[發明專利]無源互調測試夾具及裝置

有效

• 申請號: 201711050214.X
• 申請日: 2017-10-31
• 公開（公告）號: CN107942157B
• 公開（公告）日: 2020-06-16
• 發明（設計）人: 朱泳名;葛鷹;何毅;蘭貴勝
• 申請（專利權）人: 廣東生益科技股份有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01R1/04
• 代理公司: 廣州三環專利商標代理有限公司 44202
• 代理人: 張艷美;王志

1.一種無源互調測試夾具，適于對進行無源互調測試的樣品進行固定，所述樣品的上表面具有沿長度方向設置的導體，其特征在于，包括：

底座，所述底座呈絕緣結構；

固定支架，所述固定支架呈絕緣結構，兩所述固定支架呈豎直且相對的固定于所述底座上；

第一連接器，所述第一連接器固定于一所述固定支架上，所述第一連接器上凸伸出第一信號導體及第一接地導體，所述第一接地導體位于所述第一信號導體下方；

第二連接器，所述第二連接器固定于另一所述固定支架上，所述第二連接器上凸伸出第二信號導體及第二接地導體，所述第一接地導體與所述第二接地導體呈水平正對設置以與所述樣品的下表面呈無應力的一體式固定連接，所述第一信號導體與所述第二信號導體呈水平正對設置以與所述樣品的上表面沿長度方向設置的導體的兩端呈無應力的一體式固定連接。

2.如權利要求1所述的無源互調測試夾具，其特征在于，所述第一接地導體和所述第二接地導體分別至少具有兩個，所述第二接地導體與所述第一接地導體呈一一對應設置。

3.如權利要求1所述的無源互調測試夾具，其特征在于，所述樣品的上表面沿長度方向設置的導體的兩端分別對應與所述第一信號導體及所述第二信號導體呈無應力的一體式焊接固定連接。

4.如權利要求1所述的無源互調測試夾具，其特征在于，所述樣品的下表面分別對應于所述第一接地導體及所述第二接地導體呈無應力的一體式焊接固定連接。

5.如權利要求1所述的無源互調測試夾具，其特征在于，所述樣品的上表面藉由蝕刻形成所述沿長度方向設置的導體。

6.一種無源互調測試裝置，用于對樣品進行無源互調測試，所述無源互調測試裝置包括PIM分析儀及與所述PIM分析儀電性連接的無源互調測試夾具，其特征在于，所述無源互調測試夾具如權利要求1－5中任一項所述，所述PIM分析儀的兩端分別與所述第一連接器及所述第二連接器電性連接。