[發明專利]一種功能覆蓋率的全遍歷方法

在審

• 申請號: 201711057127.7
• 申請日: 2017-11-01
• 公開（公告）號: CN107844396A
• 公開（公告）日: 2018-03-27
• 發明（設計）人: 朱思良;周強
• 申請（專利權）人: 上海華虹集成電路有限責任公司
• 主分類號: G06F11/263
• 分類號: G06F11/263;G06F11/36
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明適用于芯片設計開發領域，仿真驗證階段中對于功能覆蓋率的建立方法。通過有效的交叉分析得到全面可靠的功能覆蓋率集合。

背景技術

功能覆蓋率是SystemVerilog引入的一個對功能監測的有效工具，可以對自定義的功能覆蓋率點，功能覆蓋率集合中所描述的芯片設計功能進行收集，只有達到了預期的功能覆蓋率才能夠證明芯片中的功能經過驗證的，結果正確的，復合設計的意圖。

功能覆蓋率點是單個功能點，而功能覆蓋率集合是將兩個甚至多個功能覆蓋率點集合在一起，從而代表芯片設計某個特定的狀態在仿真驗證中出現。

發明內容

在芯片設計開發中，仿真驗證階段需要收集功能覆蓋率來保證所有的功能覆蓋率點都被覆蓋到。對于功能復雜的模塊，功能覆蓋率點會較多，這就導致功能覆蓋率集合會更加多，例如N個功能覆蓋率點，在沒有排除無意義的功能覆蓋率集合，可能有C_N¹+C_N²+C_N³+…+C_N^n-1個功能覆蓋率集合。而實際上全部覆蓋所有的功能覆蓋率集合是不現實的，需要創建大量的仿真驗證測試例，耗費太多時間，而且帶來的意義不大，所以采用本發明提供一種全遍歷的方法，并且有效排除了所有低價值，無意義的功能覆蓋率集合，盡快收斂到合理全面的功能覆蓋率集合。

首先，可以從設計規范中提取相應的基本功能覆蓋率點，將功能覆蓋率點分別填入表格的橫列和縱列，基本功能覆蓋率點是整個覆蓋率分析的出發條，也決定了交叉功能覆蓋率集合的最大值。因為功能覆蓋率集合是不關心先后順序的，所以可以忽略表格下半部分的內容，經過設計的特性分析，與其他功能點的交集意義并不大，可以忽略的集合，在表格中用“---”符號來表示，可以忽略的交叉功能覆蓋率集合是后續覆蓋率分析的約束條件，決定了有忽略的交叉功能覆蓋率集合數量。其他有意義的集合就用兩個字符組合代表

然后，將上一步中的功能覆蓋率集合列在新圖表的橫列，繼續將基本功能覆蓋率點列在圖表的縱列。先將自身已經包含的功能點的交集填入灰色，再從之前的分析可以將可忽略的所有交集點直接填入忽略符號，其他點可以填入功能覆蓋率點的交集集合，有部分交集會發生重復，可以用“+++”符號填入。經過圖表分析，得到新的功能覆蓋率集合。

最后，再重復上面的步驟，將新的功能覆蓋率集合列在新的圖表的橫列，基本功能覆蓋率點列在圖表的縱列。填入已經包含的和忽略的部分，最后填入交集集合，以及重復的部分。不斷重復以上步驟知道收斂，無法產生新的交集。

以上通過具體實施方式對本發明進行了詳細說明，但這些并非構成對本發明的限制。在不脫離本發明原理的情況下，本領域的技術人員還可做出許多變形和改進，這些也應視為本發明的保護范圍。

附圖說明

圖1為提取基本功能覆蓋率點，橫列和縱列一樣，通過圖表交叉方式的到1x1的功能覆蓋率集合。

圖2為圖1得到的功能覆蓋率集合填入橫列，縱列繼續使用基本功能覆蓋率點，通過圖表交叉方式得到2x1的功能功能覆蓋率集合。

圖3為圖2得到的功能覆蓋率集合填入橫列，縱列繼續使用基本功能覆蓋率點，通過圖表交叉方式得到3x1的功能功能覆蓋率集合。

具體實施方式