[發明專利]斷層掃描圖像的相似層圖像查找方法和裝置

有效

• 申請號: 201711098324.3
• 申請日: 2017-11-09
• 公開（公告）號: CN107885835B
• 公開（公告）日: 2020-08-28
• 發明（設計）人: 欒欣澤;王曉婷;何光宇;孟健
• 申請（專利權）人: 東軟集團股份有限公司
• 主分類號: G06F16/583
• 分類號: G06F16/583
• 代理公司: 北京清亦華知識產權代理事務所(普通合伙) 11201
• 代理人: 張潤

1.一種斷層掃描圖像的相似層圖像查找方法，其特征在于，包括以下步驟：

獲取同一對象的第一圖像和多個第二圖像；其中，所述第一圖像是第一時刻進行斷層掃描得到的多層圖像中的一層圖像；所述第二圖像是第二時刻進行斷層掃描得到的多層圖像；

對所述第一圖像和每一個所述第二圖像進行特征提取，得到特征點；

針對每一個所述第二圖像，從所述第二圖像的特征點中，確定出與所述第一圖像的特征點匹配的目標特征點；

根據每一個所述第二圖像中所述目標特征點的個數，從多個所述第二圖像中查詢目標特征點的個數最多的待選圖像，若所述待選圖像為至少兩個，查詢每一個所述待選圖像的DICOM信息中Z軸取值；所述DICOM信息中Z軸取值用于指示所在層的位置信息，根據每一個所述待選圖像的DICOM信息中Z軸取值與所述第一圖像的DICOM信息中Z軸取值之間的差值絕對值，從至少兩個所述待選圖像中，確定出所述目標圖像；

從所述待選圖像中確定出與所述第一圖像所在層相似的目標圖像。

2.根據權利要求1所述的相似層圖像查找方法，其特征在于，所述查詢具有所述目標特征點的個數最多的待選圖像之后，還包括：

若所述待選圖像為一個，確定所述待選圖像為所述目標圖像。

3.根據權利要求1-2任一項所述的相似層圖像查找方法，其特征在于，所述針對每一個所述第二圖像，從所述第二圖像的特征點中，確定出與所述第一圖像的特征點匹配的目標特征點之后，還包括：

針對每一個所述第二圖像，采用GTM算法剔除誤匹配的目標特征點。

4.根據權利要求1-2任一項所述的相似層圖像查找方法，其特征在于，所述對所述第一圖像和每一個所述第二圖像進行特征提取，得到特征點，包括：

采用SURF算法，對所述第一圖像和每一個所述第二圖像進行特征提取，得到所述特征點；其中，所述特征點采用Haar小波特征進行描述。

5.根據權利要求1-2任一項所述的相似層圖像查找方法，其特征在于所述，針對每一個所述第二圖像，從所述第二圖像的特征點中，確定出與所述第一圖像的特征點匹配的目標特征點，包括：

對每一個所述第二圖像中的每一個特征點，計算與所述第二圖像的各特征點之間的歐式距離；

根據所述歐式距離，從每一個所述第二圖像中確定出匹配的目標特征點。

6.一種斷層掃描圖像的相似層圖像查找裝置，其特征在于，包括：

獲取模塊，用于獲取同一對象的第一圖像和多個第二圖像；其中，所述第一圖像是第一時刻進行斷層掃描得到的多層圖像中的一層圖像；所述第二圖像是第二時刻進行斷層掃描得到的多層圖像；

提取模塊，用于對所述第一圖像和每一個所述第二圖像進行特征提取，得到特征點；

匹配模塊，用于針對每一個所述第二圖像，從所述第二圖像的特征點中，確定出與所述第一圖像的特征點匹配的目標特征點；

確定模塊，用于根據每一個所述第二圖像中所述目標特征點的個數，從多個所述第二圖像中查詢目標特征點的個數最多的待選圖像，若所述待選圖像為至少兩個，查詢每一個所述待選圖像的DICOM信息中Z軸取值；所述DICOM信息中Z軸取值用于指示所在層的位置信息；根據每一個所述待選圖像的DICOM信息中Z軸取值與所述第一圖像的DICOM信息中Z軸取值之間的差值絕對值，從至少兩個所述待選圖像中，確定出所述目標圖像。

7.根據權利要求6所述的相似層圖像查找裝置，其特征在于，所述確定模塊，還用于：

若所述待選圖像為一個，確定所述待選圖像為所述目標圖像。

8.一種計算機設備，其特征在于，包括存儲器、處理器及存儲在存儲器上并可在處理器上運行的計算機程序，所述處理器執行所述程序時，實現如權利要求1-5中任一所述的斷層掃描圖像的相似層圖像查找方法。

9.一種計算機可讀存儲介質，其上存儲有計算機程序，其特征在于，該程序被處理器執行時實現如權利要求1-5中任一所述的斷層掃描圖像的相似層圖像查找方法。