[發明專利]一種微波輻射計天線輻射效率測試方法及系統在審
| 申請號： | 201711044159.3 | 申請日： | 2017-10-31 |
| 公開（公告）號： | CN107942146A | 公開（公告）日： | 2018-04-20 |
| 發明（設計）人： | 李一楠;崔華陽;郭語;王鑫;梁麗莎;呂容川;宋廣南;楊小嬌;李鵬飛;盧海梁;王叢叢;李浩 | 申請（專利權）人： | 西安空間無線電技術研究所 |
| 主分類號： | G01R29/10 | 分類號： | G01R29/10 |
| 代理公司： | 中國航天科技專利中心11009 | 代理人： | 張曉飛 |
| 地址： | 710100 陜*** | 國省代碼： | 陜西;61 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 微波 輻射計 天線 輻射 效率 測試 方法 系統 | ||
1.一種微波輻射計天線輻射效率測試方法，其特征在于步驟如下：
1)定標微波輻射計接收機定標斜率和定標偏置；
2)使用微波輻射計天線觀測亮溫值已知的場景，獲得此時微波輻射計的輸出電壓，測量微波輻射計天線的物理溫度，根據定標結果計算微波輻射計接收機端面的亮溫值；
3)根據已知場景的亮溫值和微波輻射計接收機端面的亮溫值，計算得到微波輻射計天線輻射效率。
2.根據權利要求1所述的一種微波輻射計天線輻射效率測試方法，其特征在于：所述定標微波輻射計接收機定標斜率和定標偏置的具體方法為：向微波輻射計接收機分別注入匹配負載溫度以及噪聲定標源溫度獲取微波輻射計輸出的與匹配負載溫度以及噪聲定標源溫度相對應的輸出電壓VU和VHOT，通過兩點定標法獲得微波輻射計接收機的定標斜率K和定標偏置b。
3.根據權利要求2所述的一種微波輻射計天線輻射效率測試方法，其特征在于：所述通過兩點定標法獲得微波輻射計接收機端面的定標斜率K和定標偏置b的方法為：
4.根據權利要求2或3所述的一種微波輻射計天線輻射效率測試方法，其特征在于：所述根據定標結果計算微波輻射計接收機端面的亮溫值Tin的具體公式為：
其中，VA為使用微波輻射計天線觀測亮溫值已知場景時獲得的微波輻射計的輸出電壓。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于西安空間無線電技術研究所，未經西安空間無線電技術研究所許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201711044159.3/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
