[發(fā)明專利]一種基于多波長(zhǎng)相位調(diào)制的光學(xué)合成孔徑成像望遠(yuǎn)鏡陣列共相誤差探測(cè)方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201711041721.7 | 申請(qǐng)日: | 2017-10-31 |
| 公開(公告)號(hào): | CN107656363A | 公開(公告)日: | 2018-02-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 董理;馬浩統(tǒng);彭起;任戈;亓波;謝宗良;陳豐;譚玉鳳 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)科學(xué)院光電技術(shù)研究所 |
| 主分類號(hào): | G02B21/00 | 分類號(hào): | G02B21/00;G02B27/00 |
| 代理公司: | 暫無(wú)信息 | 代理人: | 暫無(wú)信息 |
| 地址: | 610209 *** | 國(guó)省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 波長(zhǎng) 相位 調(diào)制 光學(xué) 合成 孔徑 成像 望遠(yuǎn)鏡 陣列 共相 誤差 探測(cè) 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于光學(xué)成像望遠(yuǎn)鏡領(lǐng)域,具體涉及一種基于多波長(zhǎng)相位調(diào)制的光學(xué)合成孔徑成像望遠(yuǎn)鏡陣列共相誤差探測(cè)方法。
背景技術(shù)
光學(xué)合成孔徑成像望遠(yuǎn)鏡陣列是利用多個(gè)在空間特定排布的子望遠(yuǎn)鏡來(lái)實(shí)現(xiàn)大孔徑分辨能力的望遠(yuǎn)鏡系統(tǒng)。與單孔徑成像系統(tǒng)相比,光學(xué)合成孔徑成像望遠(yuǎn)鏡陣列能夠獲取目標(biāo)更多的高頻成分,從而有效提高成像觀測(cè)精度,實(shí)現(xiàn)等效大孔徑成像系統(tǒng)的分辨能力。同時(shí)由于其所用光學(xué)元件口徑小、重量輕,可以大大降低制造難度和運(yùn)載費(fèi)用。在實(shí)際應(yīng)用中,由于裝配誤差、固有誤差及大氣湍流等原因,容易給子望遠(yuǎn)鏡之間帶來(lái)共相誤差。子望遠(yuǎn)鏡間共相誤差的存在會(huì)影響光學(xué)合成孔徑成像望遠(yuǎn)鏡陣列的干涉效果,造成主瓣能量下降,降低成像質(zhì)量。為保證光學(xué)合成孔徑成像望遠(yuǎn)鏡陣列的成像效果,需要將望遠(yuǎn)鏡陣列的共相誤差控制在λ/10之內(nèi)。共相誤差探測(cè)與校正是實(shí)現(xiàn)各個(gè)子望遠(yuǎn)鏡共相的重要技術(shù),對(duì)于光學(xué)合成孔徑成像望遠(yuǎn)鏡陣列實(shí)現(xiàn)高分辨力觀測(cè)具有重要意義。
目前比較成熟的共相誤差探測(cè)技術(shù)包括夏克-哈德曼傳感器、波前曲率傳感器和基于圖像的相位差法。夏克-哈德曼傳感器設(shè)計(jì)制造復(fù)雜,成本高,且無(wú)法探測(cè)復(fù)雜度高的波前。波前曲率傳感器測(cè)量精度低,不適用于高分辨率成像系統(tǒng)。基于圖像的相位差法需要復(fù)雜的后續(xù)迭代算法來(lái)處理圖像,實(shí)時(shí)性差。此外,現(xiàn)有的這些方法均無(wú)法解決2π模糊的問題。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是:提供一種實(shí)時(shí)性好,測(cè)量范圍大、不受2π模糊影響的基于多波長(zhǎng)相位調(diào)制的光學(xué)合成孔徑成像望遠(yuǎn)鏡陣列共相誤差探測(cè)方法。
本發(fā)明解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案為:一種基于多波長(zhǎng)相位調(diào)制的光學(xué)合成孔徑成像望遠(yuǎn)鏡陣列共相誤差探測(cè)方法,實(shí)現(xiàn)步驟如下:
(1)設(shè)置點(diǎn)光源的發(fā)出光的波長(zhǎng)為λ1;
(2)將探測(cè)器置于待探測(cè)的合成孔徑成像系統(tǒng)的像面上,對(duì)合成孔徑望遠(yuǎn)鏡系統(tǒng)的某一特定子孔徑進(jìn)行相位調(diào)制,依次給其加上φ1,φ2,…,φk,…φM的相位調(diào)制,其中φk=2π*(k-1)/M,k為整數(shù)且1≤k≤M,M為總共的調(diào)制步數(shù)且M≥3,并依次使用相機(jī)測(cè)得系統(tǒng)的點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)PSF1,PSF2,…,PSFk,…,PSFM;
(3)通過一個(gè)計(jì)算過程得到各個(gè)子孔徑在λ1下的部分相位差,計(jì)算過程如下:
1)對(duì)所得到的點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)進(jìn)行反傅里葉變換變換得到系統(tǒng)的一組光學(xué)傳遞函數(shù)OTF1,OTF2,…,OTFk,…,OTFM;
2)將到的一組光學(xué)傳遞函數(shù)分別乘上相移φ1,φ2,…,φk,…φM后相加再取算術(shù)平均,得到C(P):
式中,n具有一般性,可以是任意一塊子孔徑,△n為第n塊子鏡的相移誤差,Bn為第n塊子鏡的光瞳函數(shù),N為合成孔徑成像系統(tǒng)的子孔徑數(shù)量;
3)在式(1)兩側(cè)均乘上第n個(gè)子望遠(yuǎn)鏡的光瞳函數(shù),得到:
C(P)Bn=exp(ik△n)Bn(2)
4)計(jì)算出部分相位差:
式中,Z為第n個(gè)子望遠(yuǎn)鏡在光源波長(zhǎng)為λ1的情況下的相移誤差中的2π整數(shù)倍的部分,為第n個(gè)子望遠(yuǎn)鏡在點(diǎn)光源波長(zhǎng)為λ1的情況下的相移誤差中不含2π整數(shù)倍的部分相位;
(4)設(shè)置點(diǎn)光源的發(fā)出光的波長(zhǎng)為λ2,λ3重復(fù)上述步驟(1)、(2)、(3)得到
5)為了方便表示,2π整數(shù)倍的部分用n1、n2、n3來(lái)表示,部分相位分別使用來(lái)表示。第n個(gè)子鏡的待測(cè)共相誤差為ξ:
上式是個(gè)欠約束方程,定義合成波長(zhǎng)λs:
λs=(a/λ1-b/λ2+c/λ3)-1(5)
其中a、b、c均為正整數(shù),利用合成波長(zhǎng)來(lái)解這個(gè)欠約束方程,進(jìn)而計(jì)算出共相位差ξ。
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