[發明專利]絕緣檢測電路在審
| 申請號: | 201711070875.9 | 申請日: | 2017-11-03 |
| 公開(公告)號: | CN107861039A | 公開(公告)日: | 2018-03-30 |
| 發明(設計)人: | 韓正;王志龍;范華明;馬曉輝;錢龍;孟江波 | 申請(專利權)人: | 江蘇銀基烯碳能源科技有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/14 | 分類號: | G01R31/14;G01R31/00;G01R27/02 |
| 代理公司: | 北京天盾知識產權代理有限公司11421 | 代理人: | 黃鵬飛 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 絕緣 檢測 電路 | ||
【技術領域】
本發明涉及電動汽車技術領域,尤其涉及一種絕緣檢測電路。
【背景技術】
隨著電動汽車的不斷發展,電動汽車的絕緣性能也越來越受到重視。目前通常使用高頻注入法來檢測整車的絕緣電阻(電池組負極與車身之間的電阻)。高頻注入法是將高頻交流信號注入到電氣系統中,再通過計算其幅值或相位來推算絕緣電阻值。然而,由于向直流系統注入交流信號,實際上是給直流系統引入了一個干擾源,影響直流系統的正常工作且電路復雜、成本高、穩定性較差,此外,因受分布電容的影響檢測精度較低。
鑒于此,實有必要提供一種新的絕緣檢測電路以克服上述缺陷。
【發明內容】
本發明的目的是提供一種基于低頻脈沖信號注入的絕緣檢測電路,所述絕緣檢測電路結構簡單且檢測精度較高。
為了實現上述目的,本發明提供一種絕緣檢測電路,包括控制單元、緩沖單元、開關單元及絕緣檢測單元;所述控制單元用于輸出低頻數字脈沖信號至所述緩沖單元;所述緩沖單元連接于所述控制單元與所述開關單元之間,用于將所述數字脈沖信號轉化為模擬脈沖信號;所述開關單元連接于所述緩沖單元與所述絕緣檢測單元之間并與所述控制單元相連;所述控制單元還用于發出控制信號以控制所述開關單元的斷開與導通狀態;當所述開關單元處于導通狀態時,所述絕緣檢測單元用于依據所述模擬脈沖信號產生交流信號并輸出至所述控制單元;所述控制單元還用于依據所述交流信號的峰值及周期計算出絕緣電阻的阻值。
本發明所提供的絕緣檢測電路,通過控制單元輸出低頻的數字脈沖信號,緩沖單元用于將數字脈沖信號轉化成模擬脈沖信號以實現信號驅動,所述絕緣檢測單元依據模擬脈沖信號產生交流信號并輸出至控制單元,控制單元通過對交流信號計算而得出絕緣電阻以實現對整車絕緣性能的檢測,避免了向直流系統注入高頻交流信號而帶來的干擾,具有電路結構簡單且精度較高的優點。
【附圖說明】
圖1為本發明實施例中提供的絕緣檢測電路的功能模塊圖。
圖2為本發明實施例中提供的絕緣檢測電路的電路原理圖。
【具體實施方式】
下面將結合本發明實施例中的附圖,對本發明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實施例僅僅是本發明一部分實施例,而不是全部的實施例。基于本發明中的實施例,本領域普通技術人士在沒有做出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例,都屬于本發明保護的范圍。
當一個元件被認為與另一個元件“相連”時,它可以是直接連接到另一個元件或者可能同時存在居中元件。除非另有定義,本文所使用的所有的技術和科學術語與屬于本發明的技術領域的技術人士通常理解的含義相同。本文中在本發明的說明書中所使用的術語只是為了描述具體的實施例的目的,不是旨在于限制本發明。本文所使用的術語“及/或”包括一個或多個相關的所列項目的任意的和所有的組合。
請參閱圖1,其為本發明提供的絕緣檢測電路100的功能模塊圖。所述絕緣檢測電路100包括控制單元10、緩沖單元20、開關單元30、絕緣檢測單元40、電壓跟隨單元50以及濾波單元60。在本實施方式中,所述絕緣檢測電路100用于檢測電動汽車的絕緣性能。
所述控制單元10用于輸出低頻數字脈沖信號至所述緩沖單元20。在本實施方式中,所述數字脈沖信號由高低電平交替組成。其中,高電平即為1,低電平即為0。所述控制單元10為MCU(Microcontroller Unit,微控制單元)。可以理解,低頻的概念為小于100HZ。
所述緩沖單元20連接于所述控制單元10與所述開關單元30之間。所述緩沖單元20用于將所述數字脈沖信號轉化為模擬脈沖信號。具體地,當數字脈沖信號為高電平(即為1)時,所述緩沖單元20將輸出電壓值為基準電壓的電壓信號;當數字脈沖信號為低電平(即為0)時,所述緩沖單元20將輸出電壓值為0的電壓信號,因此,所述緩沖單元20可以輸出幅值為基準電壓的模擬脈沖信號,亦即,所述緩沖單元20用于輸出方波。可以理解,所述絕緣檢測電路100包括一基準電壓源用于輸出基準電壓。在本實施方式中,所述基準電壓為5V的直流電壓。此外,本發明中的緩沖單元20還可以提高信號驅動能力(注:控制單元10的輸出管腳的驅動能力有限,信號在電路板上經長距離的傳輸后,會導致信號驅動能力不足,因此會影響電路工作性能)。
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