[發明專利]一種基于液晶像素補償的LED背光壞點修復方法

有效

• 申請號: 201711077234.6
• 申請日: 2017-11-03
• 公開（公告）號: CN108231009B
• 公開（公告）日: 2019-10-25
• 發明（設計）人: 張濤;邱亮;潘希豪
• 申請（專利權）人: 天津大學
• 主分類號: G09G3/34
• 分類號: G09G3/34;G09G3/36
• 代理公司: 天津市北洋有限責任專利代理事務所 12201
• 代理人: 杜文茹

1.一種基于液晶像素補償的LED背光壞點修復方法，其特征在于，包括如下步驟：

1)利用光學仿真軟件以及AutoCAD軟件所帶的繪圖工具分別搭建正常光源情況下背光模組模型和有壞點情況下背光模組模型，每個背光模組模型都包括有背光腔的三維模型和膜片層的三維模型；

2)確定有壞點情況下背光模組模型中LED光源的壞點，并設定第i行第j列的壞點為N(i,j)；

3)確定正常光源情況下背光模組模型接收表面的背光亮度值，是采用光學仿真軟件進行仿真的方式得到液晶顯示器在正常光源情況下的亮度值；

4)確定壞點情況下背光模組模型接收表面的背光亮度值，是采用光學仿真軟件進行仿真的方式得到液晶顯示器在壞點下的亮度值；

5)將正常光源情況下背光模組模型接收表面的背光亮度值和壞點情況下背光模組模型接收表面的背光亮度值分別歸一化至0～255階；

6)進行液晶補償，液晶補償的公式如下所示，

式中，K_LCD(i,j)為液晶線性補償因子，L_B-255(i,j)為正常光源情況下歸一化后的背光亮度值，L'_B-255(i,j)為有壞點情況下歸一化后的背光亮度值，R'(i,j)、G'(i,j)、B'(i,j)為液晶補償后子像素的亮度值，R(i,j)、G(i,j)、B(i,j)為正常光源情況下的原子像素的亮度值。

2.根據權利要求1所述的一種基于液晶像素補償的LED背光壞點修復方法，其特征在于，步驟2)所述的確定LED光源的壞點，是在背光激勵信號的作用下點亮全部背光板上的LED光源，通過目測背光板，確定壞點的區域。

3.根據權利要求1所述的一種基于液晶像素補償的LED背光壞點修復方法，其特征在于，步驟2)所述的確定LED光源的壞點，是借用光學仿真軟件進行模組的照度仿真，照度仿真圖中出現照度非均勻的區域為壞點區域。

4.根據權利要求1所述的一種基于液晶像素補償的LED背光壞點修復方法，其特征在于，步驟3)包括：

將正常光源情況下的背光模組模型導入光學仿真軟件中，并設置好基本的參數和膜片屬性，包括有LED的功率、光線仿真數量、背光模組選用的材料和膜片的微結構，將接收表面添加到背光模組模型中，設置接收表面的空間亮度計，同時定義空間亮度計的距離、方位與收光角錐，并利用光學仿真軟件中的選項進行調整，最后，空間亮度計顯示的值即為正常光源情況下背光模組模型接收表面的背光亮度值。

5.根據權利要求1所述的一種基于液晶像素補償的LED背光壞點修復方法，其特征在于，步驟4)包括：將有壞點情況下的背光模組模型導入光學仿真軟件中，并設置好基本的參數和膜片屬性，包括有LED的功率、光線仿真數量、背光模組選用的材料和膜片的微結構，將接收表面添加到背光模組模型中，設置接收表面的空間亮度計，同時定義空間亮度計的距離、方位與收光角錐，并利用光學仿真軟件中的選項進行調整，在背光板的壞點N(i,j)處將LED光源屏蔽，最后，空間亮度計顯示的值即為壞點情況下背光模組模型接收表面的背光亮度值。

6.根據權利要求1所述的一種基于液晶像素補償的LED背光壞點修復方法，其特征在于，步驟5)包括：

設正常光源情況下背光模組模型接收表面的背光亮度值為L_B(i,j)，并將背光亮度值L_B(i,j)的平均值作為液晶補償亮度的歸一化標準值，記為L_B-ave(i,j)，公式如下：

式中，i是LED光源的行，j是LED光源的列，

將背光亮度值L_B(i,j)進行min-max離差標準化，使結果值映射到[0-1]之間后再通過下式拉伸到0～255，

式中，L_B-255(i,j)為歸一化至0～255階的背光亮度值，L_B-min、L_B-max分別為背光亮度最大值和最小值，

將壞點情況下背光模組模型接收表面的背光亮度值按照下式歸一化至0～255階，獲得歸一化亮度矩陣L'_B-255(i,j)，