[發明專利]一種抑制粒子流發生裝置中感應電壓的方法

有效

• 申請號: 201711042267.7
• 申請日: 2017-10-30
• 公開（公告）號: CN107728095B
• 公開（公告）日: 2020-08-21
• 發明（設計）人: 王延召;張建功;張業茂;周兵;倪園;胡靜竹;趙軍;干喆淵;劉興發;謝輝春;路遙;劉震寰
• 申請（專利權）人: 中國電力科學研究院有限公司;國家電網公司
• 主分類號: G01R35/00
• 分類號: G01R35/00;G01R29/12
• 代理公司: 北京工信聯合知識產權代理有限公司 11266
• 代理人: 郭一斐

本發明公開了一種抑制粒子流發生裝置中感應電壓的方法，粒子流發生裝置包括離子流極、控制極、高壓電極和接地極，該方法先在控制極和高壓電極之間連接第一電阻，高壓電極和接地極之間連接第二電阻，然后在接地極連接場磨，再增加控制極的電壓，并對離子流極逐步增加電壓，直到離子流極發生電暈，同時還要調節控制極和高壓電極的電壓，離子流極發生電暈后，通過接地極上表面的直流合成場對場磨進行校準。本發明能夠有效抑制粒子流發生裝置在對測量儀校準時產生的感應電壓，同時可保證各電極層電極之間不會發生過壓擊穿，提高了該裝置的可靠性和安全性。

技術領域

本發明涉及高壓輸電工程電磁兼容技術領域，具體涉及一種抑制粒子流發生裝置中感應電壓的方法。

背景技術

近年來我國直流輸電線路建設快速發展，直流輸電線路周圍的電磁環境問題愈來愈引起人們的關注，直流合成場是直流輸電線路和變電站的主要電磁環境參數，直流合成場是由線路電壓產生的標稱場與空間電荷產生的電場矢量合成的總場強，直流合成場一般采用直流合成場測量儀進行測量，為了準確的測量直流合成場的大小，需要對測量儀進行校準，目前國內外主要用粒子流發生裝置對直流合成場測量系統進行校準。

粒子流發生裝置由直流接地極、直流高壓極、控制極和離子流極四極構成，在直流接地極與直流高壓極間施加直流電源時產生的電場即為靜電場，控制極與離子流極相當于電暈籠，當二者電位差達到離子流極起暈時，離子流極產生的空間電荷在電場的作用下穿過控制極和直流高壓極達到校準區，在直流場接地極上表面就可產生由靜電場和空間電荷場疊加而成的直流合成場，通過粒子流發生裝置產生的直流合成場對測量儀的直流合成場進行校準。但是目前該粒子流發生裝置在校準時，由于靜電感應現象的存在，導致各個電極之間的電壓會相互影響，感應電壓的存在會導致粒子流發生裝置無法準確的調出所需的合成場強，影響粒子流發生裝置的使用，無法滿足校準需求。

發明內容

本發明要解決的技術問題是提供一種抑制粒子流發生裝置中感應電壓的方法，能夠有效抑制粒子流發生裝置在對測量儀校準時產生的感應電壓，同時可保證各電極層電極之間不會發生過壓擊穿，提高了該裝置的可靠性和安全性。

為了解決上述技術問題，本發明提供的技術方案如下：

一種抑制粒子流發生裝置中感應電壓的方法，所述粒子流發生裝置包括離子流極、控制極、高壓電極和接地極，該方法包括以下步驟：

1)在控制極和高壓電極之間連接第一電阻，高壓電極和接地極之間連接第二電阻，

所述第一電阻的電阻值是根據控制極上的感應電壓、高壓電極上的感應電壓分別與第一電阻的電阻值之間的關系、以及校準所需的電壓等級來確定；

所述第二電阻的電阻值是根據高壓電極上的感應電壓與第二電阻的電阻值之間的關系、以及校準所需的電壓等級來確定；

2)在接地極連接場磨，然后采用直流高壓發生器將高壓電極的電壓施加到為設定電壓，高壓電極的設定電壓不大于高壓電極和接地極之間的臨界電壓；

3)采用直流高壓發生器增加控制極的電壓，并使得控制極與高壓電極之間的電壓差始終不大于控制極和高壓電極之間的臨界電壓；

4)再采用直流高壓發生器對離子流極逐步增加電壓，直到離子流極發生電暈，在采用直流高壓發生器對離子流極進行逐步增加電壓的同時還要調節控制極的電壓，使控制極和離子流極之間電壓差始終保持在控制極和離子流極之間的臨界電壓差，以及調節高壓電極的電壓，使高壓電極的電壓始終維持在設定電壓；

5)離子流極發生電暈后，接地極的上表面就產生由靜電場和空間電荷場疊加而成的直流合成場，通過接地極上表面的直流合成場對場磨進行校準。

所述步驟1)中控制極上的感應電壓、高壓電極上的感應電壓分別與第一電阻的電阻值之間的關系主要由以下步驟得出：