齒結構及其加工方法,包括如下步驟:步驟一,準備晶圓;步驟二,形成微鏡鏡面、靜梳齒和動梳齒的平面排布區;步驟三,覆蓋所述步驟二中形成的縫隙;步驟四,露出包含動梳齒、微鏡鏡面和聯通所述動梳齒的焊盤區域的第一區域;步驟五,刻蝕掉所述第一區域下的第一單晶硅器件層和第一絕緣層;步驟六,在晶圓表面選擇性沉積金屬層;步驟七,反轉晶圓,在襯底層底面形成掩膜,深度刻蝕以蝕穿所述襯底層。本發明使用雙硅器件層的SOI晶圓加工垂直梳齒,無需采用晶圓鍵合工藝,降低加工難度,提高了成品率。動靜梳齒對的定義只需一次光刻,避免了分步光刻時的對位誤差問題,使加工形貌盡可能地逼近設計樣式。
技術領域
本發明涉及微機電系統(MEMS:Micro-electromechanical Systems)技術領域,具體涉及一種垂直梳齒結構及其加工方法。
背景技術
微鏡是基于半導體微加工技術的光束偏轉裝置。由于具有體積小、掃描頻率高和能耗低的特點,微鏡在激光雷達、激光掃描投影、內窺鏡和光開關等領域,擁有廣泛的應用前景。在不同的應用場景中,需要微鏡作諧振式、準靜態掃描,或者數字式跳躍。諧振式掃描是指微鏡在本征共振頻率附近按固有模態進行振動,而準靜態掃描的頻率通常遠低于本征共振頻率。例如在條形碼掃描應用中,只需微鏡掃描出激光線,諧振式掃描即可實現;在利用逐行掃描原理的激光投影設備中,微鏡需要在至少一個方向上執行準靜態掃描。而在光交叉連接器等設備中,需要微鏡在特定的角度間切換并保持靜止,屬于數字式掃描。
微鏡的驅動手段分為多種,其中靜電驅動微鏡工藝簡單、結構緊湊,具有最廣闊的應用前景。然而在常見的平面梳齒微鏡中,靜電力引起的力矩與轉軸回復力的力矩方向相同,無法使鏡面保持受力平衡狀態。要實現準靜態或數字式掃描,必須采用垂直梳齒結構。
現有的垂直梳齒加工方案主要是利用硅片鍵合工藝實現。首先在一個SOI晶圓上制作出一組梳齒結構,與另一SOI晶圓鍵合后,再加工出第二組梳齒,并且與第一組梳齒處于不同平面內。然而鍵合的工藝較為困難,必然帶來成本的上升,并且兩組梳齒之間會產生對位誤差,大大降低了器件的成品率。發明專利CN 103086316A中提出了使用雙層掩膜制作高低梳齒的方案,但雙層掩膜的形成本身就需要兩次光刻和干刻;在完成鍵合以后,還需要在背面選擇性刻蝕其中一組梳齒以形成垂直錯位結構。該工藝方法雖然能夠制作所需的結構,但是工藝過程非常復雜,成品率的控制十分困難。有鑒于此,一些不使用鍵合工藝的加工方案也被提出。發明專利CN101907769A提出了一種只需兩張掩膜版的、無需鍵合的加工方案。雖然該方案流程較為簡單,但背腔刻蝕的速度很快,刻蝕深度控制非常困難。而且該方案將導致微鏡鏡面和動梳齒也為雙層結構;若要保證足夠大的梳齒面積,則微鏡雙層的總厚度勢必較大,從而增大質量減小驅動效率;若要收緊微鏡雙層的總厚度,則錯位梳齒對的相對面積將會減小,需要更大的電壓進行驅動。
發明內容
為了解決現有技術中存在的技術問題,本發明提出一種具有垂直梳齒結構的微鏡并闡述其加工方法,旨在以簡單可行的工藝流程實現多工作模式的微鏡器件,
本發明的第一方面,提供一種動態形變可控微鏡鏡面梳齒結構的加工方法,其具體技術方案如下:
步驟一,準備晶圓,所述晶圓包括五層結構,依次為:第一單晶硅器件層,第一絕緣層、第二單晶硅器件層、第二絕緣層和襯底層;
步驟二,形成微鏡鏡面、靜梳齒和動梳齒的平面排布區;
步驟三,覆蓋所述步驟二中形成的縫隙;
步驟四,露出包含動梳齒、微鏡鏡面和聯通所述動梳齒的焊盤區域的第一區域;
步驟五,刻蝕掉所述第一區域下的第一單晶硅器件層和第一絕緣層;
步驟六,在晶圓表面選擇性沉積金屬層;
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