[發(fā)明專利]透射電鏡樣品桿桿頭及應(yīng)用其的透射電鏡樣品桿有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201711032623.7 | 申請(qǐng)日: | 2017-10-27 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN109725005B | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-07-27 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 王志偉;陳選羽;其他發(fā)明人請(qǐng)求不公開(kāi)姓名 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 北京納米能源與系統(tǒng)研究所 |
| 主分類號(hào): | G01N23/02 | 分類號(hào): | G01N23/02 |
| 代理公司: | 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 11021 | 代理人: | 任巖 |
| 地址: | 101400 北京市*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 透射 樣品 桿桿頭 應(yīng)用 | ||
透射電鏡樣品桿桿頭及應(yīng)用其的樣品桿,其中透射電鏡樣品桿桿頭包括:摩擦發(fā)電機(jī)和電荷激勵(lì)組件,其中:摩擦發(fā)電機(jī)用于產(chǎn)生電荷;電荷激勵(lì)組件用于接收電荷以向放置于其中的樣品提供激勵(lì)電能。透射電鏡樣品桿包括:透射電鏡樣品桿桿身,以及至少一個(gè)上述的透射電鏡樣品桿桿頭;其中,透射電鏡樣品桿桿身與透射電鏡樣品桿桿頭通過(guò)螺栓、微型法蘭等連接;透射電鏡樣品桿桿頭根據(jù)實(shí)驗(yàn)方式能夠替換為壓電陶瓷電機(jī)驅(qū)動(dòng)或流體驅(qū)動(dòng)摩擦起電的桿頭。因此本公開(kāi)提出的樣品桿,可實(shí)現(xiàn)摩擦發(fā)電機(jī)摩擦層材料和樣品材料的研究,觀測(cè)有電荷與無(wú)電荷輸出情況下摩擦層材料的結(jié)構(gòu)、形貌和電子態(tài)的變化,以及樣品在常規(guī)和電激勵(lì)情況下的結(jié)構(gòu)、形貌、電子態(tài)特征。
技術(shù)領(lǐng)域
本公開(kāi)屬于透射電子顯微鏡配件及納米材料原位研究領(lǐng)域,更具體地涉及一種透射電鏡樣品桿桿頭及應(yīng)用其的透射電鏡樣品桿。
背景技術(shù)
原位透射電鏡樣品桿的出現(xiàn)極大地拓寬了透射電子顯微鏡的研究領(lǐng)域,摩擦發(fā)電機(jī)的公開(kāi)和發(fā)展為綠色能源提供了光明前景,為微量能源特別是低頻能源的收集及利用提供可能,但是現(xiàn)在缺少一種原位手段,將摩擦發(fā)電機(jī)的摩擦層在工作過(guò)程中的變化機(jī)理研究清楚。
目前商業(yè)化的透射電鏡樣品桿可以為樣品提供偏壓,并且對(duì)樣品進(jìn)行電學(xué)激勵(lì)。原位的氣、液體環(huán)境樣品桿可以研究氣體、液體環(huán)境下(包括施加電場(chǎng)情況)樣品的各種變化,還可以原位研究合成、催化反應(yīng)過(guò)程。另外,利用常規(guī)的透射電鏡也可以對(duì)摩擦發(fā)電機(jī)摩擦層的材料和電極進(jìn)行獨(dú)立研究。但是,現(xiàn)有的樣品桿在原位下,存在以下缺陷:1、現(xiàn)有的樣品桿,通常都是通過(guò)外接電路向樣品提供偏壓,因此不能精確控制施加到樣品上的電荷量,從而對(duì)樣品的激勵(lì)和檢測(cè)靈敏度不高;2、現(xiàn)有的樣品桿,做不到利用透射電鏡原位研究摩擦發(fā)電機(jī)摩擦層和電極材料結(jié)構(gòu)、形貌;并且做不到揭示摩擦發(fā)電機(jī)摩擦層在帶電荷與電荷輸出情況下的材料的結(jié)構(gòu)、形貌、電子態(tài)變化;3、現(xiàn)在的樣品桿的桿頭桿身一般都是一體的,實(shí)驗(yàn)過(guò)程中如果要利用其它的手段進(jìn)行原位實(shí)驗(yàn)就需要購(gòu)置新的樣品桿。
