[發(fā)明專利]無源UHFRFID標(biāo)簽寫入時(shí)間的測(cè)試方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201711099838.0
• 申請(qǐng)日: 2017-11-09
• 公開（公告）號(hào): CN107843832A
• 公開（公告）日: 2018-03-27
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 冀京秋;蔣亦青
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 中京復(fù)電(上海)電子科技有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/28
• 分類號(hào): G01R31/28
• 代理公司: 上海諾衣知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙)31298
• 代理人: 韓國(guó)輝

1.一種無源UHF RFID標(biāo)簽寫入時(shí)間的測(cè)試方法，其特征在于，提供一RFID標(biāo)簽讀寫器及一射頻信號(hào)分析裝置，包括以下步驟：

步驟1，根據(jù)測(cè)試項(xiàng)目定義復(fù)數(shù)個(gè)測(cè)試用例，并選取一測(cè)試用例；

步驟2，根據(jù)選取的所述測(cè)試用例設(shè)置所述RFID標(biāo)簽讀寫器參數(shù)；

步驟3，根據(jù)選取的所述測(cè)試用例設(shè)置所述射頻信號(hào)分析裝置參數(shù)，使所述射頻信號(hào)分析裝置工作于相應(yīng)的信號(hào)分析模式；

步驟4，使所述RFID標(biāo)簽讀寫器以無線形式向一置于電波暗室內(nèi)的待測(cè)試標(biāo)簽發(fā)送指令，使所述待測(cè)試標(biāo)簽處于開放狀態(tài)；

步驟5，使所述射頻信號(hào)分析裝置采集所述RFID標(biāo)簽讀寫器與所述待測(cè)試標(biāo)簽通信過程中的射頻信號(hào)；

步驟6，使所述RFID標(biāo)簽讀寫器發(fā)送第一次寫入命令至所述待測(cè)試標(biāo)簽的第一塊存儲(chǔ)區(qū)，并記錄所述第一次寫入命令的完成時(shí)間；

步驟7，使所述RFID標(biāo)簽讀寫器發(fā)送第一次讀取命令至所述待測(cè)試標(biāo)簽的第一塊存儲(chǔ)區(qū)，已驗(yàn)證所述第一次寫入命令是否成功；

步驟8，使所述RFID標(biāo)簽讀寫器發(fā)送第二次寫入命令至所述待測(cè)試標(biāo)簽的最后一塊存儲(chǔ)區(qū)，并記錄所述第二次寫入命令的完成時(shí)間；

步驟9，使所述RFID標(biāo)簽讀寫器發(fā)送第二次讀取命令至所述待測(cè)試標(biāo)簽的最后一塊存儲(chǔ)區(qū)，已驗(yàn)證所述第二次寫入命令是否成功；

步驟10，選取下一測(cè)試用例，并重復(fù)所述步驟2至所述步驟9，直至所有所述測(cè)試用例測(cè)試完畢。

2.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試方法，其特征在于，還包括天線及環(huán)形器，所述射頻信號(hào)分析裝置的輸入接口連接所述環(huán)形器的第一端口，所述RFID標(biāo)簽讀寫器的射頻接口連接所述環(huán)形器的第二端口，所述環(huán)形器的第三端口連接所述天線，所述天線設(shè)置于所述電波暗室內(nèi)，所述待測(cè)試標(biāo)簽置于所述電波暗室內(nèi)，并與所述天線具有預(yù)定距離。

3.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試方法，其特征在于，所述射頻信號(hào)分析裝置為矢量信號(hào)分析儀。

4.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試方法，其特征在于，所述RFID標(biāo)簽讀寫器的工作頻率為840MHz～845MHz和/或920MHz～925MHz。

5.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試方法，其特征在于，所述電波暗室內(nèi)徑2.5米。

6.如權(quán)利要求2所述的測(cè)試方法，其特征在于，所述預(yù)定距離為1米。

7.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試方法，其特征在于，所述步驟2中，所述RFID標(biāo)簽讀寫器發(fā)射功率設(shè)置為所述待測(cè)試標(biāo)簽的些靈敏度+2dBm。

8.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試方法，其特征在于，所述步驟4中，所述指令為滿足T2要求的啟動(dòng)查詢命令及編碼獲取命令的組合。

9.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試方法，其特征在于，所述步驟6中，記錄所述第一次寫入命令的完成時(shí)間的方法為，測(cè)量所述第一次寫入命令結(jié)束到所述待測(cè)試標(biāo)簽響應(yīng)起始的時(shí)間間隔，并保存；以及所述步驟8中，記錄所述第二次寫入命令的完成時(shí)間的方法為，測(cè)量所述第二次寫入命令結(jié)束到所述待測(cè)試標(biāo)簽響應(yīng)起始的時(shí)間間隔，并保存。

10.如權(quán)利要求2所述的測(cè)試方法，其特征在于，所述天線增益為8.5dBi。