[發明專利]無源UHF射頻標簽讀寫器多標簽識別能力測試裝置

在審

• 申請號: 201711099845.0
• 申請日: 2017-11-09
• 公開（公告）號: CN107908986A
• 公開（公告）日: 2018-04-13
• 發明（設計）人: 冀京秋;賀明;陳伯俊;張雷
• 申請（專利權）人: 中京復電(上海)電子科技有限公司
• 主分類號: G06K7/00
• 分類號: G06K7/00
• 代理公司: 上海諾衣知識產權代理事務所(普通合伙)31298
• 代理人: 韓國輝

技術領域

本發明涉及射頻標簽技術領域，尤其涉及一種無源UHF射頻標簽讀寫器多標簽識別能力測試裝置及方法。

背景技術

射頻識別技術是二十世紀九十年代興起的一種無線的、非接觸方式的自動識別技術，是近幾年發展起來的前沿科技項目。該技術主要是利用射頻信號通過空間耦合實現無接觸信息傳遞并通過所傳遞的信息達到識別目的。射頻識別技術的顯著優點在于非接觸性，因此完成識別工作時無需人工干預，能夠實現識別自動化且不易損壞；可識別高速運動的射頻標簽，也可同時識別多個射頻標簽，操作快捷方便；射頻標簽不怕油漬、灰塵污染等惡劣環境，且可以穿透非金屬物體進行識別，抗干擾能力強。

現有的射頻標簽技術中，無源UHF RFID(特高頻射頻標簽)被廣泛的應用于物聯網中，其中標簽讀寫器是配合無源UHF RFID工作的主要設備，然而，由于目前缺少對無源UHF RFID標簽讀寫器的測試設備和測試方法，使得各種工作指標不統一的無源UHF RFID標簽讀寫器流入終端領域，造成物聯網或者相應的使用環境工作不穩定。

發明內容

針對現有技術中存在的上述問題，現提供一種無源UHF射頻標簽讀寫器多標簽識別能力測試裝置及方法。

為實現上述目的，本發明采用了如下的技術方案：

一種無源UHF射頻標簽讀寫器多標簽訪問能力測試裝置，其中，包括一移動平臺，所述移動平臺包括一移動部，及一固定部，復數個RFID標簽固定于所述固定部，一待測試RFID標簽讀寫器，所述待測試RFID標簽讀寫器的天線固定于所述移動部上，以及，所述待測試RFID標簽讀寫器的天線與所述固定部的中心具有一預定距離，所述復數個RFID標簽的天線與所述待測試RFID標簽讀寫器的天線之間的方向為最佳耦合方向。

本發明的另一方面，所述預定距離為2米。

本發明的另一方面，所述RFID標簽的工作頻率為920MHz～925MHz。

本發明的另一方面，所述RFID標簽數量為100個。

本發明的另一方面，所述RFID標簽長度小于等于100mm，寬度小于等于20mm。

本發明的另一方面，所述固定部包括一水平的平面，所述平面長1.5米寬1米，離地高度為1米，100個所述RFID標簽均布于所述平面上。

本發明的另一方面，所述待測試RFID標簽讀寫器的天線的極化方式為圓極化，增益為12dBi，所述待測試RFID標簽讀寫器的天線的中心與所述平面的中心等高。

本發明還包括一種無源UHF射頻標簽讀寫器多標簽訪問能力測試方法，其特征在于，應用上述的無源UHF射頻標簽讀寫器多標簽訪問能力測試裝置，還包括如下步驟：

步驟1，根據測試項目定義復數個測試用例，并選取一測試用例；

步驟2，根據選取的所述測試用例設置所述待測試RFID標簽讀寫器參數；

步驟3，使所述待測試RFID標簽讀寫器向所述RFID標簽發送指令；

步驟4，記錄所述待測試RFID標簽讀寫器接收到預定數量的所述RFID標簽正確應答消耗的時間，或者在預設時間內記錄所述待測試RFID標簽讀寫器接收到所述RFID標簽正確應答的數量；

步驟5，選取下一測試用例，并重復所述步驟2至所述步驟4，直至所有所述測試用例測試完畢。

本發明的另一方面，所述步驟4中，如預定數量的所述RFID標簽無法被全部識別，則測試于預定時間后終止。

本發明的另一方面，所述預定時間為80％的所述RFID標簽被識別所耗時間的5倍。

本發明獲得了以下有益效果：

可對無源UHF射頻標簽讀寫器多標簽識別能力進行有效的測試。

附圖說明

圖1為本發明無源UHF射頻標簽讀寫器多標簽識別能力測試裝置的結構示意圖；

圖2為本發明無源UHF射頻標簽讀寫器多標簽識別能力測試方法的流程框圖。

具體實施方式

下面結合附圖和具體實施例對本發明作進一步說明，但不作為本發明的限定。