[發明專利]具有中間層的輻射檢測器

有效

• 申請號: 201711066631.3
• 申請日: 2017-11-02
• 公開（公告）號: CN108020858B
• 公開（公告）日: 2021-07-06
• 發明（設計）人: T·埃格勒;H·格耶爾;M·霍澤曼;S·威爾斯;J·弗里吉
• 申請（專利權）人: 西門子醫療有限公司
• 主分類號: G01T1/29
• 分類號: G01T1/29
• 代理公司: 北京市金杜律師事務所 11256
• 代理人: 王茂華;杜波

本發明涉及一種具有中間層(2)的輻射檢測器(1、1'、1”)，中間層(2)被布置在具有多個檢測元件(4、4'、4”)的檢測層(3)和多個讀出單元(5)之間。在這樣的布置中，中間層(2)在檢測元件(4)和讀出單元(5)之間具有多個導電連接(6、7)。本發明還提供了一種醫學成像系統(20)以及加熱裝置(8)的用途。

技術領域

本發明涉及一種輻射檢測器、一種醫學成像系統以及用于加熱輻射檢測器的加熱裝置的用途。

背景技術

在輻射檢測器(例如CT系統的X射線檢測器)的開發中，重要的考慮是進一步不斷降低制造成本。在這樣的情況下，將會發現CT檢測器的主要成本(～80％)花費在傳感器板上。這通常包含直接轉換或間接轉換傳感器材料、評估電子元件(ASIC以及在一些結構中的光電二極管)以及載體材料或載體襯底，該載體材料或載體襯底需要被作為整體結構的基本單元、并且為傳感器板提供機械穩定性。

在這樣的情況下，ASIC的表面大小通常與整個CT檢測器的表面大小相等。例如，用于對檢測器集成的技術便是如此，在該技術中，光電二極管和ASIC形成一個單元。這樣的方法的優點在于以下事實：光電二極管和評估電子元件之間的線路長度被保持為盡可能短，以降低電子噪聲。此外，該技術已發展為有可能使檢測器中的像素更小。

對于計數技術，ASIC的表面大小通常也與整個CT檢測器的表面大小相等。在某些方面，計數技術開發中的一個較大的未知因素是像素的輸入電容對響應特性的影響，特別是對與ASIC的能量分辨率相結合的線性度和噪聲特性的影響。為了降低開發中的復雜性和風險，總體目標是保持輸入電容盡可能低，并使它們保持相同大小。這導致了一個基本結構(見圖1)，在該結構中，ASIC的相應輸入通道直接位于傳感器側焊盤上。在這樣的情況下，線路長度被最小化，并且有可能被設計為使得輸入電容對于所有像素都相同。

另一方面，這樣的高度集成的方法的缺點在于價格。ASIC成本通常不由所包含的功能確定，而由表面大小確定。因此，目標應當是降低成本，特別是為了更大的銷售市場更應如此。

發明內容

本發明的目的是為輻射檢測器提供一種低成本布局。

根據本發明，這一目的通過根據權利要求1所述的輻射檢測器、根據權利要求11所述的醫學成像系統以及根據權利要求12所述的用于加熱輻射檢測器的加熱裝置的用途而被實現。

這里描述的輻射檢測器包括一個中間層，該中間層被布置在一個檢測層和多個讀出單元之間，檢測層具有多個檢測元件。在此情況下，中間層具有在檢測元件和讀出單元之間的多個導電連接。

輻射檢測器是具有多個層的分層裝置，這些層優選地被基本平行布置。在該情況下，“基本”是指這些層也可以略微彎曲。與現有技術不同，根據本發明，一個中間層被布置在檢測層和讀出單元之間。讀出單元明確地不與檢測層直接連接，而是經由中間層與檢測層間接連接。

中間層具有兩個相對的平面側，其中檢測層被布置為與一個平面側相鄰，該平面側在下文中將被稱為上側。讀出單元被布置為與相對的平面側相鄰，該平面側在下文中被稱為下側。在此情況下，中間層基本上可以被設計為在整個檢測器上的一個連續層，這對于穩定性或剛度而言具有特別有利的效果。然而，中間層也可以由布置在中間層內的多個中間層元件形成，這使得制造更為容易。

檢測層通常被如下實現，以使得該檢測層通過檢測元件而將入射輻射轉換成常用模擬電信號。根據使用目的，輻射檢測器可以用于測量不同波長的電磁輻射和/或測量粒子輻射。為此，檢測層包括與相關檢測器類型相對應的檢測元件。