[發(fā)明專利]一種針對處理器的自動化測試方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201711086977.X | 申請日： | 2017-11-07 |
| 公開（公告）號： | CN107908509A | 公開（公告）日： | 2018-04-13 |
| 發(fā)明（設計）人： | 曾濤;萬勇 | 申請（專利權）人： | 晶晨半導體(上海)股份有限公司 |
| 主分類號： | G06F11/22 | 分類號： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 上海申新律師事務所31272 | 代理人： | 俞滌炯 |
| 地址： | 201203 上海市浦東新區(qū)張江*** | 國省代碼： | 上海;31 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 針對 處理器 自動化 測試 方法 | ||
1.一種針對處理器的自動化測試方法，其特征在于，包括：
步驟S1，進行測試準備；
步驟S2，設置待測試的處理器的運行電壓和時鐘頻率；
步驟S3，以當前所述運行電壓和所述時鐘頻率進行負載測試；
步驟S4，判斷所述處理器進行當前所述負載測試時是否正常；
若是，則轉向步驟S5；若否，則將當前所述運行電壓提升一第一增長值并返回所述步驟S2；
步驟S5，記錄當前所述時鐘頻率對應的通過所述負載測試的所述運行電壓作為測試結果，并判斷當前所述時鐘頻率是否達到上限；
若是，則結束；若否，則將當前所述時鐘頻率提升一第二增長值并返回所述步驟S2。
2.根據(jù)權利要求1所述的自動化測試方法，其特征在于，還包括：
步驟S6，重復所述步驟S1～S5獲得多個所述測試結果，當多個所述測試結果不同時，取多個所述測試結果中每個所述時鐘頻率對應的所述運行電壓中電壓值最大的作為最終測試結果進行輸出。
3.根據(jù)權利要求2所述的自動化測試方法，其特征在于，每個所述測試結果由不同的測試平臺得到。
4.根據(jù)權利要求1所述的自動化測試方法，其特征在于，所述步驟S1包括：
步驟S11，加載并解析設置有測試數(shù)據(jù)的一配置文件；
步驟S12，初始化相關的測試數(shù)據(jù)的結構；
步驟S13，獲取測試的初始的所述運行電壓和所述時鐘頻率。
5.根據(jù)權利要求4所述的自動化測試方法，其特征在于，所述步驟S13中，從所述配置文件中獲取首次測試的所述運行電壓和所述時鐘頻率。
6.根據(jù)權利要求4所述的自動化測試方法，其特征在于，所述配置文件包括命令信息，測試周期信息，電壓修改命令信息，和/或頻率修改命令信息。
7.根據(jù)權利要求6所述的自動化測試方法，其特征在于，所述配置文件還包括處理器內(nèi)核參數(shù)信息。
8.根據(jù)權利要求1所述的自動化測試方法，其特征在于，所述步驟S5中，結束時同時生成反映所述測試結果的結果文件。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于晶晨半導體(上海)股份有限公司，未經(jīng)晶晨半導體(上海)股份有限公司許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權和技術合作，請聯(lián)系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201711086977.X/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
