[發明專利]基于紅外熱像軸線溫度識別的復合絕緣子界面缺陷鑒別方法

有效

• 申請號: 201711079351.6
• 申請日: 2017-11-06
• 公開（公告）號: CN107831423B
• 公開（公告）日: 2019-12-13
• 發明（設計）人: 陳林聰;肖雄;王建國;陳曉琳;童瑤;李欣然;黃煥;張薇
• 申請（專利權）人: 海南電網有限責任公司電力科學研究院
• 主分類號: G01R31/12
• 分類號: G01R31/12;G01N25/72
• 代理公司: 42222 武漢科皓知識產權代理事務所(特殊普通合伙)
• 代理人: 魯力

1.一種基于紅外熱像軸線溫度識別的復合絕緣子界面缺陷鑒別方法，其特征在于，基于一個軸線溫度-長度分布曲線，該曲線定義如下：

定義一、發熱段：分別以10K和40K作為溫升參考值，用加壓前試品的表面溫度加上溫升參考值，得到相應的溫度參考值，以每一個溫度參考值為縱坐標，在軸線溫度-長度分布曲線作出一條水平線，曲線位于該水平線之上的部分即定義為發熱段；

定義二、發熱段位置：發熱段中心的橫坐標x；

定義三、發熱段長度：發熱段首、尾兩點之間橫坐標之差;

定義四、發熱段最大溫度：發熱段中出現的峰值點縱坐標y；

包括以下步驟：

步驟1、將被檢復合絕緣子從運行線路取下，清潔其表面，放入沸騰的氯化鈉水溶液中進行水煮試驗，水煮設定時間后，將被檢試品取出，待其自然冷卻后測量其表面溫度并記錄；

步驟2、在被檢試品上比例施加工頻電壓，加壓過程持續設定時間；

步驟3、用紅外熱像儀測量試品表面溫度，取得復合絕緣子加壓后的紅外熱像圖，對紅外熱像圖中的數據進行分析處理，得到試品軸線溫度-長度分布曲線，并據此進行界面缺陷鑒別，得到軸線溫度-長度分布曲線的具體方法是：

步驟301、在紅外熱像圖中找到試品所在區域，提取出該區域中每個像素點的溫度值，沿著試品軸向方向，在每個軸向位置處選出該處徑向上的溫度最大值，作為該軸向位置處的溫度；

步驟302、以試品加壓段的一端為起點，軸向長度為橫坐標，軸向位置處的溫度為縱坐標，即得到試品的軸線溫度-長度分布曲線；

步驟4、按照界面缺陷鑒別準則對被檢試品界面性能進行評估，界面缺陷鑒別準則包括：

鑒別準則一、溫升高于20K的發熱段超過設定長度；

鑒別準則二、出現溫升達到設定的發熱段。

2.根據權利要求1所述的基于紅外熱像軸線溫度識別的復合絕緣子界面缺陷鑒別方法，其特征在于，在所述步驟1中，氯化鈉溶液的電導率在20℃時為1670μS/cm～1830μS/cm。

3.根據權利要求1所述的基于紅外熱像軸線溫度識別的復合絕緣子界面缺陷鑒別方法，其特征在于，定義三中所選長度為0.5m～1.2m，步驟2所加比例工頻電壓有效值為200kV/m～300kV/m。

4.根據權利要求1所述的基于紅外熱像軸線溫度識別的復合絕緣子界面缺陷鑒別方法，其特征在于，被檢試品若滿足步驟4的兩個準則中任何一個，均可視為存在嚴重界面缺陷。