[發明專利]一種電子產品中異常元器件快速定位的方法

在審

• 申請號: 201711055810.7
• 申請日: 2017-10-31
• 公開（公告）號: CN108037379A
• 公開（公告）日: 2018-05-15
• 發明（設計）人: 李山茂
• 申請（專利權）人: 捷開通訊（深圳）有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 深圳市威世博知識產權代理事務所(普通合伙) 44280
• 代理人: 鐘子敏

本發明公開了一種電子產品中異常元器件快速定位的方法。具體包括：初步確認故障區域；使所述初步確定的故障區域內的多個元器件上分別與所述第一檢測物接觸；使電子產品通電，并保持預設時間；以狀態發生變化速度較快或者狀態沒有發生變化的第一檢測物，判定該第一檢測物對應的元器件為異常元器件。通過上述方式，本發明能夠準確判斷電子產品中異常元器件，避免因在產品上多次焊接元器件帶來的不良隱患，降低損壞元器件及產品的概率，提高了檢測效率。

技術領域

本發明涉及維修快速檢測領域，特別是涉及一種電子產品中異常元器件快速定位的方法。

背景技術

在電子產品功能異常分析中，有一種情況的分析常用方式很費時費力。當發現電子產品上的某個信號線路對地阻值比正常的低很多或直接對地短路，尤其是當這條信號線路上連接有多個元器件時，傳統的分析方法是使用逐個解焊元器件的逐個排除法，以此來確認是哪一個元器件故障而造成線路對地阻值偏低。在產品上多次焊接元器件，容易帶來作業不良隱患，也會增大損壞元器件及產品的概率，而且費時費力增加維修成本。

發明內容

本發明主要解決的技術問題是，提供一種電子產品中異常元器件快速定位的方法，能夠解決現有方法費時費力成本高的問題。

為解決上述技術問題，本發明采用的技術方案是：提供一種利用第一檢測物來分析判斷異常元器件的方法。包括以下步驟：

初步確認故障區域；

使所述初步確定的故障區域內的多個元器件上分別與所述第一檢測物接觸；

使電子產品通電，并保持預設時間；

以狀態發生變化速度較快或者狀態沒有發生變化的第一檢測物，判定該第一檢測物對應的元器件為異常元器件。

本發明的有益效果是：區別于現有技術的情況，本發明提供一種利用第一檢測物來分析判斷異常元器件的方法，利用第一檢測物遇熱狀態發生變化的特點來準確判斷整條電路或某個電路區域內多個元器件中的異常元器件，避免因在產品上多次焊接元器件帶來的不良隱患，降低損壞元器件及產品的概率，提高了檢測效率。

附圖說明

圖1是本申請提供的電子產品中異常元器件快速定位的方法一實施方式的流程圖；

圖2是本申請提供的電子產品中異常元器件快速定位的方法的應用環境的示意圖。

具體實施方式

在下文中，將參照附圖來描述本申請的示例性實施例。為了清楚和簡要的目的，不詳細描述公知的功能和構造，這是因為所述公知的功能和構造會使本申請在不必要的細節上變模糊。考慮到本申請中的功能而限定的下面描述的術語可以根據用戶和操作者的意圖或實施而不同。因此，應該在整個說明書的公開的基礎上來限定所述術語。

簡要的說，本申請涉及一種電子產品中異常元器件快速定位的方法。利用第一檢測物遇熱狀態發生變化的特點來準確判斷整條電路多個器件中的異常元器件，達到提高檢測效率的目的。該方法應用于:當發現電子產品上某個信號線路對地阻值比正常低很多或直接對地短路，且這條線路或某一電路區域上連接著多個元器件的情況。對于以上這種情況，如果某一元器件出現對地阻值偏低或直接對地短路，可以采用此方法對故障元器件快速定位。

參見圖1，本申請一種電子產品中異常元器件快速定位的方法一實施例包括以下步驟：

S10：初步確認故障區域；

可選地，在電子產品發生故障的時候，首先，初步確認故障區域。也即初步確認異常元器件所在的區域。