[發明專利]一種預防感應電倒送的介質損耗測試電路及其控制方法

有效

• 申請號: 201711075517.7
• 申請日: 2017-11-06
• 公開（公告）號: CN107860982B
• 公開（公告）日: 2019-12-27
• 發明（設計）人: 徐育福;黃金魁;孫亞輝;李丹丹;于曉翔;林瀚偉;田傳鋒
• 申請（專利權）人: 國網福建省電力有限公司;國家電網公司;國網福建省電力有限公司檢修分公司
• 主分類號: G01R27/26
• 分類號: G01R27/26;G05B19/042
• 代理公司: 35100 福州元創專利商標代理有限公司
• 代理人: 蔡學俊;丘鴻超

1.一種預防感應電倒送的介質損耗測試電路，包括控制面板單片機及與該控制面板單片機連接的單片機測量回路、外接設備、220V電源、變頻電源，所述單片機測量回路還與Cx正接線電流檢測電路、Cn電流檢測電路、Cx反接線電流檢測電路連接，所述變頻電源還經升壓變壓器、標準電容Cn與單片機測量回路連接，所述升壓變壓器還與開關K4連接，其特征在于：所述升壓變壓器與標準電容Cn之間設置一單刀雙擲開關K3，還包括一倒線開關K5、第一指示燈回路、第二指示燈回路，所述單刀雙擲開關K3的動觸頭與標準電容Cn、倒線開關的靜觸頭連接，單刀雙擲開關K3的一靜觸頭與升壓變壓器連接，另一靜觸頭與第一指示燈回路連接，倒線開關的動觸頭與第二指示燈回路連接，第一指示燈回路和第二指示燈回路的另一端均接地，所述第一指示燈回路、第二指示燈回路均用于實現帶阻放電和指示燈指示作用，Cx表示待測電容值；所述第一指示燈回路、第二指示燈回路均由電阻和指示燈串聯構成；所述Cx正接線電流檢測電路包括電容Cx1、Cx2、Cx3、Cx4，單刀雙擲開關Sab-1、Sab-2、Sab-3、Sab-4，所述Cx1、Cx2、Cx3、Cx4一端分別與正接線測試Cx1線、正接線測試Cx2線、正接線測試Cx3線、正接線測試Cx4線的芯線連接，所述Cx1、Cx2、Cx3、Cx4另一端分別與Sab-1、Sab-2、Sab-3、Sab-4的動觸頭連接，Sab-1、Sab-2、Sab-3、Sab-4的一靜觸頭相連接至地，另一靜觸頭相連接至所述單片機測量回路。

2.根據權利要求1所述電路，其特征在于：所述Cx反接線電流檢測電路包括采樣電阻、開關K10，所述采樣電阻一端與開關K10動觸頭相連接至反接線測試Cx線的屏蔽線、標準電容Cn，所述采樣電阻另一端與開關K10靜觸頭相連接至反接線測試Cx線的芯線。

3.根據權利要求2所述電路，其特征在于：所述開關K10在所述介質損耗測試電路未通電情況下，保持常閉狀態。

4.一種基于權利要求2至3任一所述電路的控制方法，其特征在于：具體實現如下，

S1、完成所述介質損耗測試電路的接線，介質損耗測試電路接通電源，單刀雙擲開關K3、倒線開關K5、單刀雙擲開關Sab-1、Sab-2、Sab-3、Sab-4、開關K4、K10均處于初始狀態；

S2、設置單刀雙擲開關Sab-1、Sab-2、Sab-3、Sab-4的組合狀態，其中，組合狀態序號0表示Sab-1、Sab-2、Sab-3、Sab-4均連接至地，組合狀態序號1-4分別表示Sab-1、Sab-2、Sab-3、Sab-4連接至所述單片機測量回路，組合狀態序號5分別表示Sab-1、Sab-2、Sab-3、Sab-4均連接至所述單片機測量回路；而后，選擇電壓、啟動測試功能，開始測試；

S3、根據單刀雙擲開關Sab-1、Sab-2、Sab-3、Sab-4組合狀態序號，控制單刀雙擲開關Sab-1、Sab-2、Sab-3、Sab-4的狀態；

S4、控制開關K3、K4、K5、K10的狀態；

S5、升壓、測試完畢，降壓，置K3、K4、K5、K10為初始狀態；

S6、存儲當前測試數據；

S7、判斷單刀雙擲開關Sab-1、Sab-2、Sab-3、Sab-4的狀態是否已全部執行，若是，則測試完畢，存儲相關測試數據，若否，則重新執行步驟S3。

5.根據權利要求4所述方法，其特征在于：所述步驟S3-S6中，還需進行外接設備的鍵盤按鍵檢測步驟。