[發明專利]后臺應用的清理方法、裝置、存儲介質及電子設備

有效

• 申請號: 201711047048.8
• 申請日: 2017-10-31
• 公開（公告）號: CN107844337B
• 公開（公告）日: 2019-08-06
• 發明（設計）人: 梁昆
• 申請（專利權）人: OPPO廣東移動通信有限公司
• 主分類號: G06F9/445
• 分類號: G06F9/445;G06K9/62
• 代理公司: 深圳翼盛智成知識產權事務所(普通合伙) 44300
• 代理人: 黃威

1.一種后臺應用的清理方法，其特征在于，包括：

獲取應用的多個第一類樣本向量和多個第二類樣本向量，包括：采集應用的多維特征信息作為樣本向量，構成所述應用的樣本集；對所述樣本集中的樣本向量進行標記，得到每個樣本向量的樣本標簽，所述樣本標簽包括可清理類和不可清理類；根據每個樣本向量的樣本標簽，確定所述樣本集中的第一類樣本向量和第二類樣本向量；其中，所述第一類樣本向量為可清理類的樣本向量，所述第二類樣本向量為不可清理類的樣本向量；

基于線性判別分析算法對所述第一類樣本向量和所述第二類樣本向量進行計算，得到最佳投影向量；

當應用進入后臺后，利用所述最佳投影向量對所述應用的當前特征信息進行投影，得到第一投影值，包括：計算最佳投影向量的轉置與所述應用的當前特征信息的乘積，得到第一投影值；利用所述最佳投影向量對每個第一類樣本向量進行投影，得到多個第二投影值，以及利用所述最佳投影向量對每個第二類樣本向量進行投影，得到多個第三投影值；

根據所述第一投影值、第二投影值和第三投影值生成預測結果，所述預測結果包括可清理應用和不可清理應用；

根據所述預測結果確定是否可以清理應用。

2.根據權利要求1所述的清理方法，其特征在于，所述基于線性判別分析算法對所述第一類樣本向量和所述第二類樣本向量進行計算，包括：

根據所述第一類樣本向量和第二類樣本向量，計算類間離散度矩陣和總的類內離散度矩陣；

計算所述類間離散度矩陣與總的類內離散度矩陣類的比值，得到投影矩陣；

計算所述投影矩陣的最大特征值對應的特征向量，得到最佳投影向量。

3.根據權利要求2所述的清理方法，其特征在于，所述根據所述第一類樣本向量和第二類樣本向量，計算類間離散度矩陣和總的類內離散度矩陣，包括：

分別計算所述第一類樣本向量和第二類樣本向量的均值向量；

根據所述第一類樣本向量的均值向量計算第一類內離散度矩陣，根據所述第二類樣本向量的均值向量計算第二類內離散度矩陣；

根據所述第一類內離散度矩陣和第二類內離散度矩陣，計算總的類內離散度矩陣；

根據所述第一類樣本向量的均值向量和第二類樣本向量的均值向量，計算類間離散度矩陣。

4.根據權利要求3所述的清理方法，其特征在于，所述根據所述第一類樣本向量的均值向量計算第一類內離散度矩陣，根據所述第二類樣本向量的均值向量計算第二類內離散度矩陣，包括：

根據第一公式分別計算所述第一類內離散度矩陣和第二類內離散度矩陣，所述第一公式具體為：

其中，i＝1或2，S_i表示第i類內離散度矩陣，n_i表示第i類樣本向量的總數量，x_ij表示第j個第i類樣本向量，m_i表示第i類樣本向量的均值向量，T表示(x_ij-m_i)的轉置；

所述根據所述第一類內離散度矩陣和第二類內離散度矩陣，計算總的類內離散度矩陣，包括：根據第二公式計算總的類內離散度矩陣，所述第二公式具體為：

S_w＝S₁+S₂，其中S_w表示總的類內離散度矩陣，S₁表示第一類內離散度矩陣，S₂表示第二類內離散度矩陣。

5.根據權利要求3所述的清理方法，其特征在于，所述根據所述第一類樣本向量的均值向量和第二類樣本向量的均值向量，計算類間離散度矩陣，包括：

根據第三公式計算所述類間離散度矩陣，所述第三公式具體為：

S_b＝(m₁-m₂)(m₁-m₂)^T，其中S_b表示類間離散度矩陣，m₁表示第一類樣本向量的均值向量，m₂表示第二類樣本向量的均值向量，T表示(m₁-m₂)的轉置。