[發明專利]電磁爐測溫方法、測溫裝置及可讀儲存介質

有效

• 申請號: 201711052240.6
• 申請日: 2017-10-30
• 公開（公告）號: CN109724704B
• 公開（公告）日: 2020-03-06
• 發明（設計）人: 李小輝;汪釗;王帥;陳偉;何少華
• 申請（專利權）人: 佛山市順德區美的電熱電器制造有限公司
• 主分類號: G01K1/02
• 分類號: G01K1/02;G01K13/00
• 代理公司: 深圳市世紀恒程知識產權代理事務所 44287
• 代理人: 胡海國

1.一種電磁爐測溫方法，其特征在于，所述電磁爐測溫方法包括以下步驟：

獲取在電磁爐微晶板底面呈散狀分布的至少三個溫度傳感器采集的溫度數據以及各溫度傳感器相對微晶板的位置數據；

根據溫度數據與位置數據，獲取電磁爐加熱的待測容器在微晶板的實際位置；

根據溫度數據，獲取電磁爐匹配的預設溫度曲線，并提取預設溫度曲線中的溫度峰值；

根據實際位置和溫度峰值計算出當前待測容器的實際溫度；

所述根據溫度數據與位置數據，獲取電磁爐加熱的待測容器在微晶板的實際位置的步驟包括：

由溫度數據中獲取三個最大值，并根據溫度傳感器的位置數據與對應數學關系計算出待測容器在微晶板的實際位置。

2.如權利要求1所述的電磁爐測溫方法，其特征在于，所述獲取在電磁爐微晶板底面呈散狀分布的至少三個溫度傳感器采集的溫度數據以及各溫度傳感器相對微晶板的位置數據的步驟之前還包括：

根據電磁爐微晶板中磁通線覆蓋范圍與溫度傳感器個數，確定各溫度傳感器在電磁爐微晶板底面呈散狀分布的位置數據。

3.如權利要求2所述的電磁爐測溫方法，其特征在于，所述根據電磁爐微晶板中磁通線覆蓋范圍與傳感器個數，各溫度傳感器在電磁爐微晶板底面呈散狀分布的位置數據的步驟還包括：

根據電磁爐微晶板中磁通線覆蓋范圍與傳感器個數，確定傳感器之間螺旋分布或同心圓分布的標準弧長；

根據螺旋線或同心圓分布初始半徑、初始角度和標準弧長，確定各個溫度傳感器螺旋分布或同心圓分布的半徑；

根據計算出的各溫度傳感器的半徑與標準弧長，確定各個溫度傳感器相對初始角度的偏移角度，并將各溫度傳感器的半徑和偏移角度作為溫度傳感器在電磁爐微晶板底面呈散狀分布的位置數據。

4.如權利要求3所述的電磁爐測溫方法，其特征在于，所述確定各溫度傳感器在電磁爐微晶板底面呈散狀分布的位置數據的步驟包括：

各溫度傳感器的位置數據包括半徑與偏移角度，并且半徑或者偏移角度有至少一個的差值數據大于預設分散區間。

5.如權利要求1所述的電磁爐測溫方法，其特征在于，所述根據溫度數據，獲取電磁爐匹配的預設溫度曲線，并提取預設溫度曲線中的溫度峰值的步驟包括：

根據溫度傳感器測得的溫度數據獲取溫度值集合，并計算出溫度值集合的方差；

將溫度值集合的方差與預設閾值進行比對，根據比對結果匹配對應的駝峰曲線，并提取駝峰曲線的溫度峰值。

6.如權利要求5所述的電磁爐測溫方法，其特征在于，所述將溫度集合的方差與預設方差值進行比對，并根據比對結果匹配對應的駝峰曲線的步驟包括：

若溫度值集合的方差大于等于第一預設方差值，則采用預設第一駝峰曲線進行匹配；

若溫度值集合的方差小于第一預設方差值，且大于等于第二預設方差值，則采用預設第二駝峰曲線進行匹配；

若溫度值集合的方差小于第二預設方差值，則采用預設第三駝峰曲線進行匹配，其中第一預設方差值大于第二預設方差值。

7.如權利要求1所述的電磁爐測溫方法，其特征在于，所述根據實際位置和溫度峰值計算出當前待測容器的實際溫度的步驟包括：

根據實際位置和溫度峰值計算出當前待測容器的實際溫度，獲取對應的預設溫度修正系數；

由溫度峰值與獲取到的預設溫度修正系數，計算出當前待測容器的實際溫度。

8.一種測溫裝置，其特征在于，所述裝置包括：存儲器、處理器及存儲在所述存儲器上并可在所述處理器上運行的電磁爐測溫程序，所述電磁爐測溫程序被所述處理器執行時實現如權利要求1至7中任一項所述的電磁爐測溫方法的步驟。

9.一種計算機可讀存儲介質，其特征在于，所述計算機可讀存儲介質上存儲有電磁爐測溫程序，所述電磁爐測溫程序被處理器執行時實現如權利要求1至7中任一項所述的電磁爐測溫方法的步驟。