公開(kāi)內(nèi)容
基于以上問(wèn)題,本公開(kāi)的主要目的在于提出一種透射電鏡樣品桿桿頭及應(yīng)用其的透射電鏡樣品桿,用于解決以上技術(shù)問(wèn)題的至少之一。
為了實(shí)現(xiàn)上述目的,作為本公開(kāi)的一個(gè)方面,本公開(kāi)提出一種透射電鏡樣品桿桿頭,包括摩擦發(fā)電機(jī)和電荷激勵(lì)組件,其中:摩擦發(fā)電機(jī),用于產(chǎn)生電荷;電荷激勵(lì)組件,用于接收電荷以向放置于其中的樣品提供激勵(lì)電能。
在本公開(kāi)的一些實(shí)施例中,上述摩擦發(fā)電機(jī)包括:相對(duì)設(shè)置的第一摩擦層和第二摩擦層;設(shè)置于第一摩擦層遠(yuǎn)離所述第二摩擦層一側(cè)的第一電極層;設(shè)置于第二摩擦層遠(yuǎn)離所述第一摩擦層一側(cè)的第二電極層;其中,兩個(gè)電極層通過(guò)導(dǎo)線連接至放置于電荷激勵(lì)組件的樣品兩側(cè),用于將電荷傳導(dǎo)至電荷激勵(lì)組件,以向樣品提供激勵(lì)電能。
在本公開(kāi)的一些實(shí)施例中,上述第一摩擦層與第一電極層的總寬度、第二摩擦層與第二電極層在垂直于電子束方向的總寬度為200nm~1.5mm。
在本公開(kāi)的一些實(shí)施例中,上述第一摩擦層和第二摩擦層通過(guò)滑動(dòng)摩擦產(chǎn)生電荷;或者第一摩擦層和第二摩擦層通過(guò)接觸/分離狀態(tài)的改變產(chǎn)生電荷。
在本公開(kāi)的一些實(shí)施例中,上述摩擦發(fā)電機(jī)包括單電極模式,即第一電極層和第二電極層的其中之一通過(guò)透射電鏡樣品桿接地。
在本公開(kāi)的一些實(shí)施例中,上述第一摩擦層或第二摩擦層的摩擦面與電子束方向平行,電子束可透過(guò)第一摩擦層和第二摩擦層中的任一;優(yōu)選地,第一摩擦層和/或第二摩擦層為可更換結(jié)構(gòu)。
在本公開(kāi)的一些實(shí)施例中,上述第一摩擦層和/或第二摩擦層沿電子束方向的厚度小于100nm。
在本公開(kāi)的一些實(shí)施例中,上述第一摩擦層和第二摩擦層的其中之一固定;透射電鏡樣品桿桿頭還包括:壓電陶瓷電機(jī);以及與該壓電陶瓷電機(jī)的一端相連的驅(qū)動(dòng)探針,用于驅(qū)動(dòng)第一摩擦層和第二摩擦層的其中另一相對(duì)于其中之一滑動(dòng)摩擦或改變接觸/分離狀態(tài)。
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- 同類專利
- 專利分類
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N23-00 利用未包括在G01N 21/00或G01N 22/00組內(nèi)的波或粒子輻射來(lái)測(cè)試或分析材料,例如X射線、中子
G01N23-02 .通過(guò)使輻射透過(guò)材料
G01N23-20 .利用輻射的衍射,例如,用于測(cè)試晶體結(jié)構(gòu);利用輻射的反射
G01N23-22 .通過(guò)測(cè)量二次發(fā)射
G01N23-221 ..利用活化分析法
G01N23-223 ..通過(guò)用X射線輻照樣品以及測(cè)量X射線熒光
- 在線應(yīng)用平臺(tái)上應(yīng)用間通信的回調(diào)應(yīng)答方法、應(yīng)用及在線應(yīng)用平臺(tái)
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