[發(fā)明專利]一種六氟化硫氣體中的二氧化硫含量的檢測方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201711059047.5 | 申請日: | 2017-11-01 |
| 公開(公告)號: | CN107860837B | 公開(公告)日: | 2020-05-12 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 劉陳瑤;羅宗昌;張龍飛;朱立平 | 申請(專利權(quán))人: | 廣西電網(wǎng)有限責(zé)任公司電力科學(xué)研究院 |
| 主分類號: | G01N30/02 | 分類號: | G01N30/02;G01N30/16;G01N30/06;G01N30/08;G01N30/14;G01N30/72;G01N30/86 |
| 代理公司: | 南寧東智知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 45117 | 代理人: | 戴燕桃;巢雄輝 |
| 地址: | 530023 廣西*** | 國省代碼: | 廣西;45 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 六氟化硫 氣體 中的 二氧化硫 含量 檢測 方法 | ||
本發(fā)明涉及一種六氟化硫氣體中的二氧化硫含量的檢測方法,該檢測方法包括:(1)氣體樣品三級制冷濃縮進樣;(2)利用氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀對樣品進行定性、定量分析。本發(fā)明一種六氟化硫氣體中的二氧化硫含量的檢測方法中的氣體樣品經(jīng)過三級制冷濃縮進樣,第一級制冷可除去六氟化硫氣體中水分,樣品中二氧化硫氣體的含量,減少水分對測定結(jié)果的不利影響;第二級制冷可將大部分六氟化硫氣體與分解產(chǎn)物分開,極大提高了二氧化硫氣體的進樣濃度;第三級制冷進一步低溫富集二氧化硫氣體,進一步提高二氧化硫含量檢測的精準(zhǔn)度;質(zhì)譜分析過程中,在六氟化硫出峰結(jié)束后再打開檢測器檢測,可避免六氟化硫的干擾,增加二氧化硫氣體檢測的準(zhǔn)確性。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種檢測方法,尤其涉及一種六氟化硫氣體中的二氧化硫含量的檢測方法,屬于檢測分析技術(shù)領(lǐng)域。
背景技術(shù)
六氟化硫氣體廣泛應(yīng)用于電氣設(shè)備中,但由于水和氧的存在六氟化硫會發(fā)生分解,產(chǎn)生二氧化硫等多種分解產(chǎn)物。在六氟化硫的眾多分解產(chǎn)物中,二氧化硫被認為是一種穩(wěn)定的故障放電特征衍生物,通過測定二氧化硫含量大小可以診斷設(shè)備內(nèi)部故障。目前檢測六氟化硫中分解產(chǎn)物常用色譜法,但用常規(guī)色譜法檢測六氟化硫氣體中痕量分解產(chǎn)物存在兩方面的問題:一是有的組分含量過低而檢測不出,二是部分雜質(zhì)組分沸點與六氟化硫氣體的沸點極為接近,在氣相色譜中保留時間相差不多,色譜峰易被六氟化硫掩蓋而檢測不到。因此,現(xiàn)急需開發(fā)出一種操作簡單、靈敏度高、測定迅速的六氟化硫氣體中二氧化硫含量的檢測方法。
發(fā)明內(nèi)容
針對現(xiàn)有技術(shù)的不足,本發(fā)明的目的是提供操作簡單、靈敏度高、測定迅速的一種六氟化硫氣體中的二氧化硫含量的檢測方法。
為了實現(xiàn)上述目的,本發(fā)明采用的技術(shù)方案如下:一種六氟化硫氣體中的二氧化硫含量的檢測方法,包括以下步驟:
(1)氣體樣品經(jīng)過氣體濃縮裝置三級制冷濃縮進樣,所述三級制冷濃縮進樣包括以下步驟:1)氣體樣品經(jīng)過第一級制冷,第一級制冷條件為:模塊M1冷卻捕集溫度為-50℃~-30℃,再將M1模塊加熱至8℃~12℃,使樣品解吸附轉(zhuǎn)移至模塊M2; 2)氣體樣品經(jīng)過第二級制冷,第二級制冷條件為:模塊M2冷卻吸附溫度為-60℃~-40℃,解吸附溫度為210℃~230℃;3)氣體樣品經(jīng)過第三級制冷,第三級制冷條件為:模塊M3冷聚焦加熱溫度由-160℃~-140℃升溫至70℃~90℃,使樣品揮發(fā)至氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀進樣,氣體樣品的進樣量為50mL,進樣速率1mL/s,進樣傳輸管路溫度90℃~110℃;
(2)利用氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀對樣品進行定性、定量分析。
優(yōu)選地,所述氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀的檢測器為四極桿質(zhì)量檢測器,色譜柱為CP-Sil 5 CB毛細管柱。
優(yōu)選地,所述的對樣品進行定性、定量分析的條件為:
1)色譜分析條件如下:載氣為純度大于99.9999%的高純氦氣;進樣體積:1mL;柱箱溫度為45℃~55℃,恒溫保持10min;進樣口溫度為90℃~110℃;柱流量為0.9mL/min~1.1mL/min;吹掃流量為3.0mL/min~4.0mL/min;
2)質(zhì)譜分析條件如下:離子源溫度為220℃~240℃;四級桿溫度為150℃~155℃;接口溫度為250℃~255℃;檢測器開關(guān)時間:開始檢測后檢測器關(guān)閉,在檢測時間為4.8分鐘時打開檢測器,檢測器掃描方式為選擇離子掃描方式;采集質(zhì)荷比為48、64的離子峰。
優(yōu)選地,所述質(zhì)譜分析條件還包括:設(shè)定保留時間偏移范圍為±0.069min,設(shè)定參考離子相對強度偏差值為80%。
優(yōu)選地,所述質(zhì)譜分析過程中二氧化硫的出峰時間在6.5min~10min。
優(yōu)選地,所述氣體樣品中的目標(biāo)化合物的定量采用外標(biāo)法,建立“濃度—峰面積”對應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)曲線,標(biāo)準(zhǔn)曲線線性擬合過程中非強制過零點,根據(jù)積分計算出峰面積,再由標(biāo)準(zhǔn)曲線計算出目標(biāo)化合物濃度值。
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