[發明專利]一種大掃描角滑動聚束SAR衛星系統相對輻射性能測量方法

有效

• 申請號: 201711080245.X
• 申請日: 2017-11-06
• 公開（公告）號: CN109752697B
• 公開（公告）日: 2020-03-10
• 發明（設計）人: 康利鴻;孫希龍;田菁;黃建軍;郝繼剛
• 申請（專利權）人: 中國人民解放軍61646部隊
• 主分類號: G01S7/40
• 分類號: G01S7/40
• 代理公司: 北京知匯林知識產權代理事務所(普通合伙) 11794
• 代理人: 董濤

1.一種大掃描角滑動聚束SAR衛星系統相對輻射性能測量方法，其特征在于，該方法包括如下操作步驟：

步驟一：成像區域選取，在SAR衛星及其地面數據處理系統已完成系統性能調優后，選擇雷達后向散射均勻的場景作為成像區域；

步驟二：成像處理及距離衰減校正，對成像區域回波進行成像處理，并對距離衰減進行校正，獲得單視復圖像I_X×Y，其中，X為圖像的方位向像元數目，Y為圖像的距離向像元數目；

步驟三：非均勻散射區域剔除，剔除圖像中明顯的散射非均勻區域，以消除其對后續相對輻射性能測量的不利影響；

步驟四：利用一定的矩形窗口對圖像進行平滑處理，降低噪聲影響，獲得幅度圖像A；根據對相對輻射起伏特性和噪聲水平的預估，同時綜合考慮以下兩個因素，一是相對輻射性能曲面特性的保持，二是對噪聲的平滑效果，具體確定窗口的大小；

步驟五：根據雷達參數確定平滑后幅度圖像A的每個像元A_xy對應的方位角α和下視角β，所述雷達參數包括雷達的方位向掃描范圍和距離向波束寬度；

步驟六：以方位角α和下視角β為變量，對平滑后的幅度圖像A進行二維曲面多項式擬合，以獲得擬合后的相對輻射性能二維曲面A′，擬合階數為偶數。

2.根據權利要求1所述的一種大掃描角滑動聚束SAR衛星系統相對輻射性能測量方法，其特征在于，步驟六中，擬合階數取4，擬合后的相對輻射性能二維曲面A′的形式如下，

A′＝c₀₀+c₁₀α+c₀₁β+c₂₀α²+c₁₁αβ+c₀₂β²+c₃₀β³+c₂₁α²β+c₁₂αβ²+c₀₃β³+c₄₀α⁴+c₃₁α³β+c₂₂α²β²+c₁₃αβ³+c₀₄β⁴

其中，c為擬合得到的多項式系數。

3.根據權利要求1所述的一種大掃描角滑動聚束SAR衛星系統相對輻射性能測量方法，其特征在于，如果成像區域均勻性較差，圖像的信噪比較高，可在步驟四之后，步驟五之前，使用相同波位的多幅圖像進行平均處理，進一步降低噪聲影響。