[發(fā)明專利]用于估計信號間的變換的信號處理器及方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201711070330.8 | 申請日： | 2011-09-01 |
| 公開（公告）號： | CN107608447B | 公開（公告）日： | 2020-10-23 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | R.K.夏爾馬;J.D.洛德;R.G.萊昂斯 | 申請（專利權(quán)）人： | 數(shù)字標(biāo)記公司 |
| 主分類號： | G06F1/02 | 分類號： | G06F1/02;G06K9/62;G06T1/00;G06T3/00 |
| 代理公司： | 北京尚誠知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11322 | 代理人： | 龍淳 |
| 地址： | 美國俄*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 用于 估計 信號 變換 處理器 方法 | ||
1.一種計算參考信號和待檢信號之間的平移偏移的估計值的方法，所述方法包括：
提供待檢信號的測量相位差值的集合；
對于多個候選平移偏移中的每一個，獲得所述參考信號在候選平移偏移下的預(yù)期相位差值的集合，計算在所述候選平移偏移下的預(yù)期相位差值的集合中的每個預(yù)期相位差值和對應(yīng)的測量相位差值的相位偏差度量，所述相位偏差度量包括預(yù)期相位差值和對應(yīng)的測量相位差值之間的偏差，并計算在所述候選平移偏移下的所述相位偏差度量的總和，其中相位偏差度量的總和是針對對應(yīng)的候選平移偏移計算的；以及
確定具有表示預(yù)期相位差值和對應(yīng)的測量相位差值之間的最佳匹配的相位偏差度量的總和的候選平移偏移，其中與所述最佳匹配相關(guān)的候選平移偏移作為所述平移偏移的估計值。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述待檢信號包括圖像信號。
3.如權(quán)利要求2所述的方法，其中所述待檢信號包括從圖像傳感器采樣的圖像信號。
4.如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述參考信號包括信號成分的集合，并且所述預(yù)期相位差值的集合與所述信號成分的相位相對應(yīng)。
5.如權(quán)利要求4所述的方法，其中所述信號成分是頻率成分，并且所述預(yù)期相位差值與所述頻率成分的頻率位置相對應(yīng)。
6.如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述待檢信號包括一種版本的參考信號，并且使用所述相位偏差度量來確定所述一種版本的參考信號在所述待檢信號中的平移偏移。
7.如權(quán)利要求6所述的方法，其中使用所述平移偏移來確定所述待檢信號中的所述一種版本的參考信號和所述參考信號之間的變換。
8.如權(quán)利要求6所述的方法，其中所述參考信號與嵌入所述待檢信號中的數(shù)字水印信號相對應(yīng)，并且使用所述平移偏移來檢測所述待檢信號中的所述數(shù)字水印信號。
9.一種非暫時性計算機可讀介質(zhì)，在所述非暫時性計算機可讀介質(zhì)上存儲有指令，當(dāng)所述指令被一個或多個處理器執(zhí)行時，所述指令執(zhí)行計算參考信號和待檢信號之間的平移偏移的估計值的方法，所述方法包括：
提供待檢信號的測量相位差值的集合；
對于多個候選平移偏移中的每一個，獲得所述參考信號在候選平移偏移下的預(yù)期相位差值的集合，計算在所述候選平移偏移下的預(yù)期相位差值的集合中的每個預(yù)期相位差值和對應(yīng)的測量相位差值的相位偏差度量，所述相位偏差度量包括預(yù)期相位差值和對應(yīng)的測量相位差值之間的偏差，并計算在所述候選平移偏移下的所述相位偏差度量的總和，其中相位偏差度量的總和是針對對應(yīng)的候選平移偏移計算的；以及
確定具有表示預(yù)期相位差值和對應(yīng)的測量相位差值之間的最佳匹配的相位偏差度量的總和的候選平移偏移，其中與所述最佳匹配相關(guān)的候選平移偏移作為所述平移偏移的估計值。
10.一種相位偏差電路，包括：
用于存儲待檢信號的測量相位差值的集合和參考信號的已知相位的集合的存儲器；
相位偏差模塊，用于對候選平移偏移計算所述參考信號的已知相位的集合中的每個已知相位和所述參考信號的對應(yīng)測量相位差值的相位偏差度量，所述相位偏差度量包括預(yù)期相位差值和對應(yīng)的測量相位差值之間的偏差，并且用于針對對應(yīng)的候選平移偏移計算所述相位偏差度量的總和；以及
峰值確定模塊，用于確定具有表示預(yù)期相位差值和對應(yīng)的測量相位差值之間的最佳匹配的相位偏差度量的總和的候選平移偏移，其中與所述最佳匹配相關(guān)的候選平移偏移作為所述參考信號和所述待檢信號之間的平移偏移的估計值。
11.如權(quán)利要求10所述的電路，包括精煉模塊，所述精煉模塊用于通過使用在所述平移偏移周圍的子采樣平移偏移下的相位偏差度量來計算精煉后的平移偏移而對所述平移偏移進行精煉，并且用于找出在所述子采樣平移偏移下的所述相位偏差度量的總和的精煉后的峰值。
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