[發明專利]一種短PIN數碼管的半成品測試裝置和方法

在審

• 申請號: 201711094836.2
• 申請日: 2017-11-09
• 公開（公告）號: CN107741558A
• 公開（公告）日: 2018-02-27
• 發明（設計）人: 曹聰
• 申請（專利權）人: 江蘇穩潤光電科技有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26;G01R31/44
• 代理公司: 南京經緯專利商標代理有限公司32200
• 代理人: 張惠忠

技術領域

本發明涉及LED技術領域，特別是一種短PIN數碼管的半成品測試裝置和方法。

背景技術

數碼管也稱LED數碼管，不同行業人士對數碼管的稱呼不一樣，其實都是同樣的產品。

按發光二極管單元連接方式可分為共陽極數碼管和共陰極數碼管。共陽數碼管是指將所有發光二極管的陽極接到一起形成公共陽極(COM)的數碼管，共陽數碼管在應用時應將公共極COM接到+5V，當某一字段發光二極管的陰極為低電平時，相應字段就點亮，當某一字段的陰極為高電平時，相應字段就不亮。共陰數碼管是指將所有發光二極管的陰極接到一起形成公共陰極(COM)的數碼管，共陰數碼管在應用時應將公共極COM接到地線GND上，當某一字段發光二極管的陽極為高電平時，相應字段就點亮，當某一字段的陽極為低電平時，相應字段就不亮。

數碼管要正常顯示，就要用驅動電路來驅動數碼管的各個段碼，從而顯示出我們要的數字，因此根據數碼管的驅動方式的不同，可以分為靜態式和動態式兩類。

靜態驅動也稱直流驅動。靜態驅動是指每個數碼管的每一個段碼都由一個單片機的I/O端口進行驅動，或者使用如BCD碼二-十進制譯碼器譯碼進行驅動。靜態驅動的優點是編程簡單，顯示亮度高，缺點是占用I/O端口多，如驅動5個數碼管靜態顯示則需要5×8=40根I/O端口來驅動，要知道一個89S51單片機可用的I/O端口才32個，實際應用時必須增加譯碼驅動器進行驅動，增加了硬件電路的復雜性。

數碼管動態顯示接口是單片機中應用最為廣泛的一種顯示方式之一，動態驅動是將所有數碼管的8個顯示筆劃"a,b,c,d,e,f,g,dp"的同名端連在一起，另外為每個數碼管的公共極COM增加位選通控制電路，位選通由各自獨立的I/O線控制，當單片機輸出字形碼時，所有數碼管都接收到相同的字形碼，但究竟是哪個數碼管會顯示出字形，取決于單片機對位選通COM端電路的控制，所以我們只要將需要顯示的數碼管的選通控制打開，該位就顯示出字形，沒有選通的數碼管就不會亮。通過分時輪流控制各個數碼管的的COM端，就使各個數碼管輪流受控顯示，這就是動態驅動。在輪流顯示過程中，每位數碼管的點亮時間為1～2ms，由于人的視覺暫留現象及發光二極管的余輝效應，盡管實際上各位數碼管并非同時點亮，但只要掃描的速度足夠快，給人的印象就是一組穩定的顯示數據，不會有閃爍感，動態顯示的效果和靜態顯示是一樣的，能夠節省大量的I/O端口，而且功耗更低。

目前數碼管短PIN測試起來比較困難，當PIN長度尺寸小于6.4mm時，半成品測試時由于腿短，半成品會直接貼合在固定測試夾具上，操作工不易取出半成品，容易碰到焊好的鋁線與固好的晶片，造成半成品缺亮異常。

發明內容

本發明所要解決的技術問題是針對背景技術的不足提供了一種短PIN數碼管的半成品測試裝置和方法，其與原半成品直接放入固定測試夾具測試對比操作更簡單，取出測試后的半成品更方便，避免了操作人員碰到鋁線跟晶片而導致缺亮異常。

本發明為解決上述技術問題采用以下技術方案：

一種短PIN數碼管的半成品測試方法，包括如下步驟：

步驟一，根據待測數碼管的尺寸，推動變距板是使得兩個排針母座的排距與待測數碼管尺寸適配，然后將變距板上的限位板插入到限位槽中；

步驟二，將待測數碼管的PIN針插入到排針母座的排針中；

步驟三，閉合夾緊開關并進行測試。

一種短PIN數碼管的半成品測試裝置，固定測試夾具和夾緊開關，所述固定測試夾具上滑動設置有兩個排針母座，兩個排針母座能夠相對或相背滑動，排針母座的外側設置有彈簧，所述彈簧使兩個排針母座具有相對滑動的趨勢；兩個排針母座之間設置有梯形的變距板，排針母座內側與變距板兩斜邊適配，變距板的端部設置有限位板，兩個排針母座之間設置有限位槽。

進一步的，所述限位槽處設置有刻度線。

進一步的，所述排針母座上的排針間距為2.54mm。

進一步的，所述變距板的一端設置有推板。

進一步的，所述排針母座內側設置有供變距板滑動的滑槽。

本發明采用以上技術方案與現有技術相比，具有以下技術效果：

1、本發明采用的排針母座固定測試，利用在固定測試夾具上添加一個2.54mm間距的排針母座，提升了高度，短PIN產品不會再貼合在測試夾具上，測試完后，取出很方便，且不會碰到焊好的鋁線跟固好的晶片。與原半成品直接放入固定測試夾具測試對比操作更簡單，取出測試后的半成品更方便，避免了操作人員碰到鋁線跟晶片而導致缺亮異常；