[發明專利]一種對不規則物體輪廓的檢測方法有效
| 申請號: | 201711091405.0 | 申請日: | 2017-11-08 |
| 公開(公告)號: | CN107843210B | 公開(公告)日: | 2020-02-11 |
| 發明(設計)人: | 潘峰 | 申請(專利權)人: | 深圳市汯沐科技有限公司 |
| 主分類號: | G01B11/24 | 分類號: | G01B11/24 |
| 代理公司: | 44275 深圳市博銳專利事務所 | 代理人: | 張明 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市寶*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 不規則物體 預設 光源 電子信號 發散光 扇面 檢測 輪廓線 實測 間接檢測 均勻設置 首尾相連 散射 反射 | ||
1.一種對不規則物體輪廓的檢測方法,其特征在于,包括步驟:
S0:將若干個預設光源呈環形均勻設置,將所述不規則物體設置于所述若干個預設光源所圍成的環形的中間;
S1:對每個預設光源依次執行如下步驟:
S11、將所述預設光源發出的光線進行散射,生成若干個具有規則間隔的扇面發散光,根據所述若干個扇面發散光,生成具有波峰的標準參照電子信號,所述生成具有波峰的標準參照電子信號具體包括:設置標準參照面,得到各扇面發散光對應于所述標準參照面上的線段,檢測標準參照面上扇面發散光對應的線段,得到標準參照電子信號;將得到的標準參照電子信號均分為N等分,求得每個扇面發散光各自對應的波峰所占的標準等分數,N為大于1的整數;
S12、將所述若干個扇面發散光射向所述不規則物體,檢測經所述不規則物體反射的發散光,得到具有波峰的實測電子信號;將實測電子信號也均分為N等分,得到每個扇面發散光各自對應的波峰所占的實測等分數;
S13、根據所述標準參照電子信號和實測電子信號,得到對應所述預設光源的所述不規則物體的輪廓線,具體包括:S31、根據所述標準等分數、實測等分數及所述扇面發散光對應標準參照面上的線段長度,得到各扇面發散光內平行于標準參照面的實測輪廓線段;S32、將相鄰兩個所述實測輪廓線段首尾相連,得到對應所述預設光源的不規則物體輪廓線;
S2:將相鄰預設光源對應的兩個輪廓線首尾相連得到所述不規則物體的輪廓。
2.根據權利要求1所述的對不規則物體輪廓的檢測方法,其特征在于:S1中生成標準參照電子信號具體包括:建立二維坐標系,得到各扇面發散光兩側邊與X軸的交點,檢測X軸上扇面發散光對應的線段,得到標準參照電子信號。
3.根據權利要求2所述的對不規則物體輪廓的檢測方法,其特征在于:在步驟S11之后還包括步驟:將得到的標準參照電子信號均分為N等分,求得每個扇面發散光各自對應的波峰所占的標準等分數,N為大于1的整數。
4.根據權利要求3所述的對不規則物體輪廓的檢測方法,其特征在于:在步驟S12之后還包括步驟:將實測電子信號也均分為N等分,得到每個扇面發散光各自對應的波峰所占的實測等分數。
5.根據權利要求4所述的對不規則物體輪廓的檢測方法,其特征在于:步驟S13具體包括:S31、根據所述標準等分數、實測等分數及所述扇面發散光對應X軸上的長度,得到各扇面發散光內平行于X軸的實測輪廓線段;S32、根據S1得到的扇面發散光兩側邊與X軸的交點及S31得到的實測輪廓線段,求得實測輪廓線段遠離Y軸的端點坐標;S33、將多個所述端點坐標依次相連得到所述不規則物體的輪廓線。
6.根據權利要求5所述的對不規則物體輪廓的檢測方法,其特征在于:實測輪廓線段長度的求解公式為:BC=DE×(n1÷n0),其中,BC為實測輪廓線段長度,DE為扇面發散光對應X軸上的長度,n1為實測等分數,n0為標準等分數。
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