[發(fā)明專利]利用電子碰撞電離的分析設備

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201711064231.9
• 申請日: 2014-02-19
• 公開（公告）號: CN107731653B
• 公開（公告）日: 2019-11-08
• 發(fā)明（設計）人: 皮埃爾·沙恩
• 申請（專利權）人: 麥克斯國際有限公司
• 主分類號: H01J49/00
• 分類號: H01J49/00;H01J49/14;H01J27/20
• 代理公司: 北京安信方達知識產權代理有限公司 11262
• 代理人: 胡秋玲;鄭霞

1.一種電離分析物分子用于分析的方法，包括：

供給分析物分子給目標體積；

使用第一電離電子能加速從電子源到所述目標體積的電子流以促使所述分析物分子的電離來生成分析物離子；

檢測由所述第一電離電子能生成的所述分析物離子；

將所述第一電離電子能改變到與所述第一電離電子能不同的第二電離電子能，以促使電離并使用所述第二電離電子能生成分析物離子；以及

檢測由所述第二電離電子能生成的所述分析物離子。

2.根據(jù)權利要求1所述的方法，其中，加速所述電子流的步驟包括在高于所述目標體積的電位下加速從所述電子源到中間區(qū)域的所述電子流，以維持來自所述電子源的電子通量，所述方法還包括促使所述電子流在低于所述中間區(qū)域的電位下進入所述目標體積，以使所述電子流減速到最終的電離電子能。

3.根據(jù)權利要求1所述的方法，其中，由所述第一電離電子能生成的所述分析物離子在第一電離周期期間生成，而使用所述第二電離電子能生成的所述分析物離子在第二電離周期期間生成。

4.根據(jù)權利要求2所述的方法，其中，由所述第一電離電子能生成的所述分析物離子在第一電離周期期間生成，而使用所述第二電離電子能生成的所述分析物離子在第二電離周期期間生成。

5.根據(jù)權利要求3或4所述的方法，還包括：

在所述第一電離周期后，中斷到所述目標體積的所述電子流；

在所述電子流被中斷的同時，將所述第一電離電子能改變到與所述第一電離電子能不同的第二電離電子能；以及

重新開始到所述目標體積的電子流，以促使在第二電離周期中使用所述第二電離電子能進行電離。

6.根據(jù)權利要求1-4中任一項所述的方法，其中，所述第一電離電子能為70eV，并且所述第二電離電子能在5-30eV的范圍內。

7.根據(jù)權利要求5所述的方法，其中，所述第一電離電子能為70eV，并且所述第二電離電子能在5-30eV的范圍內。

8.根據(jù)權利要求3或4所述的方法，其中，在所述第一電離周期期間生成的所述分析物離子在所述第一電離周期結束時被檢測，而在所述第二電離周期期間生成的所述分析物離子在所述第二電離周期結束時被檢測。

9.根據(jù)權利要求3或4所述的方法，其中，在所述第一電離周期期間生成的所述分析物離子在所述第一電離周期期間被檢測。

10.根據(jù)權利要求4所述的方法，其中，所述中間區(qū)域在所述第一電離周期期間和所述第二電離周期期間處于不同的電位下。

11.根據(jù)權利要求4所述的方法，其中，電子束快門被設置在所述電子源和所述目標體積之間，所述電子束快門在第一通過狀態(tài)和停止狀態(tài)是可操作的，在所述第一通過狀態(tài)中，所述電子流被允許到達所述目標體積，在所述停止狀態(tài)中，所述電子流被阻止到達所述目標體積，并且其中，在所述第一電離周期和所述第二電離周期之間，所述電子束快門以所述停止狀態(tài)操作，以中斷所述電子流。

12.根據(jù)權利要求11所述的方法，其中，所述電子束快門被設置在所述中間區(qū)域中。

13.根據(jù)權利要求1所述的方法，其中，在第一電離周期中電離所述分析物分子和在所述第一電離周期中檢測分析物離子的步驟定義了第一檢測事件，并且所述方法包括以所述第一電離電子能進行一系列第一檢測事件，并將來自每個檢測事件的檢測數(shù)據(jù)累積到包括來自預定數(shù)量的檢測事件的數(shù)據(jù)的檢測集合中，并且然后在第一數(shù)據(jù)傳遞周期期間將所述檢測集合的數(shù)據(jù)傳遞給數(shù)據(jù)存儲設備。