[發(fā)明專利]基于偏振消光的透明介質(zhì)單面選擇成像方法及其裝置在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201711072804.2 | 申請日: | 2017-11-03 |
| 公開(公告)號: | CN107727668A | 公開(公告)日: | 2018-02-23 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 潘衛(wèi)清;王亞婷;徐弼軍;胡曉武;瞿鵬 | 申請(專利權(quán))人: | 浙江科技學(xué)院 |
| 主分類號: | G01N21/958 | 分類號: | G01N21/958;G01N21/88 |
| 代理公司: | 杭州新源專利事務(wù)所(普通合伙)33234 | 代理人: | 丁海華 |
| 地址: | 310013 浙*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基于 偏振 透明 介質(zhì) 單面 選擇 成像 方法 及其 裝置 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于偏振消光技術(shù)領(lǐng)域,特別是一種基于偏振消光的透明介質(zhì)單面選擇成像方法及其裝置,屬于玻璃成像領(lǐng)域。
背景技術(shù)
目前,對于玻璃等透明介質(zhì)缺陷的質(zhì)量檢測技術(shù)需求較大,比如手機(jī)蓋板玻璃是手機(jī)觸摸屏最表面的玻璃,其生產(chǎn)過程包括基板切割、平磨拋光、絲印等工藝,其中每道工藝均可能產(chǎn)生油墨殘留、臟污、灰塵雜質(zhì)等缺陷,因此對手機(jī)蓋板玻璃的上、下兩個(gè)單面進(jìn)行有效的缺陷檢測對于手機(jī)成品率的把控具有至關(guān)重要的作用。然而,現(xiàn)有的檢測技術(shù)只能檢測到透明介質(zhì)有缺陷的存在,卻不能識別缺陷是位于透明介質(zhì)的哪一層表面,這成為透明介質(zhì)缺陷檢測的技術(shù)短板。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于,提供一種基于偏振消光的透明介質(zhì)單面選擇成像方法及其裝置。本發(fā)明不僅可以實(shí)現(xiàn)對透明介質(zhì)的單面選擇成像,從而有效地檢測透明介質(zhì)上、下任意單面的缺陷;而且本發(fā)明結(jié)構(gòu)簡易、成本低廉、操作簡單方便。
本發(fā)明的技術(shù)方案:一種基于偏振消光的透明介質(zhì)單面選擇成像方法,包括以下步驟:
a、在待檢測透明介質(zhì)的一側(cè)設(shè)置光源和起偏器,另一側(cè)設(shè)置目鏡和檢偏器;
b、在待檢測透明介質(zhì)下方放置一透光墊板;
c、光源經(jīng)起偏器向待檢測透明介質(zhì)上表面射入一入射光線;入射光線在待檢測透明介質(zhì)上表面的反射光線和入射光線的折射光線在待檢測透明介質(zhì)下表面的反射光線經(jīng)檢偏器進(jìn)入目鏡;
d、轉(zhuǎn)動檢偏器,在目鏡中分別僅得到待檢測透明介質(zhì)上表面的反射光線和待檢測透明介質(zhì)下表面的反射光線,從而實(shí)現(xiàn)待檢測透明介質(zhì)的單面選擇成像。
上述的基于偏振消光的透明介質(zhì)單面選擇成像方法中,步驟c中,入射光線的入射角度為50度~80度。
前述的基于偏振消光的透明介質(zhì)單面選擇成像方法中,步驟c中,入射光線的入射角呈布儒斯特角。
前述的基于偏振消光的透明介質(zhì)單面選擇成像方法中,步驟a中,先在待檢測透明介質(zhì)的光源側(cè)設(shè)置起偏器,再檢測當(dāng)入射光線的偏振光的振動方位角為0°時(shí)起偏器的角度,并將該角度定義為參照角度,之后再在目鏡側(cè)設(shè)置檢偏器。
前述的基于偏振消光的透明介質(zhì)單面選擇成像方法中,確定入射光線的偏振光的振動方位角為0°,具體是入射光線平行射入待檢測透明介質(zhì),入射光線的入射角呈布儒斯特角;旋轉(zhuǎn)起偏器,當(dāng)自待檢測透明介質(zhì)上表面的反射光線和自待檢測透明介質(zhì)下表面的反射光線在目鏡中同時(shí)消失時(shí),此時(shí)入射光線的偏振光的振動方位角為0°。
前述的基于偏振消光的透明介質(zhì)單面選擇成像方法中,所述的起偏器和檢偏器均為偏振片。
前述的基于偏振消光的透明介質(zhì)單面選擇成像方法中,步驟c中,入射光線的最佳振動方位角的計(jì)算方法為:
由已知得
式中,a為入射光線的振動方位角,a'為入射光線在待檢測透明介質(zhì)上表面的反射光線的振動方位角,a”為入射光線的折射光線在待檢測透明介質(zhì)下表面的反射光線的振動方位角,i為入射光線的入射角,γ為入射光線在入射透明介質(zhì)后的折射角,θ為入射光線經(jīng)透明介質(zhì)后入射透光墊板的折射角;
其中,式中n2為透明介質(zhì)的折射率,n3為透光墊板的折射率;
當(dāng)a為入射光線的最佳振動方位角時(shí),即令:f(i,a,n3)=90°,i∈(0°,90°),n3∈(1,2),
求出a,即得到入射光線的最佳振動方位角。
前述的基于偏振消光的透明介質(zhì)單面選擇成像方法中,步驟c中,入射光線的偏振光的最佳振動方位角為0°至40°。
前述的基于偏振消光的透明介質(zhì)單面選擇成像方法中,所述的待檢測透明介質(zhì)的折射率為1.4~1.6,所述的透光墊板的折射率為1.4~1.6。
實(shí)現(xiàn)前述的基于偏振消光的透明介質(zhì)單面選擇成像方法的裝置,包括底座,底座上方設(shè)有基板,基板的兩側(cè)分別設(shè)有第一轉(zhuǎn)動臂和第二轉(zhuǎn)動臂,所述的第一轉(zhuǎn)動臂上設(shè)有光源,光源的出光端設(shè)有平行光管,平行光管的端部設(shè)有起偏器;所述的第二轉(zhuǎn)動臂上設(shè)有目鏡,目鏡的進(jìn)光端設(shè)有檢偏器;所述的基板的表面設(shè)有放置透明介質(zhì)的作業(yè)平臺。
上述的裝置中,所述的第一轉(zhuǎn)動臂包括與基板相固定的第一側(cè)肋,第一側(cè)肋鉸接有第一支撐臂,第一支撐臂上端與光源轉(zhuǎn)動連接。
前述的裝置中,所述的第二轉(zhuǎn)動臂包括與基板相固定的第二側(cè)肋,第二側(cè)肋鉸接有第二支撐臂,第二支撐臂上端與目鏡轉(zhuǎn)動連接。
與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明具有以下有益效果:
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
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