[發明專利]用于測試插入點的方法和裝置

有效

• 申請號: 201711061532.6
• 申請日: 2017-11-02
• 公開（公告）號: CN108061851B
• 公開（公告）日: 2022-03-01
• 發明（設計）人: W·普拉迪普
• 申請（專利權）人: 德克薩斯儀器股份有限公司
• 主分類號: G01R31/3185
• 分類號: G01R31/3185
• 代理公司: 北京紀凱知識產權代理有限公司 11245
• 代理人: 趙志剛;趙蓉民

1.一種電路，其包括：

第一存儲元件，其至少存儲K位中的第一位，其中K是大于1的整數，其中所述K位是測試數據；

第二存儲元件，其至少存儲K位中的第二位；

組合網絡，其耦合到所述第一存儲元件和所述第二存儲元件，所述組合網絡經配置以在N個輸出上提供N個輸出位，其中N個輸出位中的每一個被提供在所述N個輸出中的相應輸出上，所述N個輸出位來源于所述K位，N是大于K的整數；

多路復用器，其具有適于耦合到第一模塊的輸出的第一組輸入以及第二組N個輸入，其中所述第二組N個輸入中的每個輸入耦合到所述組合網絡的所述N個輸出中的相應輸出，所述多路復用器具有N個輸出；以及

第二模塊，其具有耦合到所述多路復用器的所述N個輸出的N個輸入。

2.根據權利要求1所述的電路，其中所述組合網絡是XOR網絡。

3.根據權利要求1所述的電路，其中所述組合網絡是隨機化的。

4.根據權利要求1所述的電路，其中所述測試數據被串行加載到所述第一存儲元件和所述第二存儲元件中。

5.根據權利要求1所述的電路，其中所述第一存儲元件和所述第二存儲元件是觸發器。

6.根據權利要求1所述的電路，其中所述第一模塊和所述第二模塊形成在單獨的集成電路中。

7.根據權利要求6所述的電路，其中所述單獨的集成電路耦合到電路板。

8.一種提供數據的方法，其包括：

由多個存儲元件向組合網絡提供K位的測試數據，其中K是大于1的整數；

由所述組合網絡從所述K位生成所述數據的N個輸出位作為測試數據，其中N是大于K的整數；

由所述組合網絡向多路復用器發送所述N個輸出位；

由所述多路復用器在測試模式中向電路選擇性地提供所述N個輸出位作為所述測試數據；以及

其中所述多路復用器在非測試模式中可操作以將N個輸出位作為來自模塊的正常數據選擇性地耦合到所述電路。

9.根據權利要求8所述的方法，其中所述組合網絡是XOR擴展器電路。

10.根據權利要求8所述的方法，其中所述組合網絡是隨機化的。

11.根據權利要求10所述的方法，其中所述組合網絡被配置以減少相關效應。

12.根據權利要求8所述的方法，進一步包括將所述K位的測試數據存儲在所述多個存儲元件中。