[發明專利]雷達散射面有效面積檢測裝置與方法

在審

• 申請號: 201711080373.4
• 申請日: 2017-11-06
• 公開（公告）號: CN107884754A
• 公開（公告）日: 2018-04-06
• 發明（設計）人: 江明;張逸然;胡俊
• 申請（專利權）人: 電子科技大學
• 主分類號: G01S7/40
• 分類號: G01S7/40
• 代理公司: 北京超凡志成知識產權代理事務所(普通合伙)11371
• 代理人: 鄧超

1.一種目標對象的雷達散射面有效面積檢測裝置，其特征在于，所述目標對象的雷達散射面有效面積檢測裝置包括：

信息獲得單元，用于獲得一輸入的目標對象；

幾何建模單元，用于對所述目標對象進行幾何建模，從而獲得可識別對象；

幾何離散單元，用于對所述可識別對象表面不同的區域進行不同網格面積的幾何離散，從而獲得幾何離散目標；

有效面積計算單元，用于依據場點與源點之間的距離、所述幾何離散目標的散射場強、入射波到幾何離散目標的場強以及不同的區域進行不同網格面積計算幾何離散目標在電磁波照射下的雷達散射面有效面積。

2.根據權利要求1所述的目標對象的雷達散射面有效面積檢測裝置，其特征在于，所述有效面積計算單元用于依據算式計算幾何離散目標在電磁波照射下的雷達散射面有效面積，其中，r為場點與源點之間的距離，為入射波到幾何離散目標的場強，為幾何離散目標的散射場強，σ為雷達散射面有效面積，θ為散射場的θ分量，為散射場的分量，θⁱ為入射場的θ分量，為入射場的分量，其中，為依據不同的區域進行不同網格面積計算而得。

3.根據權利要求2所述的目標對象的雷達散射面有效面積檢測裝置，其特征在于，所述有效面積計算單元還用于依據RWG基函數、平衡切向電場的殘差、阻抗邊界-電場積分方程的殘差、阻抗邊界-磁場積分方程的殘差、電流邊界內罰因子的對應的殘差項、磁流邊界內罰因子的對應的殘差項、不同的區域的網格面積、三角面元的圍線方向向量與三角面元的法向量計算出表面等效電流，并依據表面等效電流計算入射波到幾何離散目標的場強。

4.根據權利要求3所述的目標對象的雷達散射面有效面積檢測裝置，其特征在于，所述有效面積計算單元用于依據算式

c1<f~,R(1)>∂Ω+c2<f~,R(3)>∂Ω-βjk0<t~·f~,R(4)>C+c3<t~·f~,R(6)>C+c4<n~×f~,R(2)>∂Ω+c5<n~×f~,R(3)>∂Ω-βjk0<t~·f~,R(5)>C+c6<t~·f~,R(7)>C=0]]>

計算入射波到幾何離散目標的場強，其中，c₁＝c₂＝c₄＝1，c₃＝c₅＝c₆＝-1，為RWG基函數，R⁽¹⁾為平衡切向電場的殘差，R⁽²⁾為阻抗邊界-電場積分方程的殘差，R⁽³⁾阻抗邊界-磁場積分方程的殘差，R⁽⁴⁾、R⁽⁶⁾為電流邊界內罰因子的對應的殘差項，R⁽⁵⁾、R⁽⁷⁾磁流邊界內罰因子的對應的殘差項，為三角面元的圍線方向向量、為三角面元的法向量，β＝0.1h，h為不同的區域的網格面積，k₀為真空中的波數，j為虛數單位。