[發(fā)明專利]一種電壓容限自動測試系統(tǒng)及方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201711045696.X
• 申請日: 2017-10-31
• 公開（公告）號: CN107843786B
• 公開（公告）日: 2020-09-15
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 魏志東
• 申請（專利權(quán)）人: 邁普通信技術(shù)股份有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 成都虹橋?qū)＠聞?wù)所(普通合伙) 51124
• 代理人: 吳中偉

本發(fā)明涉及電子產(chǎn)品測試方法，其公開了一種電壓容限自動測試系統(tǒng)及方法，解決傳統(tǒng)技術(shù)中電子產(chǎn)品電壓容限測試方法存在調(diào)節(jié)范圍窄、調(diào)節(jié)精度低、測試效率低、受使用環(huán)境局限的問題。該系統(tǒng)包括電壓容限測試裝置、被測設(shè)備、控制終端：本發(fā)明中，通過控制終端設(shè)置預(yù)設(shè)調(diào)節(jié)參數(shù)并傳輸給電壓容限測試裝置；在選擇調(diào)節(jié)模式后，電壓容限測試裝置對預(yù)設(shè)調(diào)節(jié)參數(shù)進行初始化處理，生成每次調(diào)節(jié)電壓值與對應(yīng)匹配電阻值的表單；根據(jù)表單自動調(diào)節(jié)輸出至被測設(shè)備電源模塊的匹配電阻值阻值大小，從而調(diào)節(jié)被測設(shè)備電源模塊輸出電壓，對后級芯片進行電壓容限測試，并讀取被測設(shè)備電源模塊的反饋電壓上傳至控制終端；在達到停止測試觸發(fā)條件時停止測試。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及電子產(chǎn)品測試方法，具體涉及一種電壓容限自動測試系統(tǒng)及方法。

背景技術(shù)

隨著電子產(chǎn)品應(yīng)用場景越來越復(fù)雜，業(yè)務(wù)模式越來越多變，隨之對它的可靠性要求越來越高，各種容限測試方法應(yīng)運而生。容限測試的目的是衡量產(chǎn)品在某一方面的裕量，只有裕量充足的情況下才能保證電子產(chǎn)品在極端條件下穩(wěn)定可靠的工作。

目前行業(yè)內(nèi)測試電子產(chǎn)品電壓容限的常見方法有：

1、用各種阻值的電阻直接更換電源模塊的匹配電阻進行電壓調(diào)節(jié)，此方法極度繁瑣，且受電阻各種阻值局限，可調(diào)靈活度較低，并且在實驗環(huán)境下不具有可操作性；

2、用滑動變阻器替代電源模塊的匹配電阻，此方法相對上一種方法而言要靈活一些，效率還是較低。滑動變阻器手動調(diào)節(jié)時精度不可控會造成電壓調(diào)節(jié)精度也不可控，在精度要求高的地方不實用，并且在實驗環(huán)境下不具有可操作性；

3、由各種阻值的電阻組合而成的遠程可調(diào)裝置，用它替代電源模塊的匹配電阻進行電壓調(diào)節(jié)，此方法中也會面臨可調(diào)阻值過少的問題，若想擴大可調(diào)范圍，則成本和裝置體積會大大的增加，而且仍需要人工計算與調(diào)節(jié)，自動化程度不高，導(dǎo)致效率也相對較低，但該方法可應(yīng)用于實驗環(huán)境下。

綜上，目前行業(yè)內(nèi)測試電子產(chǎn)品電壓容限的上述方法主要存在調(diào)節(jié)范圍窄，調(diào)節(jié)精度低，測試效率低，受使用環(huán)境局限的問題。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是，提出一種電壓容限自動測試系統(tǒng)及方法，解決傳統(tǒng)技術(shù)中電子產(chǎn)品電壓容限測試方法存在調(diào)節(jié)范圍窄、調(diào)節(jié)精度低、測試效率低、受使用環(huán)境局限的問題。

一方面，本發(fā)明的實施例提出了一種電壓容限自動測試系統(tǒng)，其包括電壓容限測試裝置、被測設(shè)備、控制終端：

所述電壓容限測試裝置，用于接收通過控制終端設(shè)置的預(yù)設(shè)調(diào)節(jié)參數(shù)，根據(jù)電壓調(diào)節(jié)模式對預(yù)設(shè)調(diào)節(jié)參數(shù)進行初始化處理，生成每次調(diào)節(jié)電壓值與對應(yīng)匹配電阻值的表單；

根據(jù)所述表單自動調(diào)節(jié)輸出至被測設(shè)備電源模塊的匹配電阻值阻值大小，從而調(diào)節(jié)被測設(shè)備電源模塊輸出電壓，對后級芯片進行電壓容限測試，并讀取被測設(shè)備電源模塊的反饋電壓上傳至控制終端；

還用于在收到控制終端停止測試命令或者被測設(shè)備的中斷信號或者達到最大允許電壓時，停止測試；

所述被測設(shè)備，用于在檢測到被測試芯片工作異常時，向電壓容限測試裝置發(fā)出中斷信號；

所述控制終端，用于設(shè)置電壓容限測試裝置的預(yù)設(shè)調(diào)節(jié)參數(shù)，以及接收并顯示被測設(shè)備電源模塊的反饋電壓，記錄調(diào)節(jié)過程和結(jié)果。

作為進一步優(yōu)化，所述電壓容限測試裝置包括：MCU、可編程電阻單元和藍牙收發(fā)器；所述可編程電阻單元及藍牙收發(fā)器均連接MCU；所述電壓容限測試裝置通過藍牙收發(fā)器與控制終端通信。

作為進一步優(yōu)化，所述電壓容限測試裝置上設(shè)置有三組接口，分別連接到被測設(shè)備的電源模塊電壓輸出端口，匹配電阻輸入端以及CPU中斷信號輸出引腳。

作為進一步優(yōu)化，所述可編程電阻單元包括三個不同精度的數(shù)字電位器。