[發明專利]無源UHFRFID標簽讀寫器測試方法

在審

• 申請號: 201711100602.4
• 申請日: 2017-11-09
• 公開（公告）號: CN107748853A
• 公開（公告）日: 2018-03-02
• 發明（設計）人: 冀京秋;賀明;蔣亦青;余舒浩
• 申請（專利權）人: 中京復電(上海)電子科技有限公司
• 主分類號: G06K7/00
• 分類號: G06K7/00
• 代理公司: 上海諾衣知識產權代理事務所(普通合伙)31298
• 代理人: 韓國輝

技術領域

本發明涉及射頻標簽技術領域，尤其涉及一種無源UHF RFID標簽讀寫器測試方法。

背景技術

射頻識別技術是二十世紀九十年代興起的一種無線的、非接觸方式的自動識別技術，是近幾年發展起來的前沿科技項目。該技術主要是利用射頻信號通過空間耦合實現無接觸信息傳遞并通過所傳遞的信息達到識別目的。射頻識別技術的顯著優點在于非接觸性，因此完成識別工作時無需人工干預，能夠實現識別自動化且不易損壞；可識別高速運動的射頻標簽，也可同時識別多個射頻標簽，操作快捷方便；射頻標簽不怕油漬、灰塵污染等惡劣環境，且可以穿透非金屬物體進行識別，抗干擾能力強。

現有的射頻標簽技術中，無源UHF RFID(特高頻射頻標簽)被廣泛的應用于物聯網中，其中標簽讀寫器是配合無源UHF RFID工作的主要設備，然而，由于目前缺少對無源UHF RFID標簽讀寫器的測試設備和測試方法，使得各種工作指標不統一的無源UHF RFID標簽讀寫器流入終端領域，造成物聯網或者相應的使用環境工作不穩定。

發明內容

針對現有技術中存在的上述問題，現提供一種無源UHF RFID標簽讀寫器測試方法。

為實現上述目的，本發明采用了如下的技術方案：

一種無源UHF RFID讀寫器測試方法，其中，提供一待測試RFID標簽讀寫器，一射頻信號分析裝置以及一模擬RFID標簽，并定義復數個測試用例，還包括以下步驟：

步驟1，選取一所述測試用例；

步驟2，根據選取的所述測試用例設置所述待測試RFID標簽讀寫器參數；

步驟3，根據選取的所述測試用例設置所述射頻信號分析裝置參數，使所述射頻信號分析裝置工作于相應的信號分析模式；

步驟4，使所述RFID標簽讀寫器向所述模擬RFID標簽發送指令；

步驟5，使所述射頻信號分析裝置采集所述RFID標簽讀寫器與所述模擬RFID標簽通信過程中的射頻信號；

步驟6，分析采集到的所述射頻信號，判斷所述待測試RFID標簽讀寫器的工作狀態；

步驟7，選取下一測試用例，并重復所述步驟2至所述步驟6，直至所有所述測試用例測試完畢。

本發明的另一方面，所述射頻信號分析裝置為頻譜分析儀。

本發明的另一方面，所述RFID標簽讀寫器的工作頻率為840MHz～845MHz和/或920MHz～925MHz。

本發明的另一方面，當所述RFID標簽讀寫器的工作頻率為840MHz～845MHz時，所述RFID標簽讀寫器的工作信道為20個，每個所述工作信道的的帶寬為250kHz，每個所述工作信道的中心頻點為840.125MHz+0.25nMHz，n為0-19的整數。

本發明的另一方面，當所述RFID標簽讀寫器的工作頻率為920MHz～925MHz時，所述RFID標簽讀寫器的工作信道為20個，每個所述工作信道的的帶寬為250kHz，每個所述工作信道的中心頻點為920.125MHz+0.25nMHz，n為0-19的整數。

本發明的另一方面，還提供一功分器，及一環形器，所述射頻信號分析裝置的輸入接口及所述待測試RFID標簽讀寫器分別連接所述功分器的輸出接口，所述功分器的輸入接口連接所述環形器的第一端口，所述RFID標簽讀寫器還連接所述環形器的第二端口，所述環形器的第三端口連接所述模擬RFID標簽。

本發明的另一方面，所述述射頻信號分析裝置的輸入接口及所述RFID標簽讀寫器通過饋線分別連接所述功分器的輸出接口，所述功分器的輸入接口通過饋線連接所述環形器的第一端口，所述RFID標簽讀寫器通過饋線還連接所述環形器的第二端口，所述環形器的第三端口通過饋線連接所述模擬RFID標簽。

本發明的另一方面，所述測試項目包括讀寫器解調測試，讀寫器鏈接時序測試以及讀寫器指令集測試。

本發明獲得了以下有益效果：

可對無源UHF RFID標簽讀寫器進行協議有效性測試。

附圖說明

圖1為本發明無源UHF RFID標簽讀寫器測試裝置的結構示意圖；

圖2為本發明無源UHF RFID標簽讀寫器測試方法的流程框圖。

具體實施方式

下面結合附圖和具體實施例對本發明作進一步說明，但不作為本發明的限定。