[發明專利]一種激光分系統綜合測試設備

有效

• 申請號: 201711086757.7
• 申請日: 2017-11-07
• 公開（公告）號: CN108051182B
• 公開（公告）日: 2020-02-21
• 發明（設計）人: 吳李宗;張德祥;王錦華;陳軒
• 申請（專利權）人: 揚州科萊光電技術有限公司
• 主分類號: G01M11/00
• 分類號: G01M11/00
• 代理公司: 北京聯瑞聯豐知識產權代理事務所(普通合伙) 11411
• 代理人: 黃冠華

1.一種激光分系統綜合測試設備，其特征在于：包括控制柜、操作顯示平臺、功率測量裝置和光學平臺，所述控制柜、操作顯示平臺、功率測量裝置均設置在光學平臺上表面，所述功率測量裝置和操作顯示平臺平行設置在控制柜的一側，所述控制柜內部依次設置有大口徑離軸拋物面反射式平行光管、模擬測程裝置和光軸精度測量裝置，所述大口徑離軸拋物面反射式平行光管的光束出射平行性≤5″，有效光學口徑為Φ300mm，所述功率測量裝置包括聚焦光學鏡頭、光闌、反射鏡組、功率計、外殼和移動導軌，所述外殼設置在移動導軌上，所述外殼的一側設置有開口，所述聚焦光學鏡頭設置在開口處，所述光闌設置在聚焦光學鏡頭外部，所述反射鏡組和功率計相對設置在外殼內部。

2.根據權利要求1所述的一種激光分系統綜合測試設備，其特征在于：所述大口徑離軸拋物面反射式平行光管為全波段平行光管，包括依次設置的離軸拋物面反射鏡、折光反射鏡和目標靶。

3.根據權利要求2所述的一種激光分系統綜合測試設備，其特征在于：還包括靶切換導軌，所述靶切換導軌與目標靶相連，所述靶切換導軌包括二維伺服導軌和依次設置在二維伺服導軌上方的尋像指示激光、1064nm模擬激光點光源、帶照明可見自準直分劃板和激光靶。

4.根據權利要求2所述的一種激光分系統綜合測試設備，其特征在于：所述離軸拋物面反射鏡的外形尺寸為Φ320mmX45mm，母拋物面焦距為2500mm±5％，面形誤差為RMS≤1/20λ，λ＝0.6328μm，表面鍍膜反射率≥90％。

5.根據權利要求1所述的一種激光分系統綜合測試設備，其特征在于：所述模擬測程裝置包括光學陷阱、光電探測器、高速觸發器、精密延時器、1064nm模擬激光光源和大口徑離軸拋物面反射式平行光管，所述光學陷阱用于收集來自產品發射的激光，所述光電探測器設置在光學陷阱內，所述高速觸發器、精密延時器和1064nm模擬激光光源依次相連。