[發明專利]一種天線覆蓋性能評估方法、電子設備、存儲介質、系統

在審

• 申請號: 201711048115.8
• 申請日: 2017-10-31
• 公開（公告）號: CN108107277A
• 公開（公告）日: 2018-06-01
• 發明（設計）人: 黃炎水;吳錦雄;林碩;謝立新
• 申請（專利權）人: 黃炎水;吳錦雄;林碩;謝立新
• 主分類號: G01R29/10
• 分類號: G01R29/10
• 代理公司: 廣州市越秀區哲力專利商標事務所(普通合伙) 44288
• 代理人: 代春蘭;徐燕萍

1.一種天線覆蓋性能評估方法，其特征在于包括以下步驟：

衰耗處理，對測試終端進行衰耗處理；

天線面測試，所述測試終端對天線面進行測試，獲得天線面測試數據；

覆蓋性能評估，根據所述天線面測試數據計算天線的輻射效率，獲得實測輻射效率，評估所述實測輻射效率與理論輻射效率，獲得覆蓋性能評估結果。

2.如權利要求1所述的一種天線覆蓋性能評估方法，其特征在于：所述步驟衰耗處理具體為將所述測試終端置于防輻射布袋中進行衰耗處理，獲得防輻射衰耗。

3.如權利要求2所述的一種天線覆蓋性能評估方法，其特征在于，所述步驟天線面測試包括以下步驟：

水平測試，所述測試終端繞所述天線面一圈進行水平測試，獲得水平測試數據；

垂直測試，所述測試終端沿所述天線面進行垂直測試，獲得垂直測試數據。

4.如權利要求3所述的一種天線覆蓋性能評估方法，其特征在于：所述測試終端存儲所述水平測試數據和所述垂直測試數據。

5.如權利要求4所述的一種天線覆蓋性能評估方法，其特征在于，所述步驟覆蓋性能評估還包括以下步驟：

獲取測試數據，獲取所述測試終端存儲的所述水平測試數據和所述垂直測試數據；

計算輻射效率，根據所述水平測試數據和所述垂直測試數據計算實測天線面峰值功率；

評估覆蓋性能，計算天線的理論天線面峰值功率，判斷所述理論天線面峰值功率與所述實測天線面峰值功率的差值是否大于閾值，是則判定天線的輻射效率不合格，否則判定天線的輻射效率合格。

6.如權利要求5所述的一種天線覆蓋性能評估方法，其特征在于，所述步驟計算輻射效率具體為：分別獲取所述水平測試數據和所述垂直測試數據的峰值功率，得到水平峰值功率和垂直峰值功率，獲取所述防輻射衰耗，并根據實測天線面峰值功率計算公式計算所述實測天線面峰值功率，所述實測天線面峰值功率計算公式如下：

實測天線面峰值功率＝MAX(水平峰值功率，垂直峰值功率)+防輻射衰耗。

7.如權利要求5所述的一種天線覆蓋性能評估方法，其特征在于，所述計算天線的理論天線面峰值功率具體為：獲取天線饋入電功率，并根據理論天線面峰值功率計算公式計算所述理論天線面峰值功率，所述理論天線面峰值功率計算公式如下：

理論天線面峰值功率＝天線饋入電功率-理論損耗。

8.一種電子設備，其特征在于包括：處理器；

存儲器；以及程序，其中所述程序被存儲在所述存儲器中，并且被配置成由處理器執行，所述程序包括用于執行權利要求1-7任意一項所述的方法。

9.一種計算機可讀存儲介質，其上存儲有計算機程序，其特征在于：所述計算機程序被處理器執行如權利要求1-7任意一項所述的方法。

10.一種天線覆蓋性能評估系統，其特征在于：包括衰耗處理裝置、測試終端、后臺，所述衰耗處理裝置對所述測試終端進行衰耗處理，所述測試終端對天線面進行測試，獲得天線面測試數據，所述后臺根據所述天線面測試數據計算天線的輻射效率，獲得實測輻射效率，并評估所述實測輻射效率與理論輻射效率，獲得覆蓋性能評估結果。

11.如權利要求10所述的一種天線覆蓋性能評估系統，其特征在于：所述衰耗處理裝置包括防輻射布袋，所述防輻射布袋對所述測試終端進行衰耗處理，獲得防輻射衰耗。

12.如權利要求11所述的一種天線覆蓋性能評估系統，其特征在于：所述天線面測試數據包括水平測試數據和垂直測試數據，所述測試終端包括存儲模塊，所述存儲模塊存儲所述水平測試數據和所述垂直測試數據。

13.如權利要求12所述的一種天線覆蓋性能評估系統，其特征在于：所述后臺包括實測計算模塊、理論計算模塊、覆蓋性能評估模塊，所述實測計算模塊獲取所述存儲模塊存儲的水平測試數據和垂直測試數據，并根據所述水平測試數據和所述垂直測試數據計算實測天線面峰值功率，所述理論計算模塊獲取天線饋入電功率，并根據所述天線饋入電功率計算理論天線面峰值功率，所述覆蓋性能評估模塊根據所述實測天線面峰值功率和所述理論天線面峰值功率評估天線的覆蓋性能。