[發明專利]電能表電壓合格率的統計方法在審
| 申請號： | 201711052843.6 | 申請日： | 2017-10-30 |
| 公開（公告）號： | CN107942281A | 公開（公告）日： | 2018-04-20 |
| 發明（設計）人： | 沈維;曾招輝 | 申請（專利權）人： | 華立科技股份有限公司 |
| 主分類號： | G01R35/04 | 分類號： | G01R35/04 |
| 代理公司： | 杭州杭誠專利事務所有限公司33109 | 代理人： | 尉偉敏 |
| 地址： | 310023 浙江省杭州市*** | 國省代碼： | 浙江;33 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 電能表 電壓 合格率 統計 方法 | ||
1.一種電能表電壓合格率的統計方法，其特征在于，包括MCU(1)、計量單元電路(2)、電壓電流采樣電路(3)、存儲器(4)和通信單元電路(5)；所述電壓電流采樣電路與計量單元電路電連接，所述MCU分別與計量單元電路、電壓電流采樣電路、存儲器和通信單元電路電連接；包括如下步驟：
(1-1)設置電能表電壓值的電壓合格上限、電壓合格下限、電壓考核上限和電壓考核下限；
(1-2)計量單元電路通過電壓電流采樣電路采集分相電壓和分相電流；
(1-3)MCU控制計量單元電路分別計算分相電壓監測總時間和合相電壓監測總時間；其中，計算電壓監測總時間的電壓范圍為電壓考核上限和電壓考核下限之間；
(1-4)MCU控制計量單元電路分別計算分相電壓超限時間和合相電壓超限時間，其中，計算電壓超限時間的電壓范圍為電壓合格上限和電壓考核上限之間或者電壓合格下限和電壓考核下限之間；
(1-5)MCU分別計算分相電壓合格率、合相電壓合格率、分相電壓超限率和合相電壓超限率。
2.根據權利要求1所述的電能表電壓合格率的統計方法，其特征在于，還包括如下步驟：
(2-1)MCU將分相電壓合格率、合相電壓合格率、分相電壓超限率和合相電壓超限率存入存儲器；
(2-2)MCU控制通信單元電路工作，進行電能表的遠程管理。
3.根據權利要求1所述的電能表電壓合格率的統計方法，其特征在于，分相電壓合格率和合相電壓合格率的計算公式如下：
4.根據權利要求3所述的電能表電壓合格率的統計方法，其特征在于，分相電壓包括A相電壓、B相電壓和C相電壓；合相電壓超限時間的統計計算方法如下：
當A相、B相和C相三相電壓中至少有一相電壓的電壓值位于電壓合格上限和電壓考核上限之間或者位于電壓合格下限和電壓考核下限之間時，對合相電壓超限時間進行累加；
當A相、B相和C相三相電壓的電壓值均位于電壓合格上限和電壓合格下限之間時，或者當A相、B相和C相三相電壓中至少有一相電壓的電壓值超過電壓考核上限或電壓考核下限時，對合相電壓超限時間停止累加。
5.根據權利要求3所述的電能表電壓合格率的統計方法，其特征在于，分相電壓包括A相電壓、B相電壓和C相電壓；合相電壓監測統計總時間的統計計算方法如下：
當A相、B相和C相三相電壓的電壓值均位于電壓考核上限和電壓考核下限之間時，對電壓監測統計總時間進行累加；
當A相、B相和C相三相電壓中有一相電壓的電壓值超過電壓考核上限或電壓考核下限時，停止電壓監測統計總時間的累加。
6.根據權利要求1或2或3或4或5所述的電能表電壓合格率的統計方法，其特征在于，根據分相電壓合格率計算分相電壓超限率，根據合相電壓合格率計算合相電壓超限率，具體的計算公式如下：
分相電壓超限率＝1-分相電壓合格率；
合相電壓超限率＝1-合相電壓合格率。
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