[發(fā)明專利]調(diào)整雙極性結(jié)型晶體管像素的方法和相關(guān)影像傳感器裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201711084578.X | 申請日： | 2017-11-07 |
| 公開（公告）號： | CN109698911B | 公開（公告）日： | 2020-09-29 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 林煒績 | 申請（專利權(quán)）人： | 原相科技股份有限公司 |
| 主分類號： | H04N5/235 | 分類號： | H04N5/235;H04N5/351;H04N5/355 |
| 代理公司： | 深圳市世紀(jì)恒程知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 44287 | 代理人： | 胡海國 |
| 地址： | 中國臺灣新竹*** | 國省代碼： | 臺灣;71 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 調(diào)整 極性 晶體管 像素 方法 相關(guān) 影像 傳感器 裝置 | ||
1.一種調(diào)整影像傳感器裝置的像素數(shù)組的雙極性結(jié)型晶體管像素的方法，包括：
獲取由所述雙極性結(jié)型晶體管像素所感測的第一影像的表面質(zhì)量信號與對應(yīng)于所述第一影像的快門開啟時間中的至少一者；
以及根據(jù)所述第一影像的所述表面質(zhì)量信號與對應(yīng)于所述第一影像的所述快門開啟時間中的所述至少一者來自適應(yīng)地調(diào)整所述雙極性結(jié)型晶體管像素的用于感測第二影像的預(yù)閃光時間；
其中所述第二影像在時間上落后于所述第一影像。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，還包括以下產(chǎn)生步驟：
通過使用所述雙極性結(jié)型晶體管像素來進(jìn)行感測，以取得所述第一影像；
計算所述第一影像的所述表面質(zhì)量信號，所述表面質(zhì)量信號用以指出所述第一影像的影像特征的強(qiáng)度；
以及依據(jù)計算出的表面質(zhì)量信號來產(chǎn)生控制信號。
3.如權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，還包括以下產(chǎn)生步驟：
取得對應(yīng)于所述第一影像的所述快門開啟時間；
以及依據(jù)所述快門開啟時間來產(chǎn)生所述控制信號。
4.如權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，還包括以下產(chǎn)生步驟：
通過使用所述雙極性結(jié)型晶體管像素來進(jìn)行感測，以取得所述第一影像；
計算所述第一影像的所述表面質(zhì)量信號，所述表面質(zhì)量信號用以指出所述第一影像的影像特征的強(qiáng)度；
取得對應(yīng)于所述第一影像的所述快門開啟時間；
以及依據(jù)計算出的表面質(zhì)量信號以及所取得的所述快門開啟時間來產(chǎn)生所述控制信號。
5.如權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，還包括以下自適應(yīng)調(diào)整步驟：
當(dāng)偵測到所述控制信號指出所述表面質(zhì)量信號的值大于閥值時，縮短所述雙極性結(jié)型晶體管像素的用于感測所述第二影像的所述預(yù)閃光時間；
以及當(dāng)偵測到所述控制信號指出所述表面質(zhì)量信號的所述值小于所述閥值時，延長所述雙極性結(jié)型晶體管像素的用于感測所述第二影像的所述預(yù)閃光時間。
6.如權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，還包括以下自適應(yīng)調(diào)整步驟：
當(dāng)偵測到所述控制信號指出所述快門開啟時間變短時，縮短所述雙極性結(jié)型晶體管像素的用于感測所述第二影像的所述預(yù)閃光時間；
以及當(dāng)偵測到所述控制信號指出所述快門開啟時間變長時，延長所述雙極性結(jié)型晶體管像素的用于感測所述第二影像的所述預(yù)閃光時間。
7.如權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，還包括以下自適應(yīng)調(diào)整步驟：
當(dāng)偵測到所述控制信號指出所述表面質(zhì)量信號的值大于閥值且所述快門開啟時間變短時，縮短所述雙極性結(jié)型晶體管像素的用于感測所述第二影像的所述預(yù)閃光時間。
8.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，還包括以下自適應(yīng)調(diào)整步驟：
將所述雙極性結(jié)型晶體管像素的用于感測所述第二影像的所述預(yù)閃光時間從第一預(yù)定狀態(tài)調(diào)整至第二預(yù)定狀態(tài)。
9.如權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，還包括以下自適應(yīng)調(diào)整步驟：
依據(jù)特定方程式來調(diào)整所述雙極性結(jié)型晶體管像素的用于感測所述第二影像的所述預(yù)閃光時間，其中所述特定方程式用以根據(jù)所述控制信號來計算所述預(yù)閃光時間的目標(biāo)值。
10.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一影像以及所述雙極性結(jié)型晶體管像素所感測的所述第二影像是通過使用發(fā)光二極管電路發(fā)光至特定表面并且感測從所述特定表面反射的光的強(qiáng)度來產(chǎn)生。
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