[發明專利]一種多普勒超聲自動定位取樣框的方法有效
| 申請號: | 201711103896.6 | 申請日: | 2017-11-10 |
| 公開(公告)號: | CN107874782B | 公開(公告)日: | 2023-01-31 |
| 發明(設計)人: | 吳哲;王權泳 | 申請(專利權)人: | 成都優途科技有限公司 |
| 主分類號: | A61B8/06 | 分類號: | A61B8/06 |
| 代理公司: | 蘇州企知鷹知識產權代理事務所(普通合伙) 32420 | 代理人: | 王玉珍 |
| 地址: | 610000 四川省成都*** | 國省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 多普勒 超聲 自動 定位 取樣 方法 | ||
1.一種多普勒超聲自動定位取樣框的方法,其特征在于,包括以下步驟:
步驟1,采用超聲成像設備,通過超聲成像設備默認或人工預設一個取樣框形狀和尺寸;
步驟2,通過超聲成像設備進行掃描,根據超聲探頭回波信號,生成掃描區域黑白超聲圖像;對掃描區域分割,分成M行N列一共M×N個格子,每個格子都小于取樣框面積的1/2,某個格子則根據左上頂點定義為第(m,n)個格子;
步驟3,根據掃描區域圖像計算取樣框中的低亮度點數;將每個格子的左上頂點作為參照點,將取樣框的左上頂點與格子的參照點重合;有M×N個格子,則有M×N個取樣框選擇,以格子左上頂點定義取樣框的序號;預設一個閾值E0,如果掃描區域中的像素點EE0,則亮度低,將其計入低亮度像素點集,得到一個過濾掉高亮度區域的B超圖像;計算每個對應取樣框中低亮度像素點的總數目,得到一個低亮度像素點累計數值的p1(M,N)的二維數組,計算中定義超出掃描區域的部分像素點為0;獲得p1(M,N)的二維數組后,最大值對應的取樣框即為取樣框1;
步驟4,將取樣框1區域從點集中排除掉,以剩下的區域點集對每個格子頂點重復求得p2(m,n),定義和取樣框1重疊的區域像素點數也是0,完成整個p2(M,N)數組的統計后,同樣取最大值來獲得取樣框2;
步驟5,重復步驟4的操作獲得取樣框3;得到取樣框1、取樣框2、取樣框3后,分別定義為F1(m1,n1),F2(m2,n2),F3(m3,n3),對應的低亮度像素點數值分別為p1(m1,n1),p2(m2,n2),p3(m3,n3),且有p1(m1,n1)p2(m2,n2)p3(m3,n3);
步驟6,根據選出的取樣框1,取樣框2,取樣框3連續各做一次多普勒掃描,保存圖像并進行彩色像素點數目統計;此時取樣框重疊區域的像素點將重復計數,而不再去除掉;取三者當中的彩色像素點數最大值,則其對應的F1(m1,n1),F2(m2,n2),F3(m3,n3)之一則為初選取樣框,定義為F(m,n);
步驟7,對于已經獲得初選的取樣框F(m,n),依據格子頂點,分別向上下左右移動一格,獲得F(m-1,n),F(m+1,n),F(m,n-1),F(m,n+1)這四個相鄰取樣框,分別加載多普勒超聲,計算彩色像素點數目并進行比較,這里重疊區域也是重復計數的,若移動完畢后已經超出掃描區域,則此次移動不計,不需要參與彩超掃描,更無需參與統計比較;F(m,n)中心取樣框彩色點數目最大,則最終確定F(m,n)為最終取樣框;F(m,n)中心取樣框的某個鄰框最大,則更新為新的初選取樣框;以新的初選取樣框為中心取樣框再次計算4個相鄰取樣框,直到所有相鄰取樣框的彩色像素點計數都低于中心取樣框計數,選定此刻的中心取樣框為最終取樣框。
2.根據權利要求1所述的多普勒超聲自動定位取樣框的方法,其特征在于,掃描區域邊緣的格子大于格子的平均尺寸。
3.根據權利要求2所述的多普勒超聲自動定位取樣框的方法,其特征在于,每個格子的面積為取樣框面積的1/9-1/4之間。
4.根據權利要求3所述的多普勒超聲自動定位取樣框的方法,其特征在于,所述取樣框為矩形、平行四邊形或扇形。
5.根據權利要求4所述的多普勒超聲自動定位取樣框的方法,其特征在于,步驟5完成后,將取樣框1、取樣框2、取樣框3分別和掃描區域對照,如已經超出掃描區域,則調整m,n到最近鄰的取樣框,作為后續步驟的取樣框1、取樣框2、取樣框3。
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