[發明專利]顯示面板

在審

• 申請號: 201711095724.9
• 申請日: 2017-11-09
• 公開（公告）號: CN109765736A
• 公開（公告）日: 2019-05-17
• 發明（設計）人: 林松君;胡憲堂;劉軒辰;詹建廷
• 申請（專利權）人: 瀚宇彩晶股份有限公司
• 主分類號: G02F1/1362
• 分類號: G02F1/1362
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產權代理有限公司 11205
• 代理人: 吳志紅;臧建明

本發明提供一種顯示面板包括第一基板、相對于第一基板的第二基板以及位于第一基板與第二基板之間的顯示介質。顯示面板還包括多個像素單元、與多個像素單元電性連接的多條數據線及多條掃描線、位于周邊區的第一驅動單元、至少一條測試線以及位于周邊區的至少一個第一接墊。每一條數據線具有相對的第一端與第二端。第一驅動單元與多條數據線的多個第一端電性連接。至少一條測試線與至少部分的多條數據線的多個第二端電性耦接。至少一個測試線利用至少一個第一接墊接地。接地的測試線具有靜電防護的功能，能降低顯示面板的構件(例如：像素單元等)被靜電擊傷的機率。

技術領域

本發明涉及一種顯示面板。

背景技術

一般而言，顯示面板的進程大致上可分為陣列(Array)段、晶胞(cell)段及模組(module)段。在陣列段中，像素單元等構件被制作于第一基板上，以形成像素陣列基板。在晶胞段中，組立像素陣列基板、顯示介質及第二基板，以形成面板(panel)。在模組段中，驅動晶片等模組段構件被接合于像素陣列基板上，進而完成顯示面板。一般而言，為減少模組段構件的浪費，在進入模組段前，面板(panel)需經過測試(cell test)，通過測試、品質無虞的面板才能進入模組段，進而被制成顯示面板。

為測試面板(panel)，像素陣列基板上設有與像素單元電性連接的測試電路。測試電路包括測試開關、接墊以及電性連測試開關與接墊的測試線。在現有技術中，測試開關多設置于驅動晶片的預定設置區；即完成顯示面板后，測試開關會位在驅動晶片下方。然而，隨著解析度(resolution)提高。驅動晶片下方的面積不足，無法設置測試開關。此外，在顯示面板完成后，測試線并無特別作用，造成周邊區的布局(layout)面積浪費。

發明內容

本發明的實施例是針對一種顯示面板，顯示面板的測試線具有靜電防護效果。

根據本發明的實施例，顯示面板包括第一基板、多個像素單元、多條數據線及多條掃描線、第一驅動單元、至少一條測試線、至少一個第一接墊、第二基板以及顯示介質。第一基板具有工作區及工作區外的周邊區。多個像素單元位于工作區。多條數據線及多條掃描線位于工作區且與多個像素單元電性連接。多條數據線與多條掃描線彼此交越。每一條數據線具有相對的第一端與第二端。第一驅動單元位于周邊區且與多條數據線的多個第一端電性連接。至少一條測試線位于周邊區且與至少部分的多條數據線的多個第二端電性耦接。至少一個第一接墊位于第一基板上且與至少一條測試線電性連接，而至少一條測試線利用至少一個第一接墊接地。第二基板相對于第一基板。顯示介質位于第一基板與第二基板之間。

基于上述，本發明的實施例的顯示面板包括與數據線電性耦接的測試線。至少一條測試線利用第一接墊接地。接地的至少一測試線具有靜電防護的功能，能降低顯示面板的構件(例如：像素單元等)被靜電擊傷的機率。

附圖說明

包含附圖以便進一步理解本發明，且附圖并入本說明書中并構成本說明書的一部分。附圖說明本發明的實施例，并與描述一起用于解釋本發明的原理。

圖1為本發明一實施例的顯示面板的上視示意圖；

圖2為本發明一實施例的顯示面板的剖面示意圖；

圖3為本發明另一實施例的顯示面板的上視示意圖。

附圖標號說明

100、100A：顯示面板；

110：第一基板；

110a：工作區；

110b、110c、110d、110e：周邊區；

120R、120G、120B：像素單元；

122：開關元件；

124：像素電極；