[發明專利]一種可模擬多種通訊接口的MCU測試方法在審
| 申請號： | 201711075084.5 | 申請日： | 2017-11-06 |
| 公開（公告）號： | CN107943625A | 公開（公告）日： | 2018-04-20 |
| 發明（設計）人： | 陳可偉;葛文啟 | 申請（專利權）人： | 上海華虹集成電路有限責任公司 |
| 主分類號： | G06F11/22 | 分類號： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 201203 上海市浦東*** | 國省代碼： | 上海;31 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 模擬 多種 通訊 接口 mcu 測試 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種可模擬多種通訊接口的MCU測試方法，其特征在于，主要包括如下步驟：
1)PC端測試軟件發送選擇接口指令給主控MCU，主控MCU初始化相應的通信接口；
2)主控MCU根據指令內容對硬件進行初始化；
3)主控MCU根據指令內容對響應通訊接口進行透明數據收發，直至測試完成。
2.根據權利要求1所述的MCU測試方法，其特征在于，在測試過程中，可以隨時改變通訊接口和其各種參數。
3.根據權利要求1所述的MCU測試方法，其特征在于，能夠模擬各種硬件通訊接口。
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