[發明專利]集成電路測試裝置有效
| 申請號： | 201711033633.2 | 申請日： | 2017-10-30 |
| 公開（公告）號： | CN109725245B | 公開（公告）日： | 2021-10-08 |
| 發明（設計）人： | 陳柏霖;郭俊儀;陳瑩晏 | 申請（專利權）人： | 瑞昱半導體股份有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/28 | 分類號： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 隆天知識產權代理有限公司 72003 | 代理人： | 李昕巍;章侃銥 |
| 地址： | 中國臺*** | 國省代碼： | 臺灣;71 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 集成電路 測試 裝置 | ||
1.一種集成電路測試裝置，包含：
一芯片時脈控制器，用來依據一輸入時脈產生一輸出時脈，其中該輸出時脈是被用來測試一受測電路，且該受測電路是包含于該集成電路測試裝置中；以及
一時脈選擇電路，用來依據多個時脈的其中之一產生該輸入時脈，該多個時脈包含一芯片時脈與一穩定時脈，或者該多個時脈包含二個不同的芯片時脈；
一時脈觀察電路，用來依據該輸出時脈產生一除頻時脈，該除頻時脈被輸出至一測試機臺或者該除頻時脈被取樣后與一默認值進行比較，以判斷該輸出時脈的頻率是否符合一頻率設定。
2.如權利要求1所述的集成電路測試裝置，其中該多個時脈包含該二個不同的芯片時脈，該時脈選擇電路先選擇該二個不同的芯片時脈的其中之一作為該輸入時脈，并于該輸出時脈所關聯的一測試狀態為異常后，選擇該二個不同的芯片時脈的另一個作為該輸入時脈。
3.如權利要求1所述的集成電路測試裝置，其中該多個時脈包含該芯片時脈與該穩定時脈，該時脈選擇電路先選擇該芯片時脈作為該輸入時脈，并于該輸出時脈所關聯的一測試狀態為異常后，選擇該穩定時脈作為該輸入時脈。
4.如權利要求1所述的集成電路測試裝置，其中該時脈選擇電路包含：
一選擇電路，用來選擇該多個時脈的其中之一作為一選擇時脈；以及
一除頻電路，用來對該選擇時脈進行除頻以產生一除頻時脈，
其中該時脈選擇電路先輸出該選擇時脈作為該輸入時脈，并于該輸出時脈所關聯的一測試狀態為異常后，輸出該除頻時脈作為該輸入時脈。
5.如權利要求1所述的集成電路測試裝置，其中該穩定時脈是來自該測試機臺。
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