[發(fā)明專利]集成參考光路穩(wěn)定系統(tǒng)的調(diào)頻連續(xù)波激光測距裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201711063196.9 | 申請日: | 2017-11-02 |
| 公開(公告)號: | CN107728134B | 公開(公告)日: | 2023-09-01 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 時光;鄭磊玨;范緒銀;王文 | 申請(專利權(quán))人: | 杭州電子科技大學(xué) |
| 主分類號: | G01S11/12 | 分類號: | G01S11/12;G01B9/02015 |
| 代理公司: | 杭州君度專利代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 33240 | 代理人: | 黃前澤 |
| 地址: | 310018 浙*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 集成 參考 穩(wěn)定 系統(tǒng) 調(diào)頻 連續(xù) 激光 測距 裝置 | ||
本發(fā)明公開了集成參考光路穩(wěn)定系統(tǒng)的調(diào)頻連續(xù)波激光測距裝置。現(xiàn)有調(diào)頻連續(xù)波激光測距系統(tǒng)測距基準(zhǔn)容易受到外界振動影響,影響測距精度。本發(fā)明包括外腔式可調(diào)諧激光器、測量干涉系統(tǒng)、氦氖激光器和輔助干涉系統(tǒng);外腔式可調(diào)諧激光器產(chǎn)生1540nm~1550nm的連續(xù)激光;氦氖激光器產(chǎn)生632nm的單模激光;測量干涉系統(tǒng)包括第二耦合器、第一環(huán)形器、第一準(zhǔn)直透鏡、第一光電探測器和第三耦合器;輔助干涉系統(tǒng)中設(shè)置一套光程差補償?shù)姆答伩刂葡到y(tǒng),包括聲光調(diào)制器、調(diào)頻信號源、相位探測器、光電探測器、壓電微動平臺、壓電控制器、伺服控制器和平面反射鏡。本發(fā)明用于消除延時光纖長度受外界振動而變化的影響,從而提高測距精度。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于光學(xué)技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種集成參考光路穩(wěn)定系統(tǒng)的調(diào)頻連續(xù)波激光測距裝置。
背景技術(shù)
在大尺度精密測量領(lǐng)域,基于激光技術(shù)的測量儀器被廣泛應(yīng)用。量程在十幾米到幾十米范圍的絕對測距技術(shù)是目前激光測量領(lǐng)域的研究熱點和難點。調(diào)頻連續(xù)波激光測距具有高精度,無盲區(qū),無須合作目標(biāo),可實現(xiàn)絕對距離測量等優(yōu)點,特別適合于工業(yè)大尺度絕對測距領(lǐng)域。
在調(diào)頻連續(xù)波測距系統(tǒng)中增加光纖馬赫增德爾干涉系統(tǒng)作為輔助干涉系統(tǒng),利用等光頻間隔重采樣法,可以消除由于可調(diào)諧激光器調(diào)制非線性導(dǎo)致的測距精度下降的問題,將測距分辨率提高到幾十微米。然而該測距系統(tǒng)將光纖馬赫增德爾干涉系統(tǒng)中兩個干涉臂的光程差作為測距基準(zhǔn),其長度容易受到外界振動影響,影響最終的測距精度。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于克服現(xiàn)有調(diào)頻連續(xù)波激光測距系統(tǒng)測距基準(zhǔn)容易受到外界振動影響的缺點和不足,提供一種集成參考光路穩(wěn)定系統(tǒng)的調(diào)頻連續(xù)波激光測距裝置。本發(fā)明可以有效抑制外界振動影響,提高測距分辨力。
本發(fā)明包括外腔式可調(diào)諧激光器、測量干涉系統(tǒng)、氦氖激光器和輔助干涉系統(tǒng);所述的外腔式可調(diào)諧激光器用于產(chǎn)生波長調(diào)制范圍為1540nm~1550nm的連續(xù)激光;所述的氦氖激光器用于產(chǎn)生波長為632nm的單模激光;外腔式可調(diào)諧激光器發(fā)射的激光經(jīng)過第一耦合器分為A、B兩路;所述的測量干涉系統(tǒng)包括第二耦合器、第一環(huán)形器、第一準(zhǔn)直透鏡、第一光電探測器和第三耦合器;A路激光經(jīng)過第二耦合器分為兩路光,一路光依次經(jīng)過第一環(huán)形器和第一準(zhǔn)直透鏡后打到目標(biāo)棱鏡并原路返回進入第一環(huán)形器,然后從第一環(huán)形器射出與另外一路光匯成一束進入第三耦合器;第三耦合器射出的激光束由激光探測范圍為1540nm~1550nm的第一光電探測器探測,并在第一光電探測器表面發(fā)生干涉。
所述的輔助干涉系統(tǒng)包括第四耦合器、第五耦合器、低通濾波器、相位探測器、第三光電探測器、聲光調(diào)制器、第二準(zhǔn)直透鏡、平面反射鏡、壓電微動平臺、壓電控制器和伺服控制器;B路激光與氦氖激光器發(fā)射的單模激光匯成一束進入第四耦合器,然后經(jīng)第五耦合器分成C、D兩路,C路激光進入延時光纖,D路激光依次進入第二環(huán)形器和第二準(zhǔn)直透鏡后打到平面反射鏡,并原路返回進入第二環(huán)形器,接著經(jīng)過由調(diào)頻信號源驅(qū)動的聲光調(diào)制器,產(chǎn)生與調(diào)頻信號源相等頻率的頻移,使得C、D兩路中的632nm激光產(chǎn)生固定頻差。延時光纖出來的C路激光與聲光調(diào)制器出來的D路激光匯合為一束進入第六耦合器再分為E、F兩路光。E路光經(jīng)過濾波片,再由激光探測范圍為1540nm~1550nm的第二光電探測器進行探測,E路光中1540nm~1550nm波長的激光在第二光電探測器表面發(fā)生干涉;F路光由激光探測波長為632nm的第三光電探測器進行探測,632nm激光束中的兩路差頻激光在第三光電探測器表面發(fā)生干涉,產(chǎn)生拍頻信號。相位探測器對632nm干涉激光的拍頻信號與調(diào)頻信號源的原始信號兩者的相位進行比較,再將比較后的信號通過低通濾波器輸入至伺服控制器,通過伺服控制器控制壓電控制器驅(qū)動壓電微動平臺,壓電微動平臺帶動平面反射鏡改變與第二準(zhǔn)直透鏡的距離,從而改變D路激光的光程大小,用于補償C、D兩路的光程差變化,消除因延時光纖長度變化導(dǎo)致輔助干涉系統(tǒng)的光程差變化的影響。
所述的采集系統(tǒng)接收測量干涉系統(tǒng)的第一光電探測器上的拍頻信號,并接收B路輔助干涉系統(tǒng)的第二光電探測器上的拍頻信號,利用等光頻間隔重采樣技術(shù)對這兩個拍頻信號進行處理,然后進行傅里葉變換得到距離數(shù)據(jù)。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于杭州電子科技大學(xué),未經(jīng)杭州電子科技大學(xué)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201711063196.9/2.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。





