[發明專利]一種基于霍爾集成器的金屬線脹系數測試儀

在審

• 申請號: 201711103145.4
• 申請日: 2017-11-10
• 公開（公告）號: CN108152322A
• 公開（公告）日: 2018-06-12
• 發明（設計）人: 宋國利;尹少英
• 申請（專利權）人: 哈爾濱學院
• 主分類號: G01N25/16
• 分類號: G01N25/16;G01B21/32
• 代理公司: 北京華仲龍騰專利代理事務所(普通合伙) 11548
• 代理人: 李靜

1.一種基于霍爾集成器的金屬線脹系數測試儀，其特征在于，包括：線脹系數測試儀；所述線脹系數測試儀包括底座（1）、加熱管（2）、溫度計量裝置（3）和微處理器（4）；所述底座（1）上設置有垂直支架（5），所述加熱管（2）與所述垂直支架（5）連接并與所述底座（1）平行；所述加熱管（2）中有電加熱絲（210），所述電加熱絲（210）呈網狀均勻分布于加熱管（2）中并與所述微處理器（4）連接，微處理器（4）向電熱絲輸出加熱信號時，所述電加熱絲（210）開始加熱；所述溫度計量裝置（3）設置于所述加熱管（2）內部，所述溫度計量裝置（3）與所述微處理器（4）連接，并將檢測的實時溫度轉換為實時溫度值向所述微處理器（4）輸出；所述線脹系數測試儀還包括霍爾電壓傳感器（6）與磁場裝置；所述加熱管（2）還包括移動塞（220），所述移動塞（220）在加熱管（2）內移動，所述移動塞（220）通過一固定桿（230）與所述霍爾電壓傳感器（6）連接；所述磁場裝置包括第一磁塊（7）與第二磁塊（8），所述第一磁塊（7）設置于所述加熱管（2）一端，所述第二磁塊（8）設置于所述加熱管（2）另一端；所述霍爾電壓傳感器（6）與所述微處理器（4）連接。

2.根據權利要求1所述的一種基于霍爾集成器的金屬線脹系數測試儀，其特征在于，所述溫度計量裝置（3）設置于所述加熱管（2）內部的一端，并凸起于加熱管（2）內部表層。

3.根據權利要求1所述的一種基于霍爾集成器的金屬線脹系數測試儀，其特征在于，所述是電加熱絲（210）還包括控溫裝置（9），所述控溫裝置（9）與所述微處理器（4）連接。

4.根據權利要求3所述的一種基于霍爾集成器的金屬線脹系數測試儀，其特征在于，用戶通過所述微處理器（4）設定預設溫度，當微處理器（4）獲取實時溫度值到達預設溫度時，微處理器（4）向所述控溫裝置（9）輸出恒溫信號，控溫裝置（9）控制電加熱絲（210）保持當前溫度。

5.根據權利要求4所述的一種基于霍爾集成器的金屬線脹系數測試儀，其特征在于，所述預設溫度設置有若干個；微處理器（4）向所述控溫裝置（9）輸出解除恒溫信號，控溫裝置（9）停止對電熱絲的控溫。

6.根據權利要求1所述的一種基于霍爾集成器的金屬線脹系數測試儀，其特征在于，還包括顯示屏（10）、按鍵組件（11）；所述顯示屏（10）、按鍵組件（11）分別與所述微處理器（4）連接。

7.根據權利要求1所述的一種基于霍爾集成器的金屬線脹系數測試儀，其特征在于，所述加熱管（2）內壁光滑。

8.根據權利要求1所述的一種基于霍爾集成器的金屬線脹系數測試儀，其特征在于，所述移動塞（220）在所述加熱管（2）內移動，所述移動塞（220）外徑值與所述加熱管（2）內徑值為預設比例。

9.根據權利要求1所述的一種基于霍爾集成器的金屬線脹系數測試儀，其特征在于，所述垂直支架（5）有若干個；所述垂直支架（5）為伸縮支架；通過調節垂直支架（5）改變加熱管（2）與底座（1）的角度。

10.根據權利要求1所述的一種基于霍爾集成器的金屬線脹系數測試儀，其特征在于，所述加熱管（2）包括封閉端與口端，所述第一磁塊（7）設置于封閉端，所述第二磁塊（8）與口端活動連接。