[發明專利]一種新型分體式顱內覆膜支架系統及其使用方法有效
| 申請號: | 201711088212.X | 申請日: | 2017-11-08 |
| 公開(公告)號: | CN107638230B | 公開(公告)日: | 2020-07-03 |
| 發明(設計)人: | 管生;田浩;劉過;徐浩文;郭新賓;閆保君 | 申請(專利權)人: | 管生 |
| 主分類號: | A61F2/07 | 分類號: | A61F2/07;A61F2/95 |
| 代理公司: | 長沙星耀專利事務所(普通合伙) 43205 | 代理人: | 許伯嚴 |
| 地址: | 450052 河南省*** | 國省代碼: | 河南;41 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 新型 體式 顱內覆膜 支架 系統 及其 使用方法 | ||
本發明公開了一種新型分體式顱內覆膜支架系統,其包括自膨支架系統、輸送導管和單獨成結構的具有可電解脫長推送桿的膜桶結構系統;所述的膜桶結構系統包括設置在兩端的支撐環和兩支撐環之間設置的多根X光下可見的合金金屬絲,兩支撐環和多根合金金屬絲構成的框架結構外或內整體包或襯有膜。本發明保障了自膨局部覆膜支架這種理想治療方式在臨床的安全實施;對部分顱內動脈瘤可實現即刻持久的有效封堵,避免了密網支架和傳統裸支架輔助彈簧圈栓塞的諸多不足之處;本發明因為采用了自膨式支架系統支撐膜桶結構,其順應性以及貼壁性較現有的球擴激光雕刻型全覆膜支架優勢明顯,克服了后者嚴重弊端,將有助于提高臨床安全性和疾病治愈率。
技術領域
本發明涉及一種新型分體式顱內覆膜支架系統及其使用方法。
背景技術
對于顱內大動脈瘤尤其頸內動脈床突上段大囊窄頸造影可見瘤頸有噴射征的顱內破裂和未破裂動脈瘤,目前常規治療包括密網支架都有很高的復發率,現有唯一的willis覆膜支架是球擴式激光雕刻型支架外縫膜,支架常常難以順應顱內迂曲血管,最終因順行性差、貼壁不良出現近端內瘺而增加手術操作風險,甚至導致嚴重并發癥。
覆膜支架治療顱內動脈瘤的原理是在載瘤動脈內置入一種生物-物理屏障的支架,在保持載瘤動脈通暢的情況下,隔離動脈瘤并使內部形成血栓,從而達到治愈病變的目的,在無重要分支血管毗鄰的寬頸、巨大、夾層或假性動脈瘤等的治療中有著較大優勢。現有唯一的willis覆膜支架是球擴式激光雕刻型支架外縫膜,由鈷基合金支架和聚四氟乙烯膜組成。這種支架存在以下問題:①覆膜支架到位失敗:支架不能保證順利到達病變部位,尤其是路徑動脈迂曲患者;②血管撕裂:在迂曲明顯的血管段置放支架,由于球囊膨脹時使迂曲血管拉直,造成血管壁撕裂或所屬部位分支動脈撕拉、損傷,導致致命的出血;③覆膜支架貼壁不良:造成近端內瘺,增加手術風險。
血流導向裝置治療顱內動脈瘤的原理是通過改變血流方向促進動脈瘤內血流淤滯和緩慢血栓形成,促進支架內的內皮細胞和新生內膜組織增生,依靠瘤頸的逐漸內膜化,一定時期后最終達到修復載瘤動脈的作用,從而達到治愈病變的目的。血流導向裝置是一種低網孔率和高金屬覆蓋率的密網支架,具有血流動力學和生物學的效應。這種支架存在以下問題:①支架輸送困難、釋放后支架移位、難以預料的支架短縮等;②動脈瘤遲發性破裂:遲發破裂的確切原因不完全清楚,應該跟瘤頸口不能實現即刻有效封堵有關;③載瘤動脈血栓形成或穿通支閉塞:側支或穿通支閉塞在多枚支架置入時容易發生,可能導致嚴重并發癥;④術后動脈瘤破裂或動脈瘤復發的風險:支架置入后動脈瘤瘤囊內逐漸血栓化,術后一定時期內囊內壓可能增高,從而有癥狀加重或動脈瘤破裂的風險,而且即使造影顯示整個動脈瘤不再顯影,但瘤頸口未必有內膜化,仍有復發的可能。
發明內容
本發明要解決的技術問題是克服現有激光雕刻球擴式覆膜支架技術的缺陷,提供一種可行的解決方案。
為了解決上述技術問題,本發明提供了如下的技術方案:
本發明的一個方面公開了一種新型分體式顱內覆膜支架系統,其包括支架系統、輸送導管和單獨成結構的具有可電解脫長推送桿的膜桶結構系統;膜桶結構系統包括兩端的支撐環和兩支撐環之間的多根X光下可見的合金金屬絲,所述兩支撐環和多根合金金屬絲構成的結構外整體包或襯有膜。
進一步地,所述的膜是聚四氟乙烯膜。
進一步地,所述的支架系統是自膨式支架。
本發明的另一個方面公開了一種新型分體式顱內覆膜支架系統的使用方法,其包括以下步驟:
S1、膜桶結構引入、定位:首先經導引導管配合微導絲將輸送導管引至瘤頸口遠端,將輸送導管頭端置于動脈瘤頸口遠端載瘤動脈內,退出微導絲,將膜桶結構經輸送導管推送至輸送導管遠端并完全越過瘤頸;
S2、膜桶結構釋放:固定推送桿回撤輸送導管,使膜桶結構在瘤頸口遠端載瘤動脈腔內張開,固定推送桿,退出輸送導管;
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于管生,未經管生許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201711088212.X/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:待測裝置、測試器及用于測試待測裝置的方法
- 下一篇:封裝件結構及其形成方法